Medidas de largo alcance correlaciones electrónicas durante los experimentos de difracción de femtosegundo realizadas en nanocristales de buckminsterfullereno

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22 de agosto de 2017

10.3791/56296-v

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¹ARC Centre of Excellence in Advanced Molecular Imaging, School of Physics, University of Melbourne, ²Australian Research Council (ARC) Centre of Excellence in Advanced Molecular Imaging, Department of Chemistry and Physics, La Trobe Institute for Molecular Sciences, La Trobe University, ³Department of Physics, Imperial College London, ⁴Florey Institute of Neuroscience and Mental Health, ⁵Science and Engineering Faculty, Queensland University of Technology, ⁶Swinburne University of Technology, ⁷Department of Engineering Science, University of Oxford, ⁸Brookhaven National Laboratory, ⁹Linac Coherent Light Source, SLAC National Accelerator Laboratory, ¹⁰BioXFEL Science and Technology Center, ¹¹Laboratory of Molecular Biophysics, Department of Cell and Molecular Biology, Uppsala University, ¹²Australian Synchrotron

Se describe un experimento diseñado para probar los daños electrónicos en nanocristales de buckminsterfullereno (C₆₀) por intenso, femtosecond pulsos de rayos x. El experimento encontró que, sorprendentemente, en lugar de ser estocásticos, los rayos x inducida por electrónica dinámica en C₆₀está altamente correlacionada, extendiéndose sobre cientos de células de la unidad dentro de los cristales¹.