Name: La recombinación Dinámica de capa fina en materiales fotovoltaicos a través de conductividad de microondas resuelta en el tiempo (Video) | JoVE Journal
Uploaded: 2017-03-06T13:00:00.000+00:00
Duration: 11 min 30 s
Description: Aprende a medir la recombinación de portadores de carga en materiales fotovoltaicos de capa fina mediante la técnica TRMC sin contacto eléctrico. Este método permite distinguir entre recombinación directa y mediada por trampas en perovskitas.

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Se hace un reconocimiento al Consejo Australiano de Investigación (LE130100146, DP160103008). JAG cuenta con el apoyo de un Premio de Posgrado Australiano y DRM por una beca ARC Future Fellowship (FT130100214). Agradecemos a Nikos Kopidakis por sus útiles discusiones.

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</ol>

Los autores no tienen nada que revelar.

Aunque la técnica TRMC puede ofrecer una gran cantidad de información sobre la dinámica de los portadores de carga inducidos por la luz, esta constituye una medición indirecta de la conductividad, por lo que es necesario tener precaución al interpretar los resultados. La técnica TRMC mide la movilidad total, y no puede utilizarse para distinguir entre las movilidades de electrones y de huecos. La suposición fundamental de que la conductividad es proporcional al cambio en la potencia reflejada solo es válida cuando dicho ...

Flash fotólisis conductividad de microondas resuelta en el tiempo (FP-TRMC) monitorea la dinámica de los portadores de carga foto-excitada en la escala de tiempo ns-mu s, lo que lo convierte en una herramienta ideal para la investigación de los procesos de recombinación de portadores de carga. La comprensión de los mecanismos de desintegración de los portadores de carga foto-inducida en los semiconductores de película delgada es de importancia clave en una variedad de aplicaciones, incluyendo la optimización del dispositivo fotovoltaico. Los tiempos de vida de soporte inducidos son a menudo las funciones de densidad inducida portadora, onda de excitación, la movilidad, la densidad de trampas y la tasa de atrapar. En este trabajo se demuestra la versatilidad de la técnica de resolución temporal Microondas Conductividad (TRMC) para la investigación de una amplia gama de dependencias portadoras dinámicas (intensidad, longitud de onda, frecuencia de microondas) y sus interpretaciones. cargos fotogenerada puede modificar tanto a la real y la parte imaginaria de la constante dieléctrica de un material, en función de su movilidad y degre<html> e de confinamiento / localización 1. La conductividad de un material <img alt="Ecuación" src="/files/ftp_upload/55232/55232eq1.jpg" /> es proporcional a su constante dieléctrica compleja <img alt="Ecuación" src="/files/ftp_upload/55232/55232eq2.jpg" /> dónde <img alt="Ecuación" src="/files/ftp_upload/55232/55232eq3.jpg" /> es la frecuencia de un campo eléctrico de microondas, <img alt="Ecuación" src="/files/ftp_upload/55232/55232eq4.jpg" /> y <img alt="Ecuación" src="/files/ftp_upload/55232/55232eq5.jpg" /> son las partes real e imaginaria de la constante dieléctrica. Por lo tanto, la parte real de la conductividad está relacionado con la parte imaginaria de la constante dieléctrica, y se puede corresponder con absorción de microondas, mientras que la parte imaginaria de la conductividad (en adelante denominada polarización) está relacionado con un cambio en la frecuencia de resonancia del campo de microondas 1. t &quot;&gt; TRMC ofrece varias ventajas sobre otras técnicas. Por ejemplo, las mediciones de fotoconductividad DC sufren de una gama de complicaciones derivadas de contacto el material con electrodos. recombinación mejorada en la interfaz electrodo / material, de nuevo la inyección de cargas a través de esta interfaz, así como una mayor disociación de excitones y pares geminadas debido a la tensión aplicada 2 todos conducen a distorsiones en las movilidades y tiempos de vida del portador medidos. por el contrario, TRMC es una técnica sin electrodos que mide la movilidad intrínseca de los portadores sin distorsiones debidas a la transferencia de carga a través de los contactos . Una ventaja significativa de la utilización de potencia de microondas como una sonda para la dinámica de soporte es que, así como el seguimiento de los tiempos de vida de desintegración de los portadores de carga, los mecanismos de descomposición / vías pueden también ser investigadas. TRMC se puede utilizar para determinar el total de vida de movilidad 3 y4 tiempo de portadores de carga inducidas. Estos parámetros posteriormente se pueden utilizar para distinguir entre los mecanismos de recombinación directos y trampa mediada 3, 5. La dependencia de estas dos vías de desintegración distintos puede analizarse cuantitativamente como una función de densidad de portadores 3, 5 y la energía de excitación / longitud de onda 5. La localización / confinamiento de portadores inducidos puede ser investigado mediante la comparación de la decadencia de la conductividad vs polarizabilidad 5 (imaginario vs parte real de la constante dieléctrica). Además, y quizás más importante, TRMC se puede utilizar para caracterizar estados trampa que actúan como vías de desintegración de portadores de carga. Trampas de superficie, por ejemplo, se pueden distinguir de las trampas a granel mediante la comparación de pasivado vs muestras no pasivada 6. estados sub-banda prohibida puedeser investigado directamente utilizando energías de excitación sub-banda prohibida 5. Las densidades de trampas se pueden deducir mediante el ajuste de los datos TRMC 7. Debido a la versatilidad de esta técnica, TRMC se ha aplicado para estudiar una amplia gama de materiales que incluyen: los semiconductores tradicionales de película delgada tales como el silicio 6, 8 y TiO 2 9, 10, las nanopartículas 11, los nanotubos de 1, semiconductores orgánicos 12, mezclas de materiales 13, 14, y fotovoltaicos híbrido materiales 3, 4, 5. Con el fin de obtener información cuantitativa usando TRMC, es fundamental ser capaces de determinar con precisión el númerode fotones absorbidos para una excitación óptica dado. Dado que los métodos para cuantificar la absorción de películas delgadas, nanopartículas, soluciones y muestras opacas son diferentes, las técnicas de preparación de muestras y calibración que aquí se presentan están diseñados específicamente para las muestras de película delgada. Sin embargo, el protocolo de medición TRMC presentada es muy general.

<table><tbody><tr><td>Detergente Hellmanex III</td><td>Sigma Aldrich www.sigmaaldrich.com/catalog/product/sial/z805939?lang=en&region=AU</td><td>Z805939</td><td>Corrosivo y tóxico. Consulte SDS.</td></tr><tr><td>Yoduro de plomo (II) (99%)</td><td>Sigma Aldrich www.sigmaaldrich.com/catalog/product/aldrich/211168?lang=en&region=AU</td><td>211168</td><td>Tóxico. Consulte SDS.</td></tr><tr><td>Dimetilformamida anhidra (99,8%)</td><td>Sigma Aldrich www.sigmaaldrich.com/catalog/product/sial/227056?lang=en&region=AU</td><td>227056</td><td>tóxico. Consulte SDS.</td></tr><tr><td>Dimetilsulfóxido anhidro (99,9%)</td><td>Sigma Aldrich www.sigmaaldrich.com/catalog/product/sial/276855?lang=en&region=AU</td><td>276855</td><td>tóxico. Consulte SDS.</td></tr><tr><td>2-Propanol anhidro (99,5%)</td><td>Sigma Aldrich www.sigmaaldrich.com/catalog/product/sial/278475?lang=en&region=AU&gclid= COnlgPaw780CFQZvvAod17EA4Q</td><td>278475</td><td></td></tr><tr><td>Yoduro de metilamonio</td><td>Dyesol www.dyesol.com/products/dsc-materials/perovskite-precursors/methylammonium-iodide.html</td><td>MS101000</td><td>También vendido por Sigma Aldrich Poli</td></tr><tr><td>(metacrilato de metilo)</td><td>Sigma Aldrich</td><td>445746</td><td></td></tr><tr><td>Clorobenceno anhidro (99,8%)</td><td>Sigma Aldrich www.sigmaaldrich.com/catalog/product/aldrich/445746?lang=en&region=AU</td><td>284513</td><td>tóxico. Consulte SDS.</td></tr><tr><td>Equipment</td><td>Company</td><td>Model</td><td>Comentarios/Descripción</td></tr><tr><td>Espectrofotómetro UV-VIS-NIR</td><td>Perkin-Elmer&nbsp;</td><td>Lambda 900</td><td></td></tr><tr><td>Perfilómetro</td><td>Veeco</td><td>Dektak 150</td><td></td></tr><tr><td>Analizador de redes vectorial Keysight</td><td> www.keysight.com/en/pdx-x201927-pn-N9918A/fieldfox-handheld-microwave-analyzer-265-ghz?cc=US&lc=eng</td><td>Fieldfox N9918A</td><td></td></tr><tr><td>Láser de longitud de onda sintonizable</td><td>Opotek www.opotek.com/product/opolette-355</td><td>Opolette 355</td><td></td></tr><tr><td>Filtros de densidad neutra</td><td>Thorlabs www.thorlabs.hk/newgrouppage9.cfm?objectgroup_id=3193</td><td>NUK01</td><td></td></tr><tr><td>Medidor de potencia</td><td>Thorlabs www.thorlabs.com/thorproduct.cfm?partnumber=PM100D</td><td>PM100D</td><td></td></tr><tr><td>Sensor de potencia</td><td>Thorlabs www.thorlabs.com/thorproduct.cfm?partnumber=S401C</td><td>S401C</td><td></td></tr><tr><td>Cavity</td><td>Hecho a medida</td><td></td><td>La cavidad utilizada para este experimento fue diseñada y construida internamente.</td></tr></tbody></table>

la recombinación dinámica de capa fina en materiales fotovoltaicos a través de conductividad de microondas resuelta en el tiempo

Recombination Dynamics in Thin-film Photovoltaic Materials via Time-resolved Microwave Conductivity

Se presenta un método para la investigación de dinámica de recombinación de portadores de carga foto-inducida en semiconductores de película fina, específicamente en materiales fotovoltaicos tales como perovskitas de haluro de organo-plomo. El espesor de la película de perovskita y coeficiente de absorción se caracterizan inicialmente por perfilometría y espectroscopia de absorción UV-VIS. Calibración de tanto la potencia del láser y de la cavidad sensibilidad se describe en detalle. Un protocolo para la realización de experimentos de flash fotólisis de resolución temporal de la conductividad de microondas (TRMC), un método sin contacto de la determinación de la conductividad de un material, se presenta. se da un procedimiento para la identificación de los componentes real e imaginaria de la compleja conductividad mediante la realización de TRMC como una función de frecuencia de microondas. la dinámica de portadores de carga se determinan bajo diferentes regímenes de excitación (incluidos la energía y longitud de onda). Las técnicas para distinguir entre procesos de desintegración directos y atrapan mediada son presentados y discutidos.Los resultados se modelaron y se interpretan con referencia a un modelo cinético general de los portadores de carga fotoinducida en un semiconductor. Las técnicas descritas son aplicables a una amplia gama de materiales optoelectrónicos, incluyendo materiales fotovoltaicos orgánicos e inorgánicos, nanopartículas, y la realización de / semiconductor películas delgadas.

Los resultados representativos presentados aquí se obtuvieron a partir de una muestra de película delgada de CH3NH3PbI3 de 250 nm.
La dinámica de la conductividad <img alt='Fórmula de equilibrio estático "σ(t)" símbolo de tensión en función del tiempo.' src="/files/ftp_upload/55232/55232eq54.jpg" data-altupdatedat="1788250015000" data-alt="Ecuación"> puede relacionarse con la dinámica de los port...

Aquí se presenta una técnica de conductividad de microondas resuelta en el tiempo para investigar la dinámica de recombinación directa y mediada por trampas y determinar las movilidades portadoras de semiconductores de película delgada.

La recombinación Dinámica de capa fina en materiales fotovoltaicos a través de conductividad de microondas resuelta en el tiempo

A method for investigating recombination dynamics of photo-induced charge carriers in thin film semiconductors, specifically in photovoltaic materials ...

El objetivo general de este experimento consiste en utilizar la potencia de microondas reflejada para medir la dinámica de recombinación de portadores de carga inducidos por la luz en materiales fotovoltaicos de capa delgada. Este método resulta útil en el campo de la fotovoltaica porque mide la descomposición de portadores de carga inducidos por la luz mediante estados de trampa y procesos de recombinación de banda a banda. La principal ventaja de esta técnica es que no requiere contactos eléctricos con la muestra.Esto significa que los tiempos de vida medidos y las conductividades no se ven distorsionados por la presencia de cátodos. Primero, reúna algunos de los elementos necesarios para realizar las mediciones, incluyendo una muestra preparada para medición. Esta muestra de perovskita en película delgada ha sido caracterizada y se han seleccionado sus longitudes de onda de interés.Además de la muestra, tenga listos una cavidad de microondas, un analizador de red y un láser. La muestra se montará en esta cavidad de microondas personalizada, que está hecha de cuatro placas de un cuarto de onda atornilladas entre sí. Una abertura acopla microondas a la cavidad, y un puerto de fibra en el cortocircuito de microondas permite el acceso óptico.Un soporte de muestra de teflón se inserta en la cavidad. Un difusor asegura que la luz incidente sea espacialmente uniforme, mientras que un tornillo de ajuste modifica el factor de calidad de la cavidad. El láser es sintonizable desde longitudes de onda visibles hasta infrarrojas.Los elementos ópticos más pequeños necesarios incluyen un acoplador de espejo parabólico desviado y filtros de densidad neutra. Con la longitud de onda del láser en el valor deseado, dirija su haz hacia un acoplador desviado. Utilice una tarjeta de haz para verificar la alineación con el eje óptico del espejo.El punto debe ingresar al acoplador aproximadamente por su centro. A continuación, obtenga una fibra óptica que finalmente se acople a la cavidad. Conecte un extremo de la fibra al acoplador de fibra.Conecte el otro extremo a un sensor y medidor de potencia. Utilice baja potencia láser e inicie la monitorización de la salida de la fibra mientras ajusta el acoplador de fibra. Ajuste el ángulo inclinado del acoplador con el fin de maximizar el acoplamiento de la fibra.Continúe monitoreando el medidor de potencia y deténgase cuando registre la potencia máxima. Los ajustes del ángulo de inclinación en el acoplador deben realizarse lentamente, asegurándose de no golpear nada. Refine el acoplamiento aumentando gradualmente la potencia del láser y ajustando aún más la orientación del acoplador.Para determinar el factor de pérdida de la cavidad, compare la potencia del láser que sale por la fibra con la potencia incidente sobre la muestra. Primero, encienda el láser y mida la potencia de salida a través de la fibra. A continuación, utilice la cavidad para medir la potencia en la posición de la muestra.Dado que la cavidad está compuesta por placas de cuarto de onda, desensámblela para acceder a la posición de la muestra. Al desensamblarla, coloque una máscara del tamaño del portador en la posición de la muestra, donde el campo eléctrico es máximo. Coloque un sensor de potencia detrás de la máscara para medir la potencia en la muestra.Ahora conecte la fibra acoplada a la cavidad. Mida la potencia en la posición de la muestra para la longitud de onda elegida. A continuación, desconecte la fibra, retire el sensor de potencia y la máscara de la posición de la muestra y vuelva a armar la cavidad para prepararla para los pasos posteriores.El portamuestras está diseñado para centrar la muestra en la cavidad. Coloque la muestra sobre el portamuestras. Asegúrese de orientar el portamuestras hacia el puerto de entrada del láser.Inserte el portamuestras en la cavidad. La calibración de la sensibilidad de la cavidad requiere un analizador de redes y un circulador. Conecte el puerto uno del analizador de redes al puerto de entrada uno del circulador.Conecte el puerto dos del circulador al acoplador de microondas de la cavidad. Cualquier radiación reflejada desde la muestra saldrá del circulador por el puerto tres. Conecte también este puerto al puerto del analizador de red.A continuación, utilice el analizador de red para realizar una medición de dos puertos S21 de la potencia reflejada. Centre nuevamente la pantalla en la frecuencia de resonancia de la cavidad vacía, que es de aproximadamente 6,5 gigahercios para esta cavidad. Luego, establezca el intervalo de frecuencia de la pantalla en un gigahercio.Localice y marque la frecuencia de resonancia de la cavidad cargada y colóquela en el centro. Finalmente, acerque la imagen antes de registrar la curva de resonancia. Ahora comience a ajustar el factor de calidad de la cavidad.Para hacer esto, ajuste el tornillo de sintonización en la cavidad. Observe la curva de resonancia para optimizar el factor de calidad. Un factor de calidad óptimo suele ser un compromiso entre la resolución temporal y la precisión de la medición.El factor de sensibilidad de la cavidad puede calcularse a partir de la curva de resonancia de la cavidad cargada. El siguiente paso consiste en configurar la medición de conductividad de microondas resuelta en el tiempo o TRMC. Sintonice el láser a una de las longitudes de onda de interés y ajuste la potencia de salida al máximo.A continuación, utilice un sensor de potencia para medir la potencia del láser transmitida a través de la fibra. Retire la fibra del sensor de potencia y luego conecte la fibra a la entrada óptica de la cavidad. En el otro extremo de la cavidad, el analizador de red y el circulador permanecen conectados como en la calibración de sensibilidad de la cavidad.El analizador se encuentra ahora en un modo transitorio y este esquema aclara las nuevas funciones de los puertos del analizador de red. El puerto uno es la fuente de microondas. El puerto dos es el detector.La entrada del láser no está en el diagrama, y el amplificador en el diagrama está integrado en el analizador de red. Una configuración alternativa popular utiliza un diodo de microondas en el osciloscopio como detector. Ahora trabaje con el analizador de red.Habilite la detección transitoria ajustando el intervalo de frecuencia del analizador de red a cero. Establezca la frecuencia de medición en la frecuencia de resonancia de la cavidad cargada medida previamente. A continuación, configure la fuente de microondas.Establezca la frecuencia de la fuente de microondas en la frecuencia de medición y la potencia de salida en cero dBm. A continuación, configure el láser para que active el analizador de red. Conecte la salida de disparo del láser al analizador de red.Activee el disparador externo y encuentre el desfase del disparador para capturar el aumento de la señal con unos pocos microsegundos de señal oscura antes del pulso láser. Finalmente, ajuste la base de tiempo del analizador de manera que la cola transitoria sea mucho más larga que la descomposición inicial. Registre el trazado de conductividad microondas resuelto en el tiempo resultante.Una vez conocidos los parámetros óptimos, utilícelos para automatizar las mediciones de conductividad microondas resueltas en el tiempo o TRMC. Para obtener datos sobre la conductividad compleja, repita esta medición a varias frecuencias de microondas. Seleccione el barrido de frecuencia revisando la curva de resonancia de la cavidad y eligiendo varias frecuencias que abarquen la curva.Utilice el analizador de red para establecer la frecuencia de medición en la primera frecuencia del barrido. Ajuste la frecuencia de la fuente a la frecuencia de medición. Utilice los parámetros de medición óptimos encontrados previamente para obtener un trazado TRMC.Este transitorio tiene restado el fondo. Repita esta medición para cada frecuencia seleccionada. Para obtener datos TRMC dependientes de la intensidad, comience ajustando el láser a una longitud de onda de interés a potencia máxima.Retire la fibra de la cavidad y mida la potencia transmitida a través de la fibra. Vuelva a conectar la fibra a la cavidad antes de continuar. Inicie la recolección automatizada de datos ingresando los parámetros experimentales.Encienda el láser. Obtenga un promedio transitorio de al menos 100 trazos para tener en cuenta las variaciones de potencia del láser de disparo a disparo. Una vez obtenido esto, apague el láser.Coloque un filtro de densidad neutra entre dos iris en la trayectoria del haz antes de encender nuevamente el láser. Repita los pasos de medición para esta configuración con diferentes filtros de densidad neutra. Idealmente, las mediciones se realizarán con potencias que abarquen dos órdenes de magnitud.Este gráfico logarítmico corresponde a un ajuste de los datos de conductividad de microondas resueltos en el tiempo, utilizando un modelo cinético convolucionado con una función de respuesta instrumental gaussiana. Mediante un ajuste, es posible determinar los tiempos de vida de portadores y las densidades de trampas, así como caracterizar los procesos de recombinación directa y mediada por trampas. Cada traza en este gráfico representa una conductividad transitoria a una intensidad de excitación entre 10 a la 12 y 10 a la 14 protones observados por centímetro cuadrado.Las intensidades se variaron utilizando filtros de densidad neutra. Los datos de conductividad transitoria permiten extraer la dependencia de la intensidad respecto a la movilidad total de portadores. La longitud de onda de excitación para estos datos es de 530 nanómetros.Estos trazos representan una descomposición de un trazo de CMRT en contribuciones provenientes de las componentes real e imaginaria de la conductividad. Los trazos rojos muestran datos tomados a la frecuencia de resonancia de la cavidad cargada oscura. El trazo verde muestra la disminución de la parte real de la conductividad.La descomposición de la polarización está en azul. La cola de descomposición de la polarización en azul es significativamente menor que la de la conductividad en verde. Esto es consistente con una descomposición mediante estados de trampa localizados.Una vez dominado, cada trazo de MRTC puede obtenerse en pocos minutos. Al realizar estos experimentos, es importante registrar correctamente todos los ajustes de potencia del láser, incluyendo la potencia de salida de la fibra, la longitud de onda y cualquier filtro de densidad neutra utilizado. Las mediciones de fotoluminiscencia resueltas en el tiempo pueden usarse junto con las mediciones de MRTC para separar las vías de recombinación directas de los procesos combinados de recombinación medidos mediante MRTC.Esta técnica allanó el camino para explorar los procesos de recombinación de portadores de carga en una amplia gama de materiales semiconductores, incluidos sensibilizadores fotovoltaicos de capa delgada, nanotubos de carbono y nanopartículas de dióxido de titanio. No olvide que trabajar con láseres de alta potencia puede ser extremadamente peligroso y siempre se deben tomar precauciones, como encerrar el haz láser y usar gafas adecuadas.

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Fotovoltaicos orgánicos (OPV) materiales son inherentemente no homogénea a escala nanométrica. Falta de homogeneidad de escala nanométrica de materiales OPV afecta al rendimiento de los dispositivos fotovoltaicos. En este trabajo se describe un protocolo para las mediciones cuantitativas de las propiedades eléctricas y mecánicas de los materiales de la OPV con resolución sub-100 nm.

Conductividad concurrente cuantitativa y Medidas propiedades mecánicas de los materiales fotovoltaicos orgánicos utilizando AFM

Se ha avanzado en la utilización de la dispersión de incidencia de pastoreo resuelta por eco de espín (SERGIS) como una técnica de dispersión de neutrones para sondear las escalas de longitud en muestras irregulares. Cristalitos de [6,6]-fenil-C61-butírico ácido éster metílico han sido sondeados utilizando la técnica SERGIS y los resultados confirmados por microscopía óptica y de fuerza atómica.

Uso de neutron spin echo resuelto grazing incidencia dispersión para investigar materiales orgánicos de células solares

Estructuras desordenadas ofrecen nuevos mecanismos para la formación de bandas prohibidas fotónicos y libertad sin precedentes en el diseño funcional de defectos. Para eludir los retos computacionales de los sistemas desordenados, construimos muestras macroscópicas modulares de la nueva clase de materiales PBG y usamos microondas para caracterizar sus propiedades fotónicas escala invariante, de una manera fácil y barata.

El uso de microondas y muestras macroscópicas de dieléctricos sólidos para estudiar las propiedades fotónicas de desordenados Fotónicas materiales de banda prohibida

El sulfuro de estaño (SnS) es un material candidato para células solares no tóxicas y abundantes en la Tierra. Aquí, demostramos el procedimiento de fabricación de las células solares SnS que emplean la deposición de capas atómicas, que produce una eficiencia de conversión de energía certificada del 4,36%, y la evaporación térmica, que produce un 3,88%.

Haciendo eficiencia Registro SnS Células solares por evaporación térmica y la deposición de capas atómicas

A continuación, se presenta un protocolo para la fabricación de células solares de película delgada orgánica utilizando un revestidor de troquel mini-ranura y relacionados caracterizaciones estructura en línea utilizando técnicas de dispersión de sincrotrón.

La fabricación de la impresión a granel heterounión células solares y In Situ Morfología Caracterización

Las propiedades ópticas, eléctricas y estructurales de las dislocaciones y de los límites de grano en materiales semiconductores pueden determinarse mediante experimentos realizados en un microscopio electrónico de barrido. La microscopía electrónica se ha utilizado para investigar la cátodoluminiscencia, la corriente inducida por haz de electrones y la difracción de electrones retrodispersados.

Caracterización integral de defectos extendidos en materiales semiconductores por un microscopio electrónico de barrido

Se presenta un protocolo para la medición de conductividad eléctrica de biofilms microbianos vivos en condiciones fisiológicamente relevantes.

Caracterizar el transporte de electrones a través de Biofilms de vida

Aquí, presentamos los protocolos de análisis de la detección diferencial de tiempo resuelto infrarrojo vibracionales espectroscopía electrónica difracción y que permiten observaciones de las deformaciones de las estructuras locales alrededor de las moléculas fotoexcitado en un cilíndrico cristal líquido, dando un punto de vista atómico sobre la relación entre la estructura y la dinámica de este material fotoactivos.

Nuevas técnicas para la observación de la dinámica estructural de los cristales líquidos Photoresponsive

Como uno de los parámetros físicos importantes en semiconductores, vida de portador se mide aquí mediante un protocolo que emplea el método de decaimiento de fotoconductividad de microondas.

Portador de por vida medidas en semiconductores a través del método de decaimiento de fotoconductividad de microondas

Se describe una configuración para las mediciones de corriente inducidas por haz de rayos X en líneas de haz sincrotron. Revela el rendimiento a nanoescala de las células solares y amplía el conjunto de técnicas para la microscopía de rayos X multimodal. Desde el cableado hasta la optimización de señal a ruido, se muestra cómo realizar mediciones XBIC de última generación en una microsonda de rayos X duro.

Mediciones de corriente inducidas por haz de rayos X para microscopía de rayos X multimodal de células solares

Aprende a medir la recombinación de portadores de carga en materiales fotovoltaicos de capa fina mediante la técnica TRMC sin contacto eléctrico. Este método permite distinguir entre recombinación directa y mediada por trampas en perovskitas.

La recombinación Dinámica de capa fina en materiales fotovoltaicos a través de conductividad de microondas resuelta en el tiempo (Video) | JoVE Journal

La recombinación Dinámica de capa fina en materiales fotovoltaicos a través de conductividad de microondas resuelta en el tiempo

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