Sondeo de la superficie de la actividad electroquímica de los nanomateriales utilizando un microscopio híbrido de barrido de fuerza atómica-microscopio electroquímico (AFM-SECM)

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10 de febrero de 2021

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La microscopía de fuerza atómica (AFM) combinada con la microscopía electroquímica de barrido (SECM), es decir, AFM-SECM, se puede utilizar para adquirir simultáneamente información topográfica y electroquímica de alta resolución en superficies de materiales a nanoescala. Esta información es fundamental para comprender las propiedades heterogéneas (por ejemplo, reactividad, defectos y sitios de reacción) en superficies locales de nanomateriales, electrodos y biomateriales.

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Microscop a Electroqu mica de Barrido

Chapters in this video

0:04

Introduction

1:17

Sample Preparation for AFM-SECM

2:01

Setup and Operation of AFM-SECM

6:24

Results: Topography and Current Imaging of ONBs and Cu2O NPs by AFM-SECM

7:33

Conclusion

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