Name: La técnica de termoreflectancia en el dominio de la frecuencia para mediciones de propiedades térmicas (Video) | JoVE Journal
Uploaded: 2025-12-05T13:25:00.000+00:00
Duration: 9 min 10 s
Description: Aprende la técnica FDTR para caracterización térmica no destructiva de materiales con resolución micrométrica. Este método permite mapear propiedades térmicas locales y analizar el impacto de defectos microscópicos en la conectividad térmica.

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<table><tbody><tr><td>Etapa NanoMax de 3 ejes, accionamientos de motores paso a paso</td><td>Thorlabs</td><td>MAX383</td><td>Etapa de traducción de ejemplo</td></tr><tr><td>Láser de onda continua de 532 nm</td><td>EspectroFísica</td><td>SPFL 532-20</td><td>Láser sonda</td></tr><tr><td>Jubón acromático, f=150mm, 2"</td><td>Thorlabs</td><td>AC508-150-C-ML</td><td>Lentes de relevo en el sistema óptico de imagen 4-f que se utilizan para obtener imágenes del centro del escáner Gimbal en la apertura trasera del objetivo del microscopio</td></tr><tr><td>Cubo divisor de haz</td><td>Thorlabs</td><td>BS019</td><td>Óptica</td></tr><tr><td>Medidor de Potencia/Energía de banda ancha</td><td>Melles Griot</td><td>13PEM001</td><td>Para medir las potencias del láser</td></tr><tr><td>Controlador de Picomotor de Circuito Cerrado</td><td>Nuevo enfoque</td><td>8743-CL</td><td>Para escanear el haz de bombeo en la superficie de la muestra</td></tr><tr><td>Cámara CMOS en color</td><td>Thorlabs</td><td>CS165CU1</td><td>Para la imagen de la superficie de la muestra</td></tr><tr><td>Fuente de alimentación con corriente limitada</td><td>Nuevo enfoque</td><td>901</td><td>Para alimentar el fotodetector de alta velocidad</td></tr><tr><td>Amplificador de fibra</td><td>Fotónica IPG</td><td>LDR-3U</td><td>Láser de bombeo</td></tr><tr><td>Aislador de espacio libre, 1550 nm</td><td>Thorlabs</td><td>IO-5-1550-HP</td><td>Para evitar retrorreflejos del láser de bombeo en el amplificador de fibra</td></tr><tr><td>Aislador de espacio libre, 532 nm</td><td>Thorlabs</td><td>IO-3-532-LP</td><td>Para evitar retrorreflejos del láser sonda hacia el láser de diodo</td></tr><tr><td>Generador de Función / Forma de Onda Arbitraria</td><td>Agilent</td><td>33220A</td><td>Para modular la intensidad del láser de bombeo</td></tr><tr><td>Montaje óptico de cardán</td><td>Newport</td><td>605-2</td><td>Para escanear el haz de bombeo en la superficie de la muestra</td></tr><tr><td>Espejos dorados, 1"</td><td>Thorlabs</td><td>PF10-03-M01</td><td>Espejos de alta reflectividad para el láser de bombeo</td></tr><tr><td>Media Placa de Onda (1550)</td><td>Thorlabs</td><td>WPH05M-1550</td><td>Óptica de polarización</td></tr><tr><td>Media placa de onda (532 nm)</td><td>Thorlabs</td><td></td><td>Óptica de polarización</td></tr><tr><td>Fotorreceptor IR de 1 GHz de bajo ruido</td><td>Nuevo enfoque</td><td>1611</td><td>Para monitorizar la intensidad modulada del láser de bombeo</td></tr><tr><td>Controlador de diodo láser</td><td>ILX Onda de Luz &nbsp;</td><td>LDC-3742B</td><td>Para controlar la intensidad láser de la bomba de semillas</td></tr><tr><td>Amplificador de bloqueo</td><td>Stanford Research Systems</td><td>SR844</td><td>Para mediciones de alta frecuencia</td></tr><tr><td>Amplificador de bloqueo</td><td>Stanford Research Systems</td><td>SR830</td><td>Para mediciones de baja frecuencia</td></tr><tr><td>Controlador mecánico de helicóptero</td><td>Sistemas de Investigación de Stanford</td><td>SR540</td><td>Para modular la intensidad del haz de la sonda</td></tr><tr><td>MgO:PPLN Crystal</td><td>Covesion</td><td></td><td>Cristal de generación de segundo armónico para duplicar la frecuencia del láser de bombeo de 1550 nm a la fuente de luz de referencia de 775 nm</td></tr><tr><td>Cubo divisor de haz polarizador</td><td>Thorlabs</td><td>PBS254</td><td>Óptica de polarización</td></tr><tr><td>Generador de señales RF</td><td>Agilent</td><td>N9310A</td><td>Para modular la intensidad del láser de bombeo</td></tr><tr><td>Controlador de motor paso a paso</td><td>Thorlabs</td><td>BSC200</td><td>Controlador para la etapa de traducción de muestras</td></tr><tr><td>Controlador de temperatura</td><td>Covesion</td><td>OC1</td><td>Para controlar la temperatura del cristal de MgO:PPLN</td></tr><tr><td>Receptor Fotorreceptor Visible de 1 GHz de bajo ruido</td><td>Nuevo enfoque</td><td>1601</td><td>Para monitorizar la señal de termoreflectancia</td></tr></tbody></table>

la técnica de termoreflectancia en el dominio de la frecuencia para mediciones de propiedades térmicas

The Frequency Domain Thermoreflectance Technique for Thermal Property Measurements

La técnica de termoreflectancia en el dominio de la frecuencia para mediciones de propiedades térmicas

The frequency domain thermoreflectance (FDTR) technique is a nondestructive method for thermal characterization and imaging with microscale spatial ...

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