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Artículo de método

In Situ SIMS y espectroscopia IR de superficies bien definidas Preparado por Soft Landing de iones seleccionados-Mass

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DOI:

10.3791/51344

16 de junio de 2014

En este artículo

Resumen

Aterrizaje suave de los iones de masa-seleccionada sobre las superficies es un enfoque poderoso para la preparación altamente controlada de nuevos materiales. Junto con el análisis por espectrometría de masas de iones secundarios situ (SIMS) y espectroscopía de absorción reflexión infrarroja (IRRAS), aterrizaje suave proporciona una visión sin precedentes en las interacciones de las especies bien definidas con las superficies.

Resumen

Aterrizaje suave de los iones de masa-seleccionada sobre las superficies es un enfoque poderoso para la preparación altamente controlada de materiales que son inaccesibles usando técnicas de síntesis convencionales. El acoplamiento de aterrizaje suave con la caracterización in situ utilizando la espectrometría de masas de iones secundarios (SIMS) y espectroscopía de absorción reflexión infrarroja (IRRAS) permite el análisis de superficies bien definidas en condiciones de vacío limpias. Las capacidades de los tres instrumentos de soft-aterrizaje construidas en nuestro laboratorio se ilustran para el sistema representativo de compuestos organometálicos unidos a la superficie preparada por un aterrizaje suave de la masa-seleccionado de rutenio tris (bipiridina) dicationes, [Ru (bpy) 3] 2 + (bpy = bipiridina), sobre ácido carboxílico terminado superficies monocapas auto-ensambladas en el oro (COOH-SAMs). In situ de tiempo de vuelo (TOF)-SIMS da una idea de la reactividad de los iones de soft-terratenientes. Además, la cinética de reducción de carga, de neutralización y deabsorción ocurre en el COOH-SAM, tanto durante como después del aterrizaje suave de iones son estudiados empleando en Fourier situ transformar ion ciclotrón resonancia mediciones (FT-ICR)-SIMS. En IRRAS situ experimentos proporcionan datos sobre cómo la estructura de los ligandos orgánicos que rodean centros metálicos es perturbado a través de la inmovilización de los iones organometálicos sobre COOH-SAM superficies de aterrizaje suave. En conjunto, los tres instrumentos proporcionan información complementaria acerca de la composición química, la reactividad y la estructura de las especies bien definidas apoyados en superficies.

Introducción

Suave aterrizaje de iones en serie seleccionado en superficies sigue siendo un tema de interés en la investigación actual, debido a las capacidades demostradas de la técnica para la preparación altamente controlada de materiales novedosos 1-6. Los esfuerzos recientes han indicado posibles aplicaciones futuras de aterrizaje suave de los iones de masa-seleccionado en la preparación de matrices de péptidos y proteínas para su uso en el cribado de alto rendimiento biológico 7,8, la separación de las proteínas y el enriquecimiento conformacional de péptidos 9-12, unión covalente de péptidos a superficies 9,10,13,14, enriquecimie....

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Protocolo

1. Preparación de Superficies COOH-SAM en el oro de aterrizaje suave de iones seleccionados-Mass

  1. Obtener sustratos de oro planas en silicio (Si) o soportes de mica. Alternativamente, preparar películas de oro sobre el Si o superficies de mica de acuerdo con los procedimientos descritos en la literatura 118.119. Nota: Utilice las superficies que tienen las siguientes especificaciones: 1 cm 2 o circular y 5 mm de diámetro, 525 m de espesor capa de Si, 50 capa de adhesión Ti gruesa Å, 1000 Å capa de Au.
  2. Coloque las superficies frescas de oro sobre silicio en viales de centelleo de vidrio y sumergirse en el más puro....

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Resultados

1. Estudio de la reactividad de Ru (bpy) 2 + 3 en COOH-SAM mediante instrumentos in situ TOF-SIMS

Aterrizaje suave de iones organometálicos de masas-seleccionado en funcionalizado SAM se ilustra primero utilizando in situ TOF-SIMS para proporcionar la máxima sensibilidad hacia la detección de aductos formados entre los iones depositados y las moléculas individuales en las monocapas así como cualquiera de los productos de las reacciones químicas .......

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Discusión

Suave aterrizaje de iones en serie seleccionada se realiza generalmente empleando instrumentos a la medida única que existe en varios laboratorios de todo el mundo que están especialmente equipadas para estos experimentos. Las modificaciones se están haciendo constantemente a estos instrumentos para facilitar la ionización de una gama más amplia de compuestos, para lograr las corrientes de iones más grandes y los tiempos de deposición más cortos, para multiplexar aterrizaje suave y de ese modo lograr la deposición simul.......

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Divulgaciones

Los autores no tienen nada que revelar.

Agradecimientos

Esta investigación fue financiada por la Oficina de Ciencias Básicas de Energía, División de Ciencias Químicas, Geociencias y Biociencias del Departamento de Energía de EE.UU. (DOE). UGE reconoce el apoyo del Programa de Laboratorio de Investigación Dirigida y Desarrollo en el Laboratorio Nacional del Pacífico Noroeste (PNNL) Linus Pauling de Becas y. Este trabajo se realizó con EMSL, un centro nacional de usuarios científica patrocinada por el Departamento de la Oficina de Investigación Biológica y Ambiental de la Energía y ubicado en PNNL. PNNL es operado por Battelle para el Departamento de Energía EE.UU..

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Materiales

Lista de materiales utilizados en este artículo
NombreEmpresaNúmero de catálogoComentarios
Oro sobre sustratos de silicona 1 cm2Platypus TechnologiesAu.1000.SL1custom 
Oro sobre sustratos de silicona 4,8 mm de diámetro circularSPI Supplies4176GSW-AB 
Viales de centelleo de vidrioFisher Scientific03-337-14 
Etanol no desnaturalizadoSigma-Aldrich459836-1L 
Limpiador ultravioletaBoekel Scientific 
Ácido 16-mercaptohexadecanoicoSigma-Aldrich448303-5G 
Ácido clorhídricoSigma-Aldrich320331-500ML 
Papelde aluminio Sigma-AldrichZ185140-1EA 
Pinzas/pinzas metálicasWiha49185 
Guantes de nitriloFisher ScientificS66383 
Tris(2,2′-bipiridina)diclororutenio(II) hexahidratoSigma-Aldrich224758-1G 
MetanolSigma-Aldrich322415-1L 
1 ml Jeringa de vidrio hermético al gasHamilton 
Bomba de jeringaKD Scientific100 
360 μ m ID Capilar de sílice fundidaPolymicro TechnologiesTSP075375 
Electrómetro de alta resistenciaKeithley6517A 
Comercial TOF-SIMS InstrumentoElectrónica FísicaTRIFT 
Oxígeno de ultra alta purezaMathesonG1979175 
Investigación PurezaEtileno MathesonG2250178 
Laboratorios de olas de calor con fuente deiones de cesio101502 
Espectrómetro FTIR comercialBrukerVertex 70 

Referencias

  1. Gologan, B., Green, J. R., Alvarez, J., Laskin, J., Cooks, R. G. Ion/surface reactions and ion soft-landing. Physical Chemistry Chemical Physics. 7, 1490-1500 (2005).
  2. Perez, A., et al. Functional nanostructures from clusters. Int J Nanotechnol. 7, 523-574 (2010).

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Reimpresiones y permisos

Etiquetas

An lisis de superficiesiones organomet licosmonocapa autoensambladaSIMS tiempo de vueloFT ICR SIMSespectroscop a de absorci n por reflexi n infrarroja