L’aérosol-assisted CVD de ZnCl2 dissous dans l’éthanol conduit à la formation de grisâtres uniformes et adhérentes de films sur des plaquettes de silicium nu (relativement facilement abrasées mécaniquement). Caractérisation des films à l’aide de la microscopie électronique à balayage (SEM) au-dessus de 8 000 X grossissement affiche quasi alignés tiges de ZnO en forme hexagonales avec des longueurs de ∼1, 600 et un diamètre de ∼380 nm (Figure 2). Des erreurs importantes dans la consigne de température ou la présence de gradients de température le long du substrat pendant la CVD peuvent provoquer le dépôt des autres morphologies de ZnO ()Figure 3) ou les films avec des structures non uniforme. En outre, revêtements inégaux ou non adhérents peuvent être liés en partie au contrôle de température faible, un mauvais réglage du débit, et/ou l’utilisation d’un solvant de porteur différent de celui spécifié dans le présent protocole.
Analyse de la diffraction des rayons x (DRX) des tiges montre des patrons de diffraction associés à une phase hexagonale de ZnO (P63mc groupe d’espace a = 3.2490 Å, b = 3.2490 Å et c = 5.2050 Å ; ICCD carte no 5-0664). Ces patrons affichent un pic de diffraction de haute intensité à 34,34 ° 2θ, correspondant au plan de la phase hexagonale de ZnO, ainsi que d’autres sept pics de diffraction de faible intensité à 31,75, 36,25, 47.54, 56,55, 62,87, 67.92, (002) et 72,61 ° 2θ, correspondant à le (100) (101) (102) (110) (103) (201) et (004) des avions de la phase hexagonale de ZnO, respectivement. Caractérisation des tiges par microscopie électronique à transmission haute résolution (TEM) montre marquée espacement planaire (0,26 nm) compatible avec le réseau interne de l’avion (002) (d = 0.26025 nm) de la phase hexagonale de ZnO identifiée par XRD. Spectroscopie dispersive en énergie de rayons x (EDX) montre la présence de Zn avec contamination de chlore relativement faible (trouvée pour at.% Cl:Zn 0.05).
L’estimation de l’optique à bande interdite des tiges au moyen de mesures de réflectance diffuse des films indique un bandgap optique de 3,2 eV, conforme aux valeurs de la littérature pour ZnO10. L’analyse des films à l’aide de la spectroscopie de photoélectrons (XPS) est caractérisée par Zn 2p1/2 et de niveau de base Zn 2p3/2 pics de spectres à 1 045 et 1 022 eV, respectivement, conformément avec ceux observés précédemment pour ZnO11,12.
L’utilisation de ce protocole sur des plates-formes de micro-usinés à base de silicium destinées à gaz détection de plomb à l’intégration directe des tiges de ZnO colonnaires confiné sur la plage de détection-active (400 x 400 µm2), qui est définie par un masque d’ombre. La résistance électrique des films est l’ordre de kΩ (kΩ 100 ∼) mesurée à la température ambiante à l’aide d’électrodes interdigitées intégrée sur la plateforme de micro-usinés à base de silicium. Figure 4 affiche l’image d’un tableau de quatre capteurs de gaz micro-usines, basé sur des tiges de CVD assistée par aérosol. Les caractéristiques et les processus de fabrication pour les micro-usinés plates-formes ont été décrits précédemment13. Ces microsystèmes sont sensibles à la relative faible concentration de monoxyde de carbone, avec les réponses maximales enregistrées (à l’aide d’un gaz en continu débit test chambre13) lorsque les capteurs ont été opérés à 360 ° C à l’aide de la microheaters résistive intégrée dans le système (Figure 5).

Figure 1 : Une vue schématique du système aérosol-assisted CVD.

Figure 2 : Haut (A) et transversale (B) SEM Images des tiges ZnO déposés via aérosol-Assisted CVD. S’il vous plaît cliquez ici pour visionner une version agrandie de cette figure.

Figure 3 : Images de coupe transversale SEM de ZnO déposés via aérosol-assisted CVD à 300 (A), 400 (B), 500 (C) et 600 ° C (D). S’il vous plaît cliquez ici pour visionner une version agrandie de cette figure.

Figure 4 : Plateforme de micro-usinés à base de silicium avec 4 microcapteurs monté sur un paquet de TO8 (A), et une vue détaillée d’un microcapteur (B) et les tiges de ZnO déposés sur le bord d’une électrode (C). S’il vous plaît cliquez ici pour visionner une version agrandie de cette figure.

Figure 5 : Changements de la résistance électrique des tiges ZnO vers diverses Concentrations (25, 20, 10 et 5 ppm), de monoxyde de carbone. S’il vous plaît cliquez ici pour visionner une version agrandie de cette figure.