9.7K צפיות
•
צוטט 7 פעמים
•
09:14 דק׳
•
2 באוקטובר 2012
2 באוקטובר 2012
•הטופולוגיה של הידבקות תא על מצע נמדדת בדייקנות ננומטר ידי מיקרוסקופי משתנה זווית הפנימית מוחלטת השתקפות פלואורסצנטי (VA-TIRFM).
Chapters in this video
0:05
Title
1:40
Seeding and Incubation of Cells
2:47
VA-TIRFM
5:26
Data Analysis
6:45
Results: Calculation of Cell-substrate Distances in Glioblastoma Cells
8:32
Conclusion
Related Videos
זכויות יוצרים © 2026 MyJoVE Corporation. כל הזכויות שמורות.