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11:30 min
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6 mars 2017
6 mars 2017
•Une technique de conductivité micro-ondes résolue en temps pour étudier la dynamique de recombinaison directe et médiée par piège et déterminer les mobilités porteuses des semi-conducteurs à couche mince est présentée ici.
Chapters in this video
0:05
Titre
0:38
Préparation de l'expérience
1:41
Couplage du laser en espace libre dans une fibre
2:41
Mesure du facteur de perte de la cavité et montage de l'échantillon
3:51
Étalonnage de la sensibilité de la cavité
5:10
Détermination des paramètres de mesure optimaux
7:17
Mesure des traces de conductivité micro-onde résolue en temps en fonction de la fréquence de la sonde micro-onde
8:01
Série de données dépendantes de l'intensité
9:00
Résultats : Caractérisation par conductivité micro-onde résolue en temps de la dynamique de recombinaison dans le CH3NH3PbI3
10:29
Conclusion
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