Optimierung der Auflösung und Empfindlichkeit der Magnetkraftmikroskopie zur Visualisierung nanoskaliger magnetischer Domänen

Die Magnetkraftmikroskopie (MFM) verwendet eine vertikal magnetisierte Rasterkraftmikroskopiesonde, um die Probentopographie und die lokale Magnetfeldstärke mit nanoskaliger Auflösung zu messen. Durch die Balance zwischen abnehmender Hubhöhe und zunehmender Antriebs- oder Schwingungsamplitude kann die räumliche Auflösung und Empfindlichkeit von MFM optimiert werden. Spin-Wave-Computing-Anwendungen von künstlichen Spin-Eisen beruhen auf der Kenntnis der Nanoelement-Magnetisierungstexturen, da sie die magnonische Reaktion bestimmen.

Hochauflösendes MFM ermöglicht die Identifizierung von eisigen globalen Magnetisierungszuständen. Olivia Maryon, eine derzeitige Doktorandin in Materialwissenschaften und Ingenieurwesen an der Boise State University, eine ehemalige AFM-Forscherin für mein Labor, wird das Verfahren demonstrieren. Öffnen Sie zunächst die AFM-Steuerungssoftware und wählen Sie den MFM-Arbeitsbereich unter der Experimentkategorie und -gruppe Electrical Magnetic Lift Modes aus.