Verbesserung der Dichtekarten durch Entfernen der Mehrheit der Partikel in den finalen Stacks der kryogenen Elektronenmikroskopie mit Einzelpartikeln

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May 10th, 2024

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Eine fortschrittliche Partikelauswahlmethode für Kryo-EM, nämlich CryoSieve, verbessert die Auflösung der Dichtekarte, indem sie einen Großteil der Partikel in den endgültigen Stapeln entfernt, wie ihre Anwendung auf einem realen Datensatz zeigt.

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Cryogenic Electron Microscopy

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Introduction

1:43

Configuring and Utilizing CryoSieve for Enhanced Particle Sieving in Cryo‐Electron Microscopy

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