Name: Cargando óptica Trampa de micropartículas en dieléctrica del aire (Video) | JoVE Journal
Uploaded: 2017-02-05T13:00:00.000+00:00
Duration: 8 min 57 s
Description: Aprende a construir un lanzador piezoeléctrico para atrapar micropartículas dieléctricas en aire mediante levitación óptica. Este método permite seleccionar partículas por tamaño y forma para estudios de química de superficies.

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Todo el trabajo realizado bajo el apoyo del Instituto Nacional de Estándares y Tecnología. Se identifican ciertos equipos, instrumentos o materiales comerciales para fomentar la comprensión de este protocolo. Dicha identificación no implica recomendación o aprobación por parte del Instituto Nacional de Estándares y Tecnología, ni implica que los materiales o equipos identificados sean necesariamente los mejores disponibles para el propósito.

Precaución: Por favor, consulte a todos los programas de seguridad pertinentes antes del experimento. Todos los procedimientos experimentales descritos en este protocolo se realizan de acuerdo con el programa de seguridad del láser NIST, así como otras regulaciones aplicables. Por favor, asegúrese de seleccionar y usar equipo de protección personal (PPE), como gafas de protección láser diseñado para la longitud de onda y potencia específica. Manipulación nano / micropartículas secas puede requerir protección respiratoria adicional. 1. Diseño y fabricación de un titular de PZT y un recinto de la Muestra <ol><li> Diseñar un soporte de PZT y un recinto de la muestra NOTA: Los valores de diseño en particular varían dependiendo de la selección de un PZT. <ol><li> Abra el paquete de software de diseño asistido por ordenador (CAD). Haz un dibujo de dos dimensiones (2D) de un soporte para una dimensión dada de PZT. Desarrollar el boceto 2D a las características volumétricas utilizando combinaciones de Extrusión / Extrusión de corte. </li><li> Haga clic en Croquis,dibujar un rectángulo y extruir para hacer un cubo rectangular. </li><li> Dibuje un disco en la superficie superior del cubo para definir una característica rebajada circular para cubrir y sostener el tipo anillo de PZT. </li><li> Definir un orificio central para tener un acceso óptico para ambos de imágenes en tiempo real y de captura. </li><li> Definir una guía circular a lo largo del borde del orificio central para insertar un anillo plano metálico (cobre) para concentrar la energía ultrasónica hacia la zona central como se muestra en la Figura 2 a. </li><li> Crear dos agujeros para tornillos M6 sobre el soporte de PZT para ser ensamblado con una placa de fondo (comprado, la placa inferior de aluminio de 4 mm de espesor con un agujero en el centro), como se muestra en la figura 2c y 2d. </li><li> De una manera similar, el diseño de un marco rectangular de la caja de la muestra. Haga clic en Croquis, y dibujar un rectángulo, extruir el rectángulo para que sea una caja rectangular. </li><li> Dibuje un rectángulo más pequeño en la superficie superior de la Rectangulacaja de r-extrusión y cortar el rectángulo para que sea como un tubo rectangular. </li><li> Dibujar un rectángulo más pequeño en la pared lateral del tubo y Extrusión de corte para transformarlo en el marco del cuadro recinto de la muestra. </li><li> Convertir estos modelos tridimensionales (3D) en un formato de archivo de estereolitografía (STL) para un proceso de impresión 3D (Figura 2b). </li></ol></li><li> La impresión en 3D de los objetos diseñados <ol><li> Abra el archivo de diseño ( &quot;-.STL&quot;) desde el software operativo de la impresora 3D. Coloque el objeto plano central 0 / .y el objeto en (0, 0, 0) haciendo clic en el objeto para seleccionarlo y utilizar las funciones de alineación: &quot;Mover&quot;, &quot;Sobre la plataforma&quot;, y &quot;Centro&quot;. Orientar el titular de PZT para hacer frente a los rasgos delicados hacia arriba. La superficie rebajada se enfrentará al alza. </li><li> En el menú ir a &quot;Configuración&quot; y la pestaña &quot;Calidad&quot;. Establecer los valores de impresión de la siguiente manera, Relleno: 100%, Número de cáscaras: 2, y la altura de capa: 0,2mm. </li><li> Una vista previa de los objetos para comprobar el tiempo total de impresión y asegúrese de que los objetos en capas se pueden imprimir si lo deseas. Exportar el archivo de impresión 3D en un formato &quot;.x3g&quot; y guardarlo para usar en la impresora 3D. </li><li> Encienda la impresora 3D y deje que se caliente hasta que la temperatura de la boquilla de extrusión alcanza una temperatura de funcionamiento, 230 ° C. Cargar el archivo de diseño de una tarjeta de memoria o unidad de red. </li><li> Durante el calentamiento, coloque la plataforma de construcción con cinta de pintor azul para ayudar a los objetos se adhieren firmemente. Como un material termoplástico para el trabajo de impresión, utilice un filamento de ácido poliláctico (PLA) para ambos objetos. </li><li> Imprimir los objetos diseñados. Una vez finalizado el trabajo de impresión, apague la impresora después de que se haya enfriado. </li><li> Separar el objeto impreso desde la plataforma usando un cincel. Enderezar los objetos impresos. Si la orientación se elige apropiadamente, el titular de PZT puede ser utilizado directamente sin más post-procesamiento. </li><li> for el recinto muestra, preparar un par de óxido de indio y estaño (ITO) cubreobjetos recubiertos y tres cubreobjetos de vidrio para cubrir el marco. Utilice un cortador de diamante para encajar el cubre al recinto. </li><li> Alambre de las dos placas conductoras paralelas utilizando una pintura de plata de secado rápido para el suministro de voltaje a través de dos placas. Pegue estas cinco ventanas en el recinto de la muestra usando un pegamento adhesivo instantáneo. NOTA: La un par de cubreobjetos recubiertos de ITO están instalados en el recinto de la muestra en paralelo (uno frente al otro) para proporcionar campo eléctrico uniforme y para generar movimiento balístico de la partícula cargada de forma natural a lo largo del campo eléctrico. Los tres cubreobjetos convencional cubrir el resto de las superficies de la muestra del recinto (arriba y otros dos lados) para proteger la partícula atrapada a partir del flujo de aire externo </li></ol></li></ol> 2. Carga trampa óptica de una micropartícula seleccionada <ol><li> preparación de la muestra <ol><li> Almacenar las micropartículas en unadesecador evacuado para reducir el contacto con la humedad del aire antes del experimento. </li><li> Vierta una pequeña porción de micropartículas en un portaobjetos de vidrio y de inmediato puso la botella de la fabricación de nuevo en el desecador. </li><li> Recoger algunas de las micropartículas con un tubo capilar de vidrio. Dispersar las partículas sobre el sustrato golpeando suavemente en el capilar mientras mantiene el capilar sobre el cubreobjetos. </li><li> Verificar la cantidad y distribución de las partículas depositadas sobre el sustrato utilizando un microscopio de campo oscuro. Nota: En la etapa de preparación de la muestra, la partícula se acaba dispersa en un cubreobjetos y fotografiada con un microscopio óptico para verificar disposición general antes de insertarlos (un cubreobjetos con micropartículas dispersas) entre el titular de PZT y PZT. Dado que la adhesión a la superficie es lo suficientemente fuerte como para mantener micropartículas individuales en el sustrato, las partículas adheridas se fijan firmemente a menos que se aplica una fuerza externa significativa. </li></ol&gt; </li><li> Ensamblaje lanzador piezoeléctrico <ol><li> Obtener todos los componentes del lanzador piezoeléctrico: la placa de fondo plano, película, el PZT, el cubreobjetos de vidrio, un anillo de cobre, el titular de PZT, dos tornillos M6, y el recinto de la muestra aislantes. </li><li> Aplicar una película delgada (o cinta) en la placa inferior para aislar el PZT. El cubreobjetos de vidrio aísla la parte superior de la pila. </li><li> Montar la pila centrando el PZT en la parte superior de la placa plana ahora aislado con cinta, seguido por el cubreobjetos, el anillo de cobre, y el soporte de PZT. Tornillo de la pila juntos manteniendo el centrado del PZT para evitar un cortocircuito en el PZT al titular si el titular está llevando a cabo como se muestra en la figura 2c y 2d. El anillo de cobre proporciona una precarga mecánica uniformemente distribuida en la pila para los titulares de PZT de plástico. </li><li> Por último, pegar el recinto de la muestra en la pila y montar el conjunto en una etapa de traslación XYZ en el microscopio. </li></ol></li><li> Configuración del lanzador PZT NOTA: La conducción del PZT con una señal de alta tensión tiene potenciales riesgos eléctricos. Por favor, consulte con personal de seguridad antes del experimento. Todas las conexiones eléctricas deben ser asegurados antes del experimento. Apague el amplificador y desconecte PZT conduce siempre que sea posible. <ol><li> Conectar el PZT conduce al amplificador de voltaje y conecte el generador de funciones a un puerto de entrada del amplificador de tensión. </li><li> Encienda el generador de funciones y configurarlo para generar ondas cuadradas continua con una tensión de salida de 1 V. No generar la señal de tensión hasta que todas las conexiones se verifican y asegurados. </li><li> Encienda el amplificador de tensión y generar la onda cuadrada de la tensión de salida de 1 V, permitiendo la salida. </li><li> Conectar el puerto de salida de control (tensión de salida 200 V) del amplificador a un osciloscopio. Configurar el amplificador a una ganancia de 200 V / V girando elganar mando en el panel frontal. Verificar que la tensión de salida de vigilancia tiene una amplitud de 1 V, medida por el osciloscopio. </li><li> Una vez que el generador de funciones y el amplificador se configuran, encontrar la frecuencia de resonancia del lanzador PZT mediante la exploración de la frecuencia de modulación de la señal de activación, mientras que las imágenes del microscopio de vídeo en tiempo real adheridas partículas. Repetir la exploración hasta que el movimiento de micropartículas es un máximo. Utilice esta frecuencia (64 kHz aquí) para liberar partículas. NOTA: La frecuencia de modulación se cambia manualmente (escaneado) de cero a 150 kHz para encontrar la frecuencia de resonancia. </li><li> Configurar el generador de funciones para generar una onda cuadrada con un número determinado de ciclos en el modo de ráfaga. Presione el botón de &quot;ráfaga&quot; en el panel frontal y seleccione &quot;N ciclo de la ráfaga&quot;. </li><li> Elija el recuento de salvas pulsando &quot;# Ciclos&quot; tecla de función y establecer el recuento a 10 o 20. </li><li> Configurar la forma de onda cuadrada para generar señales de tensión conuna amplitud de 600 V (tres veces el voltaje utilizado para la excitación continua) a la frecuencia de resonancia de 64 kHz que se ha encontrado en el paso anterior. Compruebe que la señal pulsante libera la partícula diana de manera repetible asegurando partículas se mueven después de cada pulso. </li></ol></li><li> Selectiva trampa óptica de carga NOTA: El conjunto lanzador PZT está instalado en una etapa xy traslación lineal manual. Las partículas pueden ser traducidos en relación con el enfoque de haz fijo moviendo la etapa de traslación. <ol><li> Retire el filtro de línea de láser para identificar el foco del haz de captura mediante la rotación de la torreta microscopio (Figura 3a). Mover el bloque de enfoque motorizado de ida y vuelta verticalmente alrededor del mejor enfoque de la imagen visible para optimizar el enfoque. </li><li> Una vez verificada la posición de enfoque, ponga el filtro de nuevo a darle un video en tiempo real claro sin interferencia del haz de atrapamiento. </li><li> Traducir la muestra apata una partícula seleccionado en la posición de enfoque del láser de captura. Centrarse en la partícula a la imagen del centro de una partícula seleccionado, lo que sitúa la posición de captura nominal por debajo del centro de las partículas en alrededor de un medio de radio, dejando la posición de levitación por encima de la partícula. </li><li> Ajustar la fuente de alimentación conectada al conductor electro-óptico modulador (MOE) para ajustar la potencia de captura óptico. La potencia óptima depende del tamaño de las partículas y material. Se encontró que la potencia óptica a través de pruebas repetidas para determinar la potencia suficiente para hacer levitar la partícula sin expulsar desde el haz. A continuación, utilice una potencia óptica de 140 mW en el plano focal del objetivo para atrapar las partículas de 20 micras de diámetro de poliestireno (PS). </li><li> Después de que el centro de la partícula seleccionada está alineado, accionar el lanzador piezoeléctrico con varios pulsos. El cambio de la imagen de partícula de una imagen enfocada estática a una imagen borrosa en movimiento indica la carga satisfactoria de la levsanea- posición. </li><li> Traducir la partícula levitado verticalmente alrededor de un milímetro por encima del sustrato moviendo la lente objetivo para evitar que las posibles interacciones de superficie. A continuación, reducir la potencia óptica para la transición de la partícula de levitación (figura 3b) a la posición nominal de captura (Figura 3c), que es más estable. NOTA: la potencia óptica de láser de captura puede ser modulada por un modulador electro-óptico (MOE). La MOE regula la potencia de salida con una tensión de polarización suministrada a través de una fuente de alimentación digital. Se puede observar la transición de la levitación en la captura de posición a través de la CCD, mientras que reduce lentamente la potencia óptica. </li><li> Para la medición de la posición, como se representa en la Figura 3c a 3D, mover con cuidado el centro del soporte PZT al eje óptico y luego mover la lente objetivo hacia arriba (verticalmente) para traducir la partícula en el medio del recinto de la muestra (9 mm por encima de la substrate) donde se reduce al mínimo el campo eléctrico franja. </li><li> Después de realizar la medición tal como se describe a continuación, colocar la partícula sobre el sustrato moviendo el objetivo hacia abajo hasta que la partícula toca el sustrato. Dado que la mayoría de las partículas se aplican cerca de las esquinas, la partícula atrapada se puede reconocer fácilmente y re-atrapado cuando se coloca en la zona central. Esto permite reversible trampa de carga para medir los cambios que se producen más allá de un único evento de captura tales como las interacciones de contacto de la partícula y el sustrato. </li></ol></li></ol> 3. Adquisición de Datos <ol><li> Alinear el condensador y la lente de enfoque para maximizar la &quot;suma&quot; de la señal QPD con una partícula en la trampa. </li><li> Alinear la lente de enfoque para poner a cero nominalmente los canales X e Y de la QPD, como se muestra en la Figura 4c. </li><li> Repetir el ajuste del condensador y la lente de enfoque hasta que las señales de posición Fourier transformadas (o la densidad del espectro de potencia<html> (PSD) parcelas) de la X e Y se superponen canales para mostrar la sensibilidad equilibrada. Señales QPD correctamente alineados (X e Y) muestran un comportamiento casi idéntico, como se muestra en la Figura 4b. </li><li> Una vez que se verifica la alineación QPD, conectar el amplificador de tensión a las dos placas de ITO. Conectar la señal de salida de monitorización de tensión del amplificador al sistema de adquisición de datos para registrar la señal de paso de excitación y la trayectoria de la partícula inducida de forma sincrónica. </li><li> Suministro de una onda cuadrada continua de 400 V para generar un campo eléctrico (Figura 4d) que se mueve la partícula transversalmente al eje óptico en alrededor de 500 nm (Figura 4e). Medir la respuesta de paso de la partícula atrapada mediante el QPD. </li><li> Promedio de varios períodos que sean necesarias para reducir los efectos del movimiento browniano. El movimiento inducido puede ser usado para medir la fuerza óptica sobre una gama más amplia de movimiento que el de las fluctuaciones térmicas. 12,ef &quot;&gt; 17 Figura 4d y 4e muestra un promedio de señales de tensión aplicada y la trayectoria de la partícula inducida por más de 50 iteraciones de excitación paso. </li></ol>

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</ol>

Los autores declaran no tener intereses financieros contrapuestos.

El lanzador piezoeléctrico está diseñado para optimizar el rendimiento dinámico de un PZT seleccionado. La selección adecuada de materiales y gestión de las vibraciones ultrasónicas PZT son los pasos clave para dar un experimento exitoso. PZT tienen diferentes características dependiendo del tipo de transductor (mayor o apilados) y materiales de los componentes (duras o blandas). A PZT tipo mayor hecho de un material piezoeléctrico duro se elige por las siguientes razones. En primer lugar, los materiales piezoeléctricos...

Ashkin informó la aceleración y la captura de micropartículas por la presión de radiación en 1970. 1 Su novela logro promovido el desarrollo de técnicas de captura óptica como una herramienta primaria para los estudios fundamentales de la física y biofísica. 2, 3, 4, 5 Hasta la fecha, la aplicación de captura óptica se ha centrado principalmente en los ambientes líquidos, y han utilizado para estudiar una gama muy amplia de los sistemas, a partir del comportamiento de los coloides a las propiedades mecánicas de biomoléculas individuales. 6, 7, 8 Aplicación de atrapamiento óptico para medios gaseosos, sin embargo, requiere la resolución de varios nuevos problemas técnicos. Recientemente, las trampas ópticas en el aire / vacío se ha aplicado cada vez más en la investigación fundamental. Desde Levi ópticastación potencialmente proporciona un aislamiento casi completo de un sistema del medio ambiente circundante, la partícula ópticamente levitado se convierte en un laboratorio ideal para el estudio de estados fundamentales cuántica en objetos pequeños, 4 ondas gravitacionales de alta frecuencia de medición, 9 y la búsqueda de la carga fraccionada. 10 Por otra parte, la baja viscosidad del aire / vacío permite usar la inercia para medir la velocidad instantánea de una partícula browniano 11 y para crear un movimiento balístico en un amplio rango de movimiento más allá de la régimen lineal primaveral. 12 Por lo tanto, la información y las prácticas de trampas ópticas en medios gaseosos técnica detallada se han vuelto más valioso para la comunidad de investigación más amplio. Se requieren nuevas técnicas experimentales para cargar nano / micropartículas en trampas ópticas en medios gaseosos. Un transductor piezoeléctrico (PZT), un dispositivo que convierte electric energía en energía mecano-acústico, se ha utilizado para suministrar partículas pequeñas en las trampas ópticas en el aire / vacío 5, 12 desde la primera demostración de levitación óptica. 1 Desde entonces, se han propuesto varias técnicas de carga para cargar las partículas más pequeñas utilizando aerosoles volátiles generados por un nebulizador comercial 13 o un generador de ondas acústicas. 14 Los aerosoles flotantes con inclusiones sólidas (partículas) pasan al azar cerca del foco y se encuentran atrapados por casualidad. Una vez que está atrapado el aerosol, el disolvente se evapora y la partícula permanece en la trampa óptica. Sin embargo, estos métodos no son muy adecuados para identificar las partículas deseadas de dentro de una muestra, la carga de una partícula seleccionado y realizar un seguimiento de sus cambios si se libera de la trampa. Este protocolo está destinado a proporcionar detalles a nuevos practicantes en selectiva trampa de carga óptica en el aire, incluyendo el experimentoal configuración, la fabricación de un soporte de PZT y el recinto de la muestra, trampa de carga, y la adquisición de datos asociada con el análisis de movimiento de las partículas en los dominios de frecuencia y de tiempo. Los protocolos para atrapar en medios líquidos también han sido publicados. 15, 16 La configuración experimental global se desarrolla en un microscopio óptico invertido comercial. La figura 1 muestra un diagrama esquemático de la configuración utilizada para demostrar pasos de la trampa óptica selectiva de carga: liberar las micropartículas de descanso, el levantamiento de la partícula elegido con el haz enfocado, la medición de su movimiento y de colocarla sobre el sustrato nuevo. En primer lugar, las etapas de traslación (transversales y verticales) se utilizan para llevar una micropartícula seleccionada sobre el sustrato con el enfoque de un láser de captura (longitud de onda 1.064 nm) enfocada por una lente de objetivo (infrarrojo cercano corregidos objetivo distancia de trabajo larga: NA 0,4, magnificación 20X, d trabajarIstance 20 mm) a través del sustrato transparente. Entonces, un lanzador piezoeléctrico (un pre-cargado mecánicamente en forma de anillo PZT) genera vibraciones ultrasónicas para romper la adherencia entre micropartículas y un sustrato. Por lo tanto, cualquier partícula liberado puede ser levantada por la trampa láser gradiente de un solo haz enfocado sobre la partícula seleccionada. Una vez que se atrapa la partícula, se traduce en el centro de la carcasa muestra que contiene dos placas conductoras paralelas para la excitación electrostática. Finalmente, un sistema de adquisición de datos (DAQ) registra simultáneamente el movimiento de las partículas, capturada por un fotodetector de células cuadrante (QPD), y el campo eléctrico aplicado. Después de terminar la medición, la partícula se coloca de forma controlable sobre el sustrato de manera que puede ser atrapado de nuevo de una manera reversible. Este proceso en general puede repetirse cientos de veces sin pérdida de partículas para medir los cambios, como la electrificación de contacto que ocurren durante varios ciclos de captura. Por favor refiérase a nuestro reciente artículo Fo detalles. 12

<table><tbody><tr><td>Cinta de pintor ScotchBlue Original</td><td></td><td>3M 3M2090</td><td></td></tr><tr><td>Scotch 810 Magic Tape</td><td>3M</td><td>3M810</td><td></td></tr><tr><td>Generador de función/forma de onda arbitraria</td><td>Agilent HP33250A</td><td></td><td></td></tr><tr><td>Fuente de alimentación/Proveedor de voltaje digital</td><td>Agilent E3634A</td><td></td><td></td></tr><tr><td>Transductor piezoeléctrico tipo anillo</td><td>American Piezo Company</td><td>item91</td><td></td></tr><tr><td>Modulador electro-óptico</td><td>Con-Optics</td><td>350&minus; Amplificador 80-LA</td><td></td></tr><tr><td>para modulador electroóptico</td><td>Con-Optics</td><td>302RM</td><td></td></tr><tr><td>Mitutoyo NIR infinity Objetivo corregido</td><td>Edmund optics</td><td>46-404</td><td>fabricado por Mitutoyo y distribuido por Edmund Optics</td></tr><tr><td>LOCTITE SUPER GLUE BOTELLA DE CUELLO LARGO</td><td>Loctite</td><td>230992</td><td></td></tr><tr><td>impresora 3D</td><td>MakerBot</td><td>Replicator 2</td><td></td></tr><tr><td>Polyláctico filamento de ácido (PLA)</td><td>MakerBot</td><td>True Red PLA Bobina pequeña</td><td></td></tr><tr><td>Sistema de adquisición de datos</td><td>National Instruments</td><td>780114-01</td><td></td></tr><tr><td>Fotodetector de célula cuadrante</td><td>Newport</td><td>2031</td><td></td></tr><tr><td>Etapa traslacional</td><td>Newport</td><td>562-XYZ</td><td></td></tr><tr><td>Microscopio óptico invertido</td><td>Nikon Instruments</td><td>EclipsTE2000</td><td></td></tr><tr><td>Filtro de fluorescencia (verde)</td><td>Cámara Nikon Instruments</td><td>G-2B</td><td></td></tr><tr><td>Flea3/CCD</td><td>Gris Punto</td><td>FL3-U3-13S2M-CS</td><td>Láser de trampa</td></tr><tr><td>Diodo bombeado con vanadato de neodimio itrio (Nd: YVO4)</td><td>Spectra Physics</td><td>J20I-8S-12K/ BL-106C</td><td></td></tr><tr><td>Cubreobjetos recubiertos de óxido de indio y estaño (ITO)</td><td>SPI suministra</td><td>06463B-AB</td><td>Micropartículas de poliestireno</td></tr><tr><td>Pintura plateada de secado rápido</td><td>Tedpella</td><td>16040-30</td><td></td></tr><tr><td>Dri-Cal estándares de tamaño</td><td>Thermo Scientific</td><td>DC-20</td><td></td></tr><tr><td>Fibra óptica</td><td>Thorlabs</td><td>P1&minus; 1064PM-FC-5</td><td>placa inferior</td></tr><tr><td>Placa de aluminio&nbsp;</td><td>Thorlabs</td><td>CP4S Amplificador de</td><td></td></tr><tr><td>potencia de alto voltaje</td><td>TREK</td><td>PZD700A M/S</td><td></td></tr></tbody></table>

cargando óptica trampa de micropartículas en dieléctrica del aire

Optical Trap Loading of Dielectric Microparticles In Air

Demostramos un método para atrapar una micropartícula dieléctrica seleccionada en el aire utilizando la presión de radiación de una trampa óptica de gradiente de un solo haz. Las micropartículas dieléctricas dispersas aleatoriamente adheridas a un sustrato de vidrio se desprenden momentáneamente mediante vibraciones ultrasónicas generadas por un transductor piezoeléctrico (PZT). A continuación, el haz óptico centrado en una partícula seleccionada la eleva hasta la trampa óptica mientras que las micropartículas excitadas vibratoriamente vuelven al sustrato. Una partícula puede quedar atrapada en el foco nominal del haz de captura o en una posición por encima del foco (referida aquí como la posición de levitación) donde la gravedad proporciona la fuerza restauradora. Después de la medición, la partícula atrapada se puede colocar en la posición deseada en el sustrato de forma controlada. 
En este protocolo, se describe un procedimiento experimental para la carga selectiva de trampas ópticas en el aire. En primer lugar, se presenta brevemente la configuración experimental. En segundo lugar, se ilustra en detalle el diseño y la fabricación de un soporte PZT y una carcasa de muestra. A continuación, se demuestra la carga de la trampa óptica de una micropartícula seleccionada con instrucciones paso a paso que incluyen la preparación de la muestra, el lanzamiento a la trampa y el uso de la fuerza electrostática para excitar el movimiento de la partícula en la trampa y medir la carga. Finalmente, presentamos las trayectorias de partículas registradas de los movimientos brownianos y balísticos de una micropartícula atrapada en el aire. Estas trayectorias se pueden utilizar para medir la rigidez o para verificar la alineación óptica a través del análisis en el dominio del tiempo y la frecuencia. La carga selectiva de la trampa permite a las pinzas ópticas rastrear una partícula y sus cambios a lo largo de las cargas repetidas de la trampa de forma reversible, lo que permite estudiar la interacción entre la partícula y la superficie.

El lanzador PZT está diseñado usando un paquete de software CAD. Aquí, nosotros usamos una estructura de emparedado simple para la precarga (a PZT sujeta con dos placas), como se muestra en la Figura 2. El titular de PZT y el recinto de la muestra se puede fabricar de una variedad de materiales y métodos. Para una rápida demostración, elegimos la impresión en 3D con termoplástico como se ilustra en la Figura 2d. Sobre la base de los comp...

Se presenta un protocolo para lanzar y atrapar de manera estable micropartículas dieléctricas seleccionadas en el aire.

Cargando óptica Trampa de micropartículas en dieléctrica del aire

We demonstrate a method to trap a selected dielectric microparticle in air using radiation pressure from a single-beam gradient optical trap. Randomly ...

El objetivo de este protocolo de video es demostrar cómo se construye y utiliza un lanzador piezoeléctrico para superar la adhesión de partículas y facilitar la liberación de partículas del sustrato para lograr la levitación de micropartículas en el aire. La ventaja de lanzarse desde una superficie es que la partícula puede seleccionarse en función del tamaño, la forma, las propiedades ópticas o la orientación. Esto último puede ser útil para atrapar partículas asimétricas.El atrapamiento y aterrizaje repetidos de partículas puede proporcionar una nueva herramienta para estudiar cuestiones de química de superficies, como la transferencia cargada durante la interacción repetida de la partícula. El retorno de la partícula a la superficie también permite mediciones posteriores de la misma partícula por otros métodos, como la microscopía electrónica de barrido, y también permite ciclos repetidos de captura y aterrizaje. En primer lugar, imprime en 3D un marco rectangular en un soporte para transductor piezoeléctrico.Coloque los lados estrechos del marco con vidrio recubierto de óxido de indio y estaño, y los lados anchos y la parte superior con vidrio convencional para construir el recinto de muestra transparente. A continuación, vierta una pequeña porción de micropartículas dieléctricas de 20 micrómetros de diámetro en un portaobjetos de vidrio. Devuelva inmediatamente el recipiente a un desecador.Con un tubo capilar de vidrio, recoja algunas de las micropartículas del portaobjetos. Esparce las partículas en un cubreobjetos golpeando suavemente el tubo capilar. Utilice un microscopio para verificar la cantidad y distribución de micropartículas dispersas en el sustrato.A continuación, comience el ensamblaje del lanzador piezoeléctrico aplicando una película aislante a una placa de aluminio. Centre un transductor piezoeléctrico tipo anillo en la placa, asegurándose de que esté separado de la placa por la película aislante. Coloque el cubreobjetos disperso de micropartículas en el transductor y encaje un anillo de cobre en el soporte impreso en 3D.Asegure el transductor en su lugar en la placa con el soporte impreso en 3D y dos tornillos M6. Pegue ligeramente el recinto de muestras en el soporte con adhesivo instantáneo. Monte el conjunto completo del lanzador en una etapa traslacional XYZ de un microscopio óptico invertido.Conecte los cables del transductor piezoeléctrico al amplificador de voltaje y el amplificador al generador de funciones, asegurándose de que todas las conexiones estén seguras y correctamente conectadas a tierra. Conecte el puerto de salida de monitoreo del amplificador a un osciloscopio para monitorear la señal de voltaje de accionamiento del transductor. Configure el generador de funciones para enviar una onda cuadrada continua de cero a un voltio al amplificador.Ajuste la ganancia del amplificador a 200 voltios por voltio. Configure el microscopio para obtener imágenes de las micropartículas en tiempo real. A continuación, escanee manualmente la frecuencia de modulación de la señal de conducción de 0 a 150 kilohercios mientras supervisa el movimiento de las micropartículas.El conjunto piezoeléctrico está diseñado para aplicar una precarga mecánica al transductor, para amplificar la amplitud de resonancia y reducir las fallas. Las frecuencias pueden ayudar a determinar la frecuencia de resonancia del transductor mediante el monitoreo de la partícula en la superficie. La frecuencia a la que se maximiza el movimiento de las micropartículas sin partículas adheridas es la frecuencia de resonancia del lanzador.Repita el escaneo según sea necesario a voltajes más bajos para determinar con precisión la frecuencia de resonancia. Configure la forma de onda para generar una señal de voltaje a la frecuencia de resonancia con una amplitud de 600 voltios. Configure el generador de funciones para una onda cuadrada con 10 a 20 ciclos en modo de ráfaga.Compruebe que las partículas se liberan después de cada pulso. Si las partículas no se liberan, aumente la amplitud o el número de ciclos. Retire el filtro revestido con láser del microscopio para localizar el foco del haz de captura en el CCD.Optimice el enfoque ajustando la posición vertical del bloque de enfoque motorizado. Reemplace el filtro y traslade la muestra para que una partícula seleccionada esté en la posición de enfoque del láser de captura. Concéntrese en la partícula para obtener una imagen del centro de la partícula.Accione el lanzador piezoeléctrico con varios pulsos de voltaje para lanzar la partícula, ajustando la fuente de alimentación del modulador de objetos eléctricos según sea necesario. Cuando la partícula se difumina ligeramente y comienza el movimiento browniano, se ha producido un atrapamiento. El enfoque de la viga de captura es crítico para la carga exitosa de la trampa.Colocar el foco del pin a unas pocas micras por debajo del plano de la muestra ayuda a aumentar la eficiencia de captura. Si la partícula solo se mueve ligeramente y permanece enfocada en el sustrato, aumente el poder de atrapamiento. Si la partícula vuela a una nueva ubicación en la superficie, disminuya la potencia.Una vez que la partícula se haya cargado correctamente, mueva la lente del objetivo hacia arriba para trasladar la partícula levitada aproximadamente un milímetro por encima del deslizamiento de la cubierta de vidrio para evitar interacciones en la superficie. A continuación, reduzca la potencia óptica para mover la partícula levitada a la posición de atrapamiento nominal más estable. Mueva el lanzador de modo que el soporte del transductor quede centrado en el eje óptico.Mueva la lente del objetivo para trasladar verticalmente la partícula más alto en el recinto de la muestra. Para comenzar las mediciones, ajuste el condensador y la lente de enfoque hasta que los gráficos de densidad del espectro de potencia de los canales X e Y coincidan bien. A continuación, conecte una fuente de alto voltaje a la carcasa de muestras.Para medir las propiedades de la trampa y la carga de la partícula, aplique un campo electrostático para generar el movimiento balístico de la partícula. Registre la señal de excitación escalonada en la trayectoria de la partícula inducida. Promedie los datos de varios períodos según sea necesario para reducir los efectos del movimiento browniano.Después de realizar la medición, mueva la lente del objetivo hacia abajo para colocar la partícula en el centro del cubreobjetos de vidrio, para mantenerla separada de las otras partículas. El conjunto del lanzador piezoeléctrico consta de una carcasa transparente para proteger la partícula levitada de las corrientes de aire y un transductor piezoeléctrico que hace vibrar el sustrato para liberar la partícula. La parte inferior de la carcasa está abierta para que el sustrato pueda colocarse directamente sobre el transductor.Las micropartículas pueden quedar atrapadas en la posición de levitación por encima del foco o en la posición de captura cerca del foco, donde las fuerzas ópticas estabilizan la partícula en todas las direcciones. En la posición de levitación, la gravedad contrarresta la presión de radiación ascendente, por lo que las fuerzas ópticas solo estabilizan la partícula transversalmente. Para desplazamientos pequeños, como el movimiento browniano, la fuerza óptica se puede tratar como un resorte lineal.La frecuencia de resonancia se puede determinar a partir del gráfico de densidad espectral de potencia. La rigidez y la fuerza óptica de la trampa en el régimen lineal se pueden calcular a partir de la frecuencia de resonancia, la masa conocida y el desplazamiento medido. Las fuerzas en rangos más amplios de desplazamiento se pueden determinar a partir del movimiento balístico inducido en el campo eléctrico aplicado.El análisis del desplazamiento balístico por el método de respuesta transitoria proporciona la frecuencia de resonancia, el amortiguamiento y el desplazamiento en estado estacionario. Las fuerzas no lineales se pueden determinar con el método de fuerza paramétrica. Este enfoque de micropartículas levitantes permite mediciones de precisión utilizando partículas seleccionadas por tamaño, forma o propiedades del material, y también permite mediciones posteriores en las mismas partículas.Con este método, el lanzamiento y aterrizaje de una partícula se puede repetir a lo largo de cientos de ciclos. Esto también permitirá estudios sensibles de la interacción de la superficie de las partículas, como la electrificación por contacto con sensibilidad de un solo electrón.

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Research

Investigación

JoVE Journal

Engineering

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