הדמיה של שלפוחיות ציאנובקטריאליות חוץ-תאיות באמצעות מיקרוסקופ אלקטרונים שידור

תקציר

מקור: Biller, S. J., et al. בידוד ואפיון שלפוחיות חוץ-תאיות ציאנובקטריאליות. J. Vis. Exp. (2022)

סרטון זה מדגים את הכנת השלפוחיות החוץ-תאיות של ציאנובקטריאליות למיקרוסקופ אלקטרונים על ידי צביעה שלילית, המאפשרת הדמיה ברזולוציה גבוהה של מורפולוגיה, גודל וטוהר השלפוחית לניתוחים מבניים והשוואתיים.

פרוטוקול

1. אפיון השלפוחיות המבודדות

1. בצע מיקרוסקופ אלקטרונים להעברת כתמים שליליים (ראה טבלת חומרים) (TEM - מיקרוסקופ אלקטרונים הולכה; גודל חלקיקים, מבנה, טוהר).
   1. כדי לשפר את איכות התמונה, פרוק זוהר את פני השטח של רשת TEM מצופה לשעבר באמצעות מערכת פריקת זוהר בהתאם להנחיות היצרן (ראה טבלת חומרים).
   2. יש למרוח בזהירות ~5 מיקרוליטר של דגימת השלפוחית ולהניח לשבת למשך 5 דקות.
      >הערה: דגימות עם ריכוזי שלפוחית >10⁹ מ"^ל-1 יתנו בדרך כלל את התוצאות הטובות ביותר; לדגימות מדוללות יותר יהיו מעט שלפוחיות לכל תמונה.
   3. הסר את הדגימה על ידי נגיעה בקצה הרשת בפיסת נייר סינון נקי.
   4. יש לזרוק טיפה של 20-50 מיקרוליטר של אורניל אצטט 2% (ראו טבלת חומרים) על משטח ישר המכוסה בסרט פלסטיק, ולהניח את הרשת הצפה עליו למשך 2 דקות.
   5. הסר אורניל אצטט באמצעות נייר סינון וצף לזמן קצר על טיפת מים טהורים במיוחד לשטיפה. חזור על שטיפת המים בפעם השנייה.
      הערה: הרשת היבשה הסופית מוכנה להדמיה לאחר שלב 1.1.5.

חומרים

רשימת החומרים שנעשה בהם שימוש במאמר זה

שם	חברה	מספר קטלוג	הערות
2% Uranyl acetate solution	Electron Microscopy Sciences	22400-2	צביעה שלילית - TEM
Carbon Support Film 200 Mesh, נחושת. CF200-Cu	מדעי מיקרוסקופ אלקטרונים	71150	רשת מיקרוסקופ אלקטרונים שידור (TEM)
מערכת ניקוי פריקת זוהר	זוהר טד פלה	91000	מפרק זוהר רשת TEM מסחרי
Milli-Q מערכת טיהור מים ייחוס	Merck	Z00QSV0WW	מערכת טיהור מים להשגת מים בדרגה אולטרה-טהורה מסוג I
מיקרוסקופ אלקטרונים	הולכה JEOL	JEM-1400	או מיקרוסקופ דומה