Microscope à Force Atomique

La microscopie à force atomique ou AFM génère une image à l’aide d’une nanosonde pour fournir des informations topographiques sur un échantillon avec une résolution nanométrique.

Alors qu’un microscope optique peut grossir jusqu’à 1000X, le potentiel de grossissement de l’AFM est jusqu’à 1 000 000X.

L’AFM peut créer des images d’échantillons fixes et vivants, ce qui lui permet de capturer des processus cellulaires dynamiques tels que la dynamique de l’actine.

La nanosonde AFM est fixée à l’extrémité d’un cantilever flexible et, ensemble, elles scannent l’échantillon. La sonde suit les contours de la surface de l’échantillon, se déplaçant de haut en bas, ce qui déplace le porte-à-faux.

Dans un type d’AFM, un faisceau laser est dirigé vers le cantilever et, lorsqu’il se déplace, la réflexion du laser se déplace également.

Un photodétecteur sensible à la position enregistre la déviation du faisceau laser.

Les données sont envoyées à un ordinateur où un logiciel peut les traiter pour générer une image tridimensionnelle de la surface de l’échantillon.