Name: La technique de thermoréflectance en domaine fréquentiel pour les mesures des propriétés thermiques (Vidéo) | JoVE Journal
Uploaded: 2025-12-05T13:25:00.000+00:00
Duration: 9 min 10 s
Description: Découvrez la technique FDTR pour la caractérisation thermique non destructive des matériaux à l'échelle microscopique. Cette méthode permet d'imager les propriétés thermiques locales et d'étudier l'impact des défauts microscopiques.

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<table><tbody><tr><td>Étage NanoMax à 3 axes, entraînements à moteur pas à pas</td><td>Thorlabs</td><td>MAX383</td><td>Exemple d’étape de traduction</td></tr><tr><td>Laser à ondes continues de 532 nm</td><td>SpectraPhysique</td><td>SPFL 532-20</td><td>Laser sonde</td></tr><tr><td>Doublet achromatique, f=150mm, 2"</td><td>Thorlabs</td><td>AC508-150-C-ML</td><td>Objectifs relais dans le système d’imagerie optique 4-f utilisés pour imager le centre du scanner Gimbal jusqu’à l’ouverture arrière de l’objectif du microscope</td></tr><tr><td>Cube diviseur de faisceau</td><td>Thorlabs</td><td>BS019</td><td>Optique</td></tr><tr><td>Compteur de puissance/énergie à large bande</td><td>Melles Griot</td><td>13PEM001</td><td>Pour mesurer les puissances des lasers</td></tr><tr><td>Contrôleur picomoteur en boucle fermée</td><td>Nouvelle orientation</td><td>8743-CL</td><td>Pour le balayage du faisceau de pompage sur la surface de l’échantillon</td></tr><tr><td>Caméra CMOS couleur</td><td>Thorlabs</td><td>CS165CU1</td><td>Pour l’imagerie de la surface de l’échantillon</td></tr><tr><td>Alimentation à courant limité</td><td>Nouvelle orientation</td><td>901</td><td>Pour alimenter le photodétecteur à grande vitesse</td></tr><tr><td>Amplificateur à fibre</td><td>IPG Photonique</td><td>LDR-3U</td><td>Laser à pompe</td></tr><tr><td>Isolateur d’espace libre, 1550 nm</td><td>Thorlabs</td><td>IO-5-1550-HP</td><td>Pour éviter les réflexions arrière du laser à pompe dans l’amplificateur à fibre</td></tr><tr><td>Isolateur à espace libre, 532 nm</td><td>Thorlabs</td><td>IO-3-532-LP</td><td>Pour empêcher les réflexions rétro du laser sonde dans le laser à diode</td></tr><tr><td>Fonction / Générateur de formes d’onde arbitraires</td><td>Agilent</td><td>33220A</td><td>Pour moduler l’intensité du laser de pompage</td></tr><tr><td>Monture optique à cardan</td><td>Newport</td><td>605-2</td><td>Pour le balayage du faisceau de pompage sur la surface de l’échantillon</td></tr><tr><td>Miroirs dorés, 1"</td><td>Thorlabs</td><td>PF10-03-M01</td><td>Miroirs à haute réflectivité pour le laser à pompe</td></tr><tr><td>Demi-plaque d’onde (1550)</td><td>Thorlabs</td><td>WPH05M-1550</td><td>Optique de polarisation</td></tr><tr><td>Demi-plaque d’onde (532 nm)</td><td>Thorlabs</td><td></td><td>Optique de polarisation</td></tr><tr><td>Photorécepteur infrarouge 1 GHz à faible bruit</td><td>Nouvelle orientation</td><td>1611</td><td>Pour surveiller l’intensité modulée du laser à pompe</td></tr><tr><td>Contrôleur de diode laser</td><td>ILX Ondes lumineuses & nbsp ;</td><td>LDC-3742B</td><td>Pour contrôler l’intensité laser de la pompe de graines</td></tr><tr><td>Amplificateur verrouillé</td><td>Systèmes de recherche de Stanford</td><td>SR844</td><td>Pour les mesures à haute fréquence</td></tr><tr><td>Amplificateur verrouillé</td><td>Systèmes de recherche de Stanford</td><td>SR830</td><td>Pour les mesures à basse fréquence</td></tr><tr><td>Contrôleur de Chopper Mécanique</td><td>Systèmes de recherche de Stanford</td><td>SR540</td><td>Pour moduler l’intensité du faisceau de la sonde</td></tr><tr><td>MgO :PPLN Crystal</td><td>Covesion</td><td></td><td>Cristal de génération de seconde harmonique pour doubler la fréquence du laser à pompe de 1550 nm vers la source lumineuse de référence de 775 nm</td></tr><tr><td>Cube diviseur de faisceau polarisant</td><td>Thorlabs</td><td>PBS254</td><td>Optique de polarisation</td></tr><tr><td>Générateur de signal RF</td><td>Agilent</td><td>N9310A</td><td>Pour moduler l’intensité du laser de pompage</td></tr><tr><td>Contrôleur de moteur pas à pas</td><td>Thorlabs</td><td>BSC200</td><td>Contrôleur pour l’étape de traduction d’échantillons</td></tr><tr><td>Contrôleur de température</td><td>Covesion</td><td>OC1</td><td>Pour contrôler la température du cristal MgO :PPLN</td></tr><tr><td>Photorécepteur visible à faible bruit à 1 GHz</td><td>Nouvelle orientation</td><td>1601</td><td>Pour la surveillance du signal de thermoréflectance</td></tr></tbody></table>

la technique de thermoréflectance en domaine fréquentiel pour les mesures des propriétés thermiques

The Frequency Domain Thermoreflectance Technique for Thermal Property Measurements

La technique de thermoréflectance en domaine fréquentiel pour les mesures des propriétés thermiques

The frequency domain thermoreflectance (FDTR) technique is a nondestructive method for thermal characterization and imaging with microscale spatial ...

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