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Caracterização abrangente de Defeitos estendidos em Materiais Semicondutores por um Microscópio Eletrônico de Varredura
Analyzing the Movement of the Nauplius 'Artemia salina' by Optical Tracking of Plasmonic Nanoparticles
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Caracterização abrangente de Defeitos estendidos em Materiais Semicondutores por um Microscópio Eletrônico de Varredura

Article DOI: 10.3791/53872-v • 11:14 min • May 28th, 2016
May 28th, 2016 •
1, 1, 1, 1, 2, 2, 1
1Institute of Applied Physics, Semiconductor Physics, Technische Universität Dresden, 2Institut für Strukturphysik, Technische Universität Dresden

Capítulos

Tags

Engenharia Edição 111 microscópio eletrônico de varredura (SEM) silício cathodoluminescence (CL) feixe de elétrons corrente induzida (EBIC) correlação cruzada de elétrons retroespalhados de difração (ccEBSD) luxações limites de grãos D-line luminescência
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