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Artículo de método

Caracterización de Emisiones láser infrarrojo lejano y la medición de sus frecuencias

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DOI:

10.3791/53399

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18 de diciembre de 2015

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En este artículo

Resumen

Describimos la generación de radiación infrarroja lejana utilizando un láser molecular bombeado ópticamente junto con la medición de sus frecuencias con técnicas heterodinas. El sistema experimental y las técnicas se demuestran utilizando difluorometano (CH2F2) como medio láser, cuyos resultados incluyen tres nuevas emisiones láser y ocho frecuencias láser medidas.

Resumen

La generación y la posterior medición de la radiación de infrarrojo lejano ha encontrado numerosas aplicaciones en alta resolución de la espectroscopia, la radioastronomía y las imágenes Terahertz. Durante unos 45 años, la generación de radiación coherente, de infrarrojo lejano se ha logrado usando el láser bombeado ópticamente molecular. Una vez que se detecta la radiación láser de infrarrojo lejano, las frecuencias de estas emisiones láser se miden utilizando una técnica heterodina de tres láser. Con esta técnica, la frecuencia desconocido del láser bombeado ópticamente molecular se mezcla con la diferencia de frecuencia entre dos frecuencias de referencia, infrarrojos estabilizadas. Estas frecuencias de referencia son generados por los láseres de dióxido de carbono independientes, cada uno estabilizado utilizando la señal de fluorescencia de una, célula de referencia de baja presión externa. El ritmo resultante entre las frecuencias de láser conocidos y desconocidos se controla mediante un punto de contacto detector de diodo metal-aislante-metal cuya salida se observa en un specanalizador trum. La frecuencia de batido entre estas emisiones láser se mide y se combina con las frecuencias de referencia conocidos para extrapolar la frecuencia del láser de infrarrojo lejano desconocido posteriormente. El sigma-incertidumbre fraccionada resultante para frecuencias láser medido con esta técnica es de ± 5 partes en 10 7. Determinar con precisión la frecuencia de las emisiones de láser de infrarrojo lejano es crítico ya que se utilizan a menudo como una referencia para otras mediciones, como en el alto investigaciones espectroscópicas -Resolución de radicales libres utilizando resonancia magnética láser. Como parte de esta investigación, difluorometano, CH 2 F 2, fue utilizado como el medio de láser infrarrojo lejano. En total, se midieron ocho frecuencias láser de infrarrojo lejano para la primera vez con frecuencias que van desde 0,359 a 1.273 THz. Tres de estas emisiones láser fueron descubiertos durante esta investigación y se reportan con su presión óptima de funcionamiento, la polarización con respecto a las emisiones de CO 2

Introducción

La medición de frecuencias láser infrarrojo lejano se realizó por primera vez por Hocker y compañeros de trabajo en 1967. Se midió las frecuencias para los 311 y 337 m de las emisiones de la descarga directa de láser cianuro de hidrógeno mezclándolos con altos armónicos de orden de una señal de microondas en un diodo de silicio 1. Para medir las frecuencias más altas, una cadena de láser y dispositivos de mezcla de armónicos se utiliza para generar los armónicos láser 2. Eventualmente de dos estabilizada de dióxido de carbono (CO 2) láseres fueron elegidos para sintetizar la diferencia necesaria frecuencias de 3,4. Hoy en d....

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Protocolo

1. Planificación de Experimentos

  1. Llevar a cabo una revisión de la literatura para evaluar el trabajo previo realizado utilizando el medio de láser de interés, que para este experimento es CH 2 F 2. Identificar todas las emisiones láser conocidos, junto con toda la información acerca de las líneas como su longitud de onda y frecuencia. Varias encuestas de emisiones láser conocidos están disponibles 13,31 - 37.
  2. Compilar todas las investigaciones espectroscópicas de la molécula utilizada como medio de láser con un enfoque de Fourier antes transforman 34 y optoacústica estudios 38....

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Resultados

Como se ha mencionado, la frecuencia informado para una emisión de láser infrarrojo lejano es un promedio de al menos doce mediciones realizadas con al menos dos conjuntos diferentes de CO líneas de láser 2 de referencia. La Tabla 2 resume los datos registrados para la emisión 235,5 micras de láser cuando se utiliza el 9 P 04 CO 2 láser de bombeo. Por esta emisión láser de infrarrojo lejano, se registraron catorce mediciones individuales de la frecuencia de batido. El prim.......

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Discusión

Hay varios pasos críticos en el protocolo que requiere alguna discusión adicional. Cuando se mide la longitud de onda de láser de infrarrojo lejano, como se indica en el paso 2.5.3, es importante para garantizar el mismo modo de la emisión láser de infrarrojo lejano se está utilizando. Múltiples modos de una longitud de onda de láser de infrarrojo lejano (es decir, TEM 00, TEM 01, etc.) pueden ser generados dentro de la cavidad láser y por lo tanto es importante identificar los modos de la.......

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Divulgaciones

En este documento se identifican ciertos equipos comerciales para fomentar la comprensión. Dicha identificación no implica recomendación o respaldo por parte de los autores, ni implica que el equipo identificado sea necesariamente el mejor disponible para el propósito.

Agradecimientos

Este trabajo fue apoyado en parte por el Washington Space Grant Consortium bajo el Premio NNX10AK64H.

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Materiales

Lista de materiales utilizados en este artículo
NombreEmpresaNúmero de catálogoComentarios
Bomba de vacíoLeyboldTrivac D4AHE-175 aceite; Cantidad = 3
Bomba de vacíoLeyboldTrivac D8B o D16BFomblin Fluid; Cantidad = 1 de cada
bomba de vacíoLeyboldTrivac D25BHE-175 aceite; Cantidad = 1
Cortador óptico con controladorStanford Research SystemsSR540
Amplificador de bloqueoStanford Research SystemsSR830
Analizador de espectroAgilentE4407BESA-E Series, 9 kHz a 26.5 GHz Amplificador analizador de espectro
 MiteqAFS-44Proporciona amplificación de señales entre 2 y 18 GHz. El amplificador está alimentado por una fuente de alimentación de CC de triple salida Hewlett Packard, modelo E3630A.
Amplificador AvantekAWL-1200BProporciona amplificación de señales de menos de 1,2 GHz.
Fuente de alimentaciónHewlett PackardE3630A Fuentede alimentación DC de bajo voltaje para amplificador.
Fuente de alimentaciónGlassmanKL SeriesFuente de alimentación de alto voltaje para los láseres CO2; Cantidad = 2; polaridad negativa
Fuente de alimentaciónFluke412BFuente de alimentación de alto voltaje utilizada con el detector de amplificador de HV asimétrico del NIST
Judson Infrared IncJ10DPara celda de fluorescencia; Cantidad = 2
CO2 analizador de espectro láserOptical Engineering 16-AActualmente vendido por Macken Instruments Inc.
Placas termográficas con luz ultravioletaOptical Engineering Se utiliza principalmente para alinear los láseres de referencia CO2. Actualmente vendido por Macken Instruments Inc.
ResistenciasOhmite L225J100K100 kW, 225 W. Se utilizan entre 4 y 6 resistencias en cada sistema de balasto. Cada láser CO2 tiene su propio sistema de lastre. Los ventiladores se utilizan para enfriar las resistencias.
Relé de alta tensión, SPDTCII TechnologiesH-17Cantidad = 3; uno para cada 2
láser Amplificador Princeton Applied ResearchPAR 113Utilizado con célula de fluorescencia; Cantidad = 2
OsciloscopioTektronix2235ATambién se utilizan modelos similares; Cantidad = 2
Osciloscopio/Amplificador diferencialOsciloscopio Tektronix7903 con amplificador diferencial 7A22 Medidor de
potencia con sensorCoherent200Para uso inferior a 10 W. Este es el medidor de potencia que se muestra en la Figura 2.
Medidor de potencia con sensorScientech, IncVector S310Para uso por debajo de 30 W
MultímetroFluke73IIITambién se utilizan modelos similares; Cantidad = 3
Adquisición de datosInstrumentsNI cDAQ 9174 con módulo de entrada NI 9223Utiliza el software LabVIEW
Pulido SimichromeHappich GmbHPulido para la base de níquel utilizada en el detector de diodos MIM. Aunque la base de níquel se puede usar inmediatamente después del pulido, generalmente se recomienda un tiempo de entrega de 12 horas.
ManómetroWallace and Tiernan61C-1D-0050Serie 300; para láser CO2; Cantidad = 3
Manómetro con controladorGranville PhillipsSerie 375Para láser de infrarrojo lejano
Fieltro de óxido de circonioZircar Fieltro ZirconiaZYFUtilizado como tope
de haz Tablero de óxido de circonioZircar TableroZYZ-3Utilizado como tope de haz; Cantidad = 4
Lámina de teflónScientific Commodities, IncBB96312-1248 1/32 de pulgada de grosor; utilizado para la ventana de salida del láser de infrarrojo lejano
Protectores de lámina depolipropileno61003utilizado para la ventana de salida del láser de infrarrojo lejano
Grasa de vacíoApiezon
Fuente de alimentaciónKepcoNTC 2000PZT Tubo
PZTMorgan Advanced Materials1 pulgada de largo, 1 pulgada de diámetro exterior, 0,062 pulgadas de grosor, polaridad inversa (voltaje positivo en el exterior); Cantidad = 3
ZnSe (recubierto de AR)II-VI IncCO2 ventana láser (Cantidad = 3), lente y divisor de haz (Cantidad 3)
Ventana de NaClEdmond OpticsCantidad = 1
ventana CaFEdmond OpticsCantidad = 2
Espejos y rejillas láserHyperfine, IncRecubiertos de oro; Incluye espejos de posicionamiento
Tubos láser de vidrio y celdas de referenciaAllen Scientific Detector
Custom Microwave, Inc
Otrosotros materiales incluyen bases magnéticas, placas base, abrazaderas de base, etapa de traducción XYZ, etc.
Chasis National C-Line de diodos MIM de vidrio

Referencias

  1. Hocker, L. O., Javan, A., Ramachandra Rao, D., Frenkel, L., Sullivan, T. Absolute frequency measurement and spectroscopy of gas laser transitions in the far infrared. Appl. Phys. Lett. 10 (5), 147-149 (1967).
  2. Wells, J. S., Evenson, K. M., Day, G. W., Halford, D. Role of inf....

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