Nanotopology d'adhésion cellulaire sur Microscopie à angle variable de fluorescence à réflexion interne totale (VA-TIRFM)

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09:14 min

2 octobre 2012

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2 octobre 2012

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Topologie de l'adhésion cellulaire sur un substrat est mesurée avec une précision nanométrique par microscopie à angle variable fluorescence à réflexion interne totale (VA-TIRFM).

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TIRFM à angle variable

Chapters in this video

0:05

Titre

1:40

Ensemencement et incubation des cellules

2:47

VA-TIRFM

5:26

Analyse des données

6:45

Résultats : Calcul des distances cellule-substrat dans des cellules de glioblastome

8:32

Conclusion

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