Selección de materiales
Se utilizó nanopartículas de α-alúmina como relleno cerámico. Según las especificaciones del fabricante, el polvo tiene un tamaño de grano de aproximadamente 40 nm, determinado por ensanchamiento de líneas de rayos X, un tamaño promedio de partícula (APS) de 150 nm, determinado por el área superficial específica BET y microscopía electrónica de barrido (SEM), y un área superficial específica multipunto BET de aproximadamente 10 m2/g. Basado en estudios previos sobre la dispersión de partículas en sistemas fotopoliméricos y epoxi reforzados32, se encontró que cargas muy bajas de alúmina (por ejemplo, 5 % en volumen) producían una respuesta fotoluminiscente débil y una mala dispersión de partículas, lo que las hacía inadecuadas para la detección óptico-mecánica de tensiones, mientras que cargas más altas (por ejemplo, 20 % en volumen) producían un aumento significativo en la viscosidad que dificultaba la inyección y mezcla uniforme de la mezcla, a pesar de proporcionar una señal más fuerte. Por lo tanto, se seleccionó una concentración de 15 % en volumen de alúmina como un compromiso entre la facilidad de fabricación, el rendimiento del sensor y la calidad de la dispersión.
Configuración experimental
Configuración del sistema portátil de piezoespectroscopía (PPS)
Los experimentos de PL utilizaron un sistema portátil de piezo-espectroscopía (PPS) desarrollado previamente, que consta de una sonda Raman de InPhotonics Inc. RPB, una sonda compacta de fibra óptica de dos vías que incorpora un espejo dicróico y una lente objetivo personalizada f/333,34. El sistema PPS completo incluye componentes tanto de hardware como de software. El hardware consta de un espectrógrafo, un dispositivo de carga acoplada (CCD), un láser, fibra óptica y un ordenador33,34. En cuanto al software, se utilizan dos programas principales: MATLAB y LightField. Los programas basados en MATLAB se emplean principalmente para el postprocesamiento de datos, mientras que LightField se utiliza para recopilar los datos del CCD. Figura 1 muestra la configuración experimental completa para ambas condiciones de curado junto con el principio de medición subyacente, ilustrando las configuraciones con contacto (molde) y sin contenedor (levitación acústica) (Figura 1A y Figura 1B), el esfuerzo compresivo generado en las partículas de alúmina al solidificarse la resina (Figura 1C) y el correspondiente desplazamiento del pico de fotoluminiscencia utilizado como indicador de dicho esfuerzo (Figura 1D). En la configuración con contenedor, el soporte del molde se colocó en la misma posición que el centro del campo de levitación acústica, para mantener una geometría consistente entre ambas configuraciones. La unidad de LED UV (longitud de onda de 405 nm, potencia nominal de 10 W, carcasa con clasificación IP66) se colocó a una distancia de 6 cm de la muestra, y la sonda de fibra óptica se dirigió hacia la muestra para recopilar continuamente la señal de fotoluminiscencia durante el curado. El LED UV se colocó de forma que evitara la iluminación directa de la sonda de fibra óptica, previniendo así daños en la fibra. Los picos de fotoluminiscencia de la alúmina se registraron a lo largo del tiempo durante el curado UV, y los desplazamientos de los picos se monitorearon como se muestra en Figura 1D. Durante la fotopolimerización, la resina se solidifica alrededor de las partículas de alúmina incrustadas y experimenta una contracción por polimerización, generando un esfuerzo compresivo local que se transfiere a las partículas de alúmina (Figura 1C), provocando un desplazamiento del pico de fotoluminiscencia desde su posición inicial libre de esfuerzos. Las posiciones de los picos se extrajeron posteriormente mediante LightField, y el desplazamiento del pico se calculó en MATLAB comparando cada posición del pico con la posición inicial antes de la exposición al UV.
Configuración de difracción de rayos X con sincrotrón
Las mediciones de difracción de rayos X con sincrotrón (DRX) se realizaron in situ durante el proceso de curado en la línea de luz 6-ID-D de la Fuente Avanzada de Fotones en el Laboratorio Nacional Argonne, EE. UU. Figura 2 presenta el montaje de DRX con sincrotrón para las condiciones con contacto y sin recipiente, junto con el principio de medición que muestra cómo el estrés inducido por el curado altera el espaciado de la red de alúmina para producir un desplazamiento de pico detectable (Figura 2A–C).

Figura 2. Configuración de difracción de rayos X de sincrotrón y principio de medición para el curado con contacto y sin recipiente. (A) Condición con contacto, con la resina colocada en un molde durante el curado por UV y la recopilación de XRD. (B) Condición sin recipiente, con la gota de resina suspendida en el campo de levitación acústica durante el curado por UV y la recopilación de XRD. (C) El estrés inducido por el curado cambia el espaciado de la red de alúmina, provocando un desplazamiento del pico de XRD que se utiliza para calcular la deformación durante la solidificación. Haga clic aquí para ver una versión más grande de esta figura.
La muestra fue irradiada con un haz paralelo de fotones de 90,5 keV (que corresponde a una longitud de onda de λ = 0,137 ˚A) con dimensiones aproximadas de 0,5 × 0,5 mm, posicionado aproximadamente en el centro de la muestra, como se muestra en Figura 2A,B. La distancia entre la muestra y el detector se estableció en aproximadamente 1,5 m para capturar los picos de interés del óxido de aluminio. Se registraron patrones de difracción en forma de anillos en un detector plano Varex XRD 4343RF (matriz de 2880 × 2880 píxeles, paso de píxel de 150 µm) capaz de imágenes en tiempo real de alta velocidad a hasta 15 fps. Los datos se recopilaron durante un tiempo total de adquisición de 600 s por experimento.
Al igual que con el montaje de PPS, las mediciones se realizaron tanto en condiciones con contacto como sin recipiente (Figura 2A,B). El LED UV se colocó a 6 cm de la muestra, de forma consistente con la configuración de PPS, y el molde y la muestra levitada se posicionaron en el mismo lugar de medición para mantener la coherencia geométrica. Todo el ensamblaje del aparato se montó sobre una etapa lineal para permitir el alineamiento, según fuera necesario, de la muestra en contacto o de la esfera levitada con la línea de haces. Luego, se monitorearon los desplazamientos de los picos de DRX a lo largo del tiempo durante el curado por UV (Figura 2C), ya que el estrés inducido por el curado que se transfiere a las partículas de alúmina embebidas produce un cambio medible en el espaciado reticular.
Preparación de la muestra
El polvo de alúmina se mezcló al 15 % en volumen con resina líquida en un vaso de precipitados/contenedor de mezcla y se agitó con una varilla de agitación para favorecer una dispersión homogénea de las partículas de alúmina, como se ilustra en Figure 3A.

Figura 3. Flujo de trabajo para la preparación de muestras, dispensación y medición in situ. (A) Se mezcla polvo de alúmina y resina líquida para preparar una suspensión homogénea de nanocompósito. (B) La suspensión preparada se dispensa en el campo de levitación acústica para formar una perla sin recipiente o en el molde de silicona para la condición con contacto. (C) Se realizan mediciones de PL y XRD con sincrotrón para ambas condiciones de curado, con y sin recipiente, con el fin de comparar los cambios espectrales que reflejan el estrés residual y la evolución estructural. Haga clic aquí para ver una versión más grande de esta figura.
La formulación de la suspensión nanocompuesta se mantuvo sobre un agitador magnético durante todo el experimento para mantener bien dispersas las partículas de alúmina. Una vez dispersa, la suspensión se cargó en una jeringa dispensadora en preparación para la entrega de la muestra, como se muestra en Figura 3A. Antes de cada experimento, la suspensión preparada se cargó en una jeringa para dispensarla en el campo de levitación acústica o en el molde de silicona.
Dispensación de muestras y levitación controlada
Para la condición de levitación acústica (sin contenedor), se localizó previamente la región del nodo acústico antes de dispensar. La jeringa cargada se sostuvo aproximadamente a 45° con respecto al plano del suelo (Figura 3B), y la suspensión se inyectó lentamente en el levitador hasta lograr una forma estable de gota elipsoidal dentro del campo acústico, con un volumen inicial de gota dispensada de aproximadamente 5–7 µL, ajustado según fuera necesario dependiendo de las condiciones del campo acústico requeridas para mantener una gota estable. Tras una inyección exitosa, la amplitud en el software de levitación se ajustó para estabilizar la gota.
Se utilizaron dos configuraciones diferentes de levitadores acústicos, de un solo eje y de doble eje, del mismo fabricante, dependiendo de la modalidad de medición. Ambas configuraciones funcionaron a una frecuencia resonante automáticamente calibrada de aproximadamente 22 400–22 450 Hz al activarse, con la frecuencia de operación fijada por la calibración automática del dispositivo y no ajustada manualmente. Para experimentos de DRX con sincrotrón en el Laboratorio Nacional Argonne (ANL), se empleó una configuración de un solo eje, compuesta por un transductor ultrasónico colocado encima de un reflector, con la separación entre transductor y reflector fija según la configuración estándar del fabricante del levitador. Para experimentos de PPS, se utilizó una configuración de doble eje, compuesta por dos transductores ultrasónicos opuestos (superior e inferior), con la separación entre transductores igualmente fija según la configuración estándar del fabricante.
En ambas configuraciones, la ubicación del nodo acústico y la posición del espécimen dentro del campo se mantuvieron consistentes entre espécimenes replicados dentro de una sesión: la posición del primer espécimen dispensado se estableció utilizando la guía láser de alineación, y los espécimenes subsiguientes se dispensaron en esa misma posición de referencia, de modo que no fue necesario reajustar el enfoque del haz ni de la sonda para cada espécimen nuevo.
Para el sistema de eje único de XRD, la amplitud se incrementó hasta que el tono acústico emitido por el levitador fuera audible, momento en el cual la suspensión se inyectó mediante jeringa en el nodo. Luego, la amplitud se ajustó para mantener una levitación estable.
Para el sistema dual de ejes PPS, las amplitudes del transductor superior e inferior se ajustaron independientemente mediante el software hasta que la perla quedó atrapada de forma estable, y no se volvieron a ajustar activamente durante el resto de un ciclo de curado determinado.
En ambas configuraciones, la condición de levitación se consideró aceptable cuando el movimiento del gránulo alrededor del nodo no desplazaba la muestra fuera del enfoque del haz de medición: para la DRX, se requería que el gránulo permaneciera alineado dentro de la huella del haz de rayos X de aproximadamente 500 µm en el punto de medición (véase Configuración de Difracción de Rayos X de Sincrotrón); para el SPP, se requería que el gránulo permaneciera dentro del punto focal de la sonda de fibra óptica, lo cual se confirmaba mediante la detección continua de un pico bien definido y claro de fotoluminiscencia de alúmina en el software de adquisición en tiempo real.
Para la condición con contacto (molde de silicona), la suspensión se dispensó directamente en el molde utilizando la jeringa cargada, tal como se ilustra en la Figura 3B. La cavidad del molde medía 3 × 3 × 2 mm, y la suspensión se dispensó hasta llenar completamente el volumen del molde (~10,5 μL). Se eliminó el exceso de suspensión de la superficie del molde, y luego se cubrió el molde con una cubeta de vidrio. Posteriormente, se realizaron experimentos de PL y XRD para las condiciones sin recipiente y con contacto, como se muestra en la Figura 3C. Cada experimento se repitió para garantizar comparabilidad y reproducibilidad.
In situ recolección de datos
Espectroscopía de fotoluminiscencia
Después de colocar la muestra en el campo de levitación acústica o en el molde, se encendió el láser; durante todas las operaciones con láser se usaron gafas de protección. El punto focal se optimizó mediante el software LightField para identificar la señal más intensa, confirmada visualmente como el punto láser más pequeño y brillante sobre la muestra. La recopilación del pico de fotoluminiscencia de alúmina comenzó antes de la exposición al UV, adquiriendo picos cada 0,5 s. Tras 5 s de recopilación de la línea base previa al UV, se activó el LED de UV y la recopilación de datos continuó durante 5 min para asegurar la curación completa de la muestra. Tras la curación, se apagó el LED de UV. En la condición sin contenedor, la gota curada se recuperó en un recipiente; en la condición con contacto, la muestra curada se retiró del molde de silicona con pinzas. Se evitó todo contacto directo con las muestras durante el procedimiento para prevenir contaminación e irritación cutánea.
Difracción de rayos X de sincrotrón
Después de colocar la muestra, el haz de rayos X se alineó con el centro de la muestra: el centro de la perla levitada para la condición sin recipiente y el centro de la muestra dentro del molde para la condición con contacto. La cabina experimental se cerró antes de activar el haz de rayos X. El haz de rayos X y el LED UV se encendieron simultáneamente, y se recopilaron datos de difracción durante todo el proceso de curado UV. La recopilación de datos continuó hasta que la muestra se curó completamente; en este estudio, los datos se recopilaron durante 10 min para capturar todo el rango de interés. Después del curado, el LED UV y el haz de rayos X se apagaron, y las muestras se recolectaron como se describió para el montaje de espectroscopía, evitando el contacto directo para prevenir contaminación e irritación de la piel.
Análisis de datos
Método de ajuste del pico de fotoluminiscencia
Los espectros de fotoluminiscencia crudos que contienen los picos R1 y R2 de la alúmina (Figura 4A) se extrajeron del conjunto de datos completo de curado e importaron a MATLAB para el postprocesamiento.

Figura 4. Flujo de trabajo para el análisis de datos de mediciones de PL y XRD de sincrotrón. (A) Los espectros de PL se procesan mediante la eliminación del fondo y el ajuste con función pseudo-Voigt de los picos R1 y R2 de la alúmina para extraer las posiciones de los picos durante el curado. (B) Los anillos de difracción de XRD de sincrotrón se transforman e integran en un perfil de difracción unidimensional, seguido del ajuste con función pseudo-Voigt del pico (116) de la alúmina para extraer la posición del pico y calcular la deformación inducida por el curado. Haga clic aquí para ver una versión más grande de esta figura.
Se eliminó el ruido de fondo de cada espectro, y se corrigió la línea base inclinada para alinearla aproximadamente con el eje x. Se aplicó un ajuste pseudo-Voigt a los picos de fotoluminiscencia de la alúmina para ajustar con precisión los picos R1 y R235. Los picos se ajustaron utilizando un algoritmo de optimización no lineal restringido (fmincon) a una función pseudo-Voigt, con el área, la posición central, la anchura a mitad de altura (FWHM) y un factor de forma (0 = Gaussiana pura, 1 = Lorentziana pura) como los cuatro parámetros libres por pico (R1 y R2). Se restó de cada espectro un fondo lineal, ajustado a la intensidad bruta a 14300 y 14500 cm⁻1, antes del ajuste. Las estimaciones iniciales de los parámetros se obtuvieron directamente de cada espectro suavizado y corregido en la línea base, y los límites del ajuste se establecieron como un rango porcentual alrededor de cada estimación inicial (área: 50–150 %; FWHM: 60–180 %). La calidad del ajuste se evaluó utilizando el error cuadrático medio normalizado (NRMSE). Las posiciones ajustadas de los picos se extrajeron en cada punto temporal durante todo el proceso de curado, y los desplazamientos de los picos se calcularon comparando cada posición ajustada con el valor inicial previo a la exposición a UV.
Método de ajuste de picos de XRD
Las imágenes de difracción bidimensionales se importaron al software de procesamiento de XRD o a MATLAB para su análisis. Los datos de XRD pueden analizarse para obtener información sobre la deformación del material36,37,38. Se identificaron los anillos de difracción provenientes de las partículas de alúmina (Figura 4B), y se seleccionó el anillo correspondiente al pico (116) de alúmina en función de su claridad, para rastrear los cambios en el espaciado reticular. La identificación directa de los anillos en la imagen de difracción 2D en esta etapa sirvió como una verificación cualitativa de la calidad de los datos antes de la integración, confirmando anillos completos y continuos (lo que indica una iluminación uniforme de la muestra y la ausencia de recorte del haz), alineación correcta del detector y posición central adecuada, así como la ausencia de dispersión parásita o características espurias que pudieran distorsionar el perfil integrado. Una vez confirmada la calidad del anillo, el anillo seleccionado se transformó en una imagen transformada azimutalmente e integró sobre todo el rango azimutal de 360° para obtener un perfil de difracción unidimensional, que luego se utilizó para el ajuste cuantitativo de la posición del pico con el fin de extraer el espaciado d y calcular la deformación inducida por el curado. El pico (116) de alúmina en el perfil integrado se ajustó con una función pseudo-Voigt para determinar la posición del pico, y luego se extrajo en cada cuadro de difracción durante el curado. Los picos se ajustaron utilizando un algoritmo no lineal de mínimos cuadrados (lsqnonlin) a una función pseudo-Voigt, con la intensidad, la posición central, el ancho (FWHM) y la forma (relación gaussiana a lorentziana) como parámetros de ajuste. Se restó un fondo lineal de cada espectro antes del ajuste. Los ajustes se realizaron con restricciones acotadas y una tolerancia de convergencia de 10⁻4. El cambio en el espaciado reticular se calculó a partir de las posiciones ajustadas del pico utilizando la ley de Bragg:

donde d es la distancia interplanar, n es el orden de difracción, λ es la longitud de onda de rayos X y θ es el ángulo de Bragg. Para una comparación directa con los patrones de difracción de referencia estándar de alúmina, que convencionalmente se indexan utilizando radiación Cu Ka, las distancias interplanares medidas se utilizaron adicionalmente para calcular un valor equivalente de 2θ correspondiente a la radiación Cu Ka (λ = 1,54056 Å) mediante la ley de Bragg. Para el eje del ángulo de difracción se utiliza esta escala convencional equivalente de 2θ, en lugar de la escala nativa de 2θ del sincrotrón (λ = 0,137 Å). Luego, se calculó la deformación inducida por el curado comparando la distancia interplanar en cada momento con el valor inicial antes de la exposición al UV:

donde dt = n s es la distancia de la red en cada punto temporal durante el curado y d0 es la distancia inicial de la red antes de la exposición a UV.