La medición de haz de rayos X coherencia a lo largo de múltiples direcciones Usando 2-D del tablero de damas rejilla de fase

El objetivo general de este procedimiento es medir la coherencia transversal del haz de rayos X, en una línea de luz de sincrotrón, utilizando interferómetro de graduación. La principal ventaja de esta técnica es que puede medir la propiedad de coherencia del haz de rayos X, en múltiples direcciones, simultáneamente, mediante el uso de gradientes 2D. Aunque el método se demostró en la línea de luz 1-BM, en la Fuente Avanzada de Fotones, se puede aplicar a cualquier línea de luz de sincrotrón.

La fabricación de rejillas 2D es fundamental para medir diferentes condiciones coherentes de la línea de luz. La creación de la rejilla de fase, primero requiere la fabricación de un molde de galvanoplastia. El punto de partida de esta demostración es una pieza preparada de oblea de silicio.