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Nanotopology d'adhésion cellulaire sur Microscopie à angle variable de fluorescence à réflexion interne totale (VA-TIRFM)
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Cité par 7
09:14 min
2 octobre 2012
Topologie de l'adhésion cellulaire sur un substrat est mesurée avec une précision nanométrique par microscopie à angle variable fluorescence à réflexion interne totale (VA-TIRFM).
Chapters in this video
0:05
Title
1:40
Seeding and Incubation of Cells
2:47
VA-TIRFM
5:26
Data Analysis
6:45
Results: Calculation of Cell-substrate Distances in Glioblastoma Cells
8:32
Conclusion
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