Optimización de la resolución y sensibilidad de la microscopía de fuerza magnética para visualizar dominios magnéticos a nanoescala

La microscopía de fuerza magnética, o MFM, emplea una sonda de microscopía de fuerza atómica magnetizada verticalmente para medir la topografía de la muestra y la intensidad del campo magnético local con resolución a nanoescala. Al equilibrar la disminución de la altura de elevación con el aumento de la amplitud de la unidad o la oscilación, se pueden optimizar la resolución espacial y la sensibilidad de las máquinas digitales multifuncionales. Las aplicaciones de computación de ondas de espín artificiales se basan en el conocimiento de las texturas de magnetización de nanoelementos a medida que determinan la respuesta magnónica.

La MFM de alta resolución permite la identificación de estados de magnetización global helados. Demostrando el procedimiento estará Olivia Maryon, una estudiante de doctorado actual en ciencia e ingeniería de materiales en la Universidad Estatal de Boise, una ex investigadora de AFM de pregrado para mi laboratorio. Para comenzar, abra el software de control AFM y seleccione el espacio de trabajo MFM en la categoría y el grupo de experimentos Modos de elevación magnética eléctrica.