16 בינואר 2017
בדו"ח זה, אנו מתארים נהלים מפורטים לביצוע ניסויים עקיפים יחידים קריסטל רנטגן עם סדן תא יהלום על beamline 13-BM-C GSECARS על מקור הפוטון המתקדם. תוכניות ATREX ו RSV משמשות כדי לנתח את הנתונים.
המטרה הכוללת של טכניקת עקיפה גבישית בודדת בלחץ גבוה היא לקבוע את מבנה הגביש של מינרלים בסביבת הפנים העמוקה של כדור הארץ. מדד זה יכול לעזור לענות על שאלות מפתח בגיאופיזיקה ובגיאוכימיה כגון קביעת השלמת המינרלים והפחם של כדור הארץ, כולם מסבירים את הערכת ההמשכיות הללו בתוך כדור הארץ. היתרון העיקרי של טכניקה זו הוא שהיא לרוב אמצעי ישיר ופשוט לקביעת מבנה המינרלים בלחצים וטמפרטורות גבוהות.
התחל הליך זה בהכנת דגימה כמתואר בפרוטוקול הטקסט. הנח כמיליגרם אחד של אבקת הקסבוריד לנתנום במרכז הסיבוב של הדיפרקטומטר כדי לאסוף דפוסי עקיפה של אבקה במספר עמדות גלאי marCCD. אסוף את דפוסי עקיפה של האבקה על ידי לחיצה על כפתור ההתחלה בממשק marCCD EPICS.
השתמש בדפוס עקיפה זה כדי לכייל את מרחק דגימת הגלאי ואת ההטיה של גלאי marCCD. לאחר השלמת כיול הגלאי, הסר את תקן הלקסנום המשושה מהדיפרקטומטר. הנח את תא סדן היהלום או DAC במחזיק הדגימה.
לאחר מכן הנח את מחזיק המדגם על שלב הדגימה של הדיפרקטומטר. כדי להשיג את כל בקרות התנועה עם ממשק המשתמש של EPICS או EUI, סובב תחילה את ציר ה-phi כך שתא הדגימה יהיה בניצב למצלמת ה-view והזום על ידי הגדרת זווית ה-phi ל-120. לאחר מכן מצא את תא הדגימה עם מצלמת הצפייה בהגדלה המינימלית.
מרכזו את תמונת הדגימה על ידי שינוי הדגימה X, Y ו-Z ב-EUI. מקד את תמונת הדגימה על ידי התאמת המיקרוסקופ Z ב-EUI. לאחר מכן הגדל את התצוגה להגדלה המרבית.
יישר את תמונת תא הדגימה למרכז הצפייה במצלמה על ידי שינוי הדגימה X, Y ו-Z ב-EUI. התאימו את מיקום הדגימה לאורך הגישה של המצלמה עד שהיא תהיה במיקוד באמצעות מיקוד מצלמה שנקבע מראש כדי להעריך את המיקום של מרכז הסיבוב בכיוון זה. לאחר מכן סובב את זווית ה-phi ל-90 ב-EUI כך שתא הדגימה יהיה בניצב לקרן הרנטגן הפוגעת.
כדי לתקן תזוזה של דגימה ממרכז המכשיר לאורך ציר ה-DAC, השתמש בתוכנת Scan W. סרוק את מיקום ה-DAC בכיוונים אופקיים ואנכיים בניצב לצילום הרנטגן האירוע. השתמש בתרגומים ממונעים המובנים בגוניומטר תוך איסוף נתוני עוצמת אלומה משודרים עם גלאי דיודות צילום הממוקם מאחורי הדגימה.
מגלה דיודות הצילום מותקן על מפעיל נוימטי וניתן להזיז אותו פנימה והחוצה מהקרן מרחוק מתחנת הבקרה. מצא את המיקום המרכזי בסריקת העוצמה שנאספה המתאימה לשידור מקסימלי באמצעות הפונקציה המרכזית של Scan W.זהו מרכז תא הדגימה. ב-EUI סובב את הדגימה באמצעות גישת ה-phi של הגוניומטר בכמה מעלות וחזור על סריקת השידור האנכית.
חזור על הסריקה פעמיים בהיסטים חיוביים ושליליים כאחד. לאחר יישור הדגימה, אסוף את נתוני עקיפה של גביש יחיד עם תוכנת CCD DC. בהתחלה, אסוף סריקת phi עם דיודת צילום על ידי לחיצה על כפתור הסריקה בתוכנת Scan W.
סריקה זו קובעת את זווית הפתיחה המקסימלית ואת הצורה הפונקציונלית של אפקט הספיגה של סדני היהלום ולוחות הגיבוי. לאחר מכן מבוצעת חשיפת phi רחבה כדי לכסות את זווית הפתיחה המקסימלית שה-DAC מאפשר ואחריה סדרה של חשיפות phi צעד אחד. כדי לבצע שלב זה, הגדר את הטווח הכולל לזווית הפתיחה המקסימלית והגדר את מספר הצעדים לאותו מספר בתוכנת CCD DC.
אסוף סריקות phi רחבות במיקומי גלאים שונים על ידי ציון מיקום זרוע הגלאי בכיווני הדלתא וה-neu בתוכנת CCD DC. זה מאפשר גישה ליותר שיאי עקיפה. לאחר עיבוד הנתונים כמתואר בפרוטוקול הטקסט, חפש את שיאי העקיפה של הדגימות והתאים לעוצמות השיא.
לשם כך, פתח את חשיפת פי הזווית הרחבה בתוכנה. עבור לחלונית החיפוש וחפש את שיאי העקיפה בחשיפה בזווית רחבה. מחק ידנית את שיאי העקיפה הרוויים יתר על המידה מהיהלום ואת פסגות העקיפה קרוב לטבעות אטם האורניום.
התאם את פסגות העקיפה למיקומים ולעוצמות המדויקות שלהן. חפש את שיאי העקיפה של הדגימה עבור כל מיקומי הגלאים על ידי לחיצה על כפתור חיפוש השיא בתוכנה ושמור את טבלאות השיא המתאימות על ידי לחיצה על כפתור שמירת הפסגות. לאחר מכן, שחזר את התפלגות שיא העקיפה במרחב ההדדי על ידי פתיחת טבלת השיא עבור מיקום גלאי אחד.
כמו כן, פתח תמונה אחת בסריקת ה-phi השלב המשויכת לאותו מיקום גלאי. אם כיול הגלאי file עדיין לא הוקצה לסדרת קבצים זו, בחר את ה-cal המתאים file. עבור אל לוח הסריקה ולחץ על פרופיל המחשוב מכפתור הסריקה.
שלב זה ימצא את זווית ה-phi עבור כל שיא עקיפה שבו עוצמת השיא היא החזקה ביותר. שמור את קובץ ה- pks של טבלת השיא שהתקבל. לאחר מכן חזור על שלב זה עבור כל תמונות הסיבוב הרחב במיקומי גלאים שונים.
לאחר מכן, אינדקס את פסגות העקיפה באמצעות תוכנת RSV. תחילה, פתח את קובץ טבלת השיא הראשון. לאחר מכן השתמש בפונקציית ההוספה כדי למזג את כל טבלאות השיא הנוספות.
השתמש בתוסף RSV כדי למצוא את מטריצת ה-UB הראשונית של גביש זה וכדי ליצור אינדקס של שיאי העקיפה. התוכנה תחפש אוטומטית את מטריצת ה-UB הסבירה ביותר. פתח את מטריצת ה-UB הראשונית ב-RSV על ידי ייבוא קובץ ה-P4P.
לאחר מכן צמצם את מטריצת ה-UB עם מרווח d של כל שיא עקיפה באמצעות כפתור המרווח המעודן עם d. אם הסימטריה של הגביש ידועה, בחר את אילוצי מערכת הגביש המתאימים. כאשר העידון מתכנס, נקבעים מטריצת ה-UB האופטימלית ופרמטרי הסריג של הגביש.
שמור את מטריצת ה-UB המותאמת כקובץ UB. בתהליך חיפוש השיא הראשוני ייתכן שהתוכנית פספסה כמה פסגות בעצימות נמוכה שהן בעלות ערך בקביעת המבנה. כדי לחפש את הפסגות החסרות הללו, חזור לתוכנה ופתח את תמונת החשיפה של פי בזווית רחבה.
בלוח החיזוי, פתח את מטריצת ה-UB של הגביש והדמה את דפוס העקיפה. בפאנל הפסגה חפש את שיאי העקיפה הנצפים והסר את הפסגות שלא נצפו. התאימו את מיקומי השיא והעוצמות של הפסגות בלחיצה על לחצן התאמת השיא.
שמור את טבלת השיא לפני ייצוא טבלת השיא הממוזגת כמתואר בפרוטוקול הטקסט. תא הדגימה מיושר למרכז הסיבוב המתבצע על ידי סריקת תא הדגימה בצילום רנטגן. תא הדגימה סורק בכיוון הרגיל של קרני הרנטגן וסיבוב פי בתוספת דלתא פי ומינוס דלתא פי.
מוצגים כאן פרופילי שידור קרני הרנטגן של סריקות תא הדגימה בזוויות phi שונות. הקיזוזים של פרופילי שידור הרנטגן משמשים לחישוב תיקון המיקום לאורך כיוון צילום הרנטגן האירוע. לאחר מכן גלאי marCCD מכויל באמצעות תוכנת ניתוח הנתונים.
מוצג כאן דפוס עקיפה של אבקת הלנתנום המשושה המשמש לביצוע הכיול. חיפוש שיא העקיפה בוצע באמצעות תוכנת ניתוח הנתונים. בסך הכל נמצאו 63 שיאי עקיפה בתמונה בחשיפה רחבה זו.
אינדקס שיאי העקיפה מתבצע באופן אוטומטי על ידי התוכנה. מוצג כאן חישוב מטריצת UB של דגימת הגביש באמצעות תוכנת RSV. נמצאו 112 שיאי עקיפה עם אותה תמונת עקיפה באמצעות פונקציית חיזוי השיא.
לאחר שליטה, ניתן לבצע טכניקה זו תוך שעה עד שעתיים, אם היא מבוצעת כראוי. בעת ניסיון הליך זה חשוב לזכור ליישר את המאפיין הפשוט עם צילום הרנטגן כדי לקבל את שיא העקיפה הנכון במקרה זה. לאחר צפייה בסרטון זה, אתה אמור להבין היטב כיצד לבצע ניסויי עקיפה של גביש יחיד בלחץ גבוה.
ניתן לבצע אמצעים אחרים כמו עקיפה של קרני רנטגן באבקה בלחץ גבוה למחקרים בהכרת מבני גביש עם פחות זמן ניסוי. לאחר פיתוחה, טכניקה זו סללה את דרכה לחוקרים בתחום ההשפעות המינרליות לחקור את מבני המינרלים בתנאים עמוקים יותר של כדור הארץ.
הדו"ח מפרט נהלים לביצוע ניסויי עקיפת קרני רנטגן של גביש יחיד באמצעות תא סגירת יהלום. הטכניקה שמה לה למטרה לקבוע את המבנה הגבישי של מינרלים בלחץ גבוה, ומספקת תובנות לגבי תהליכים גיאופיזיים וגיאוכימיים.
High pressure single crystal X-ray diffraction using diamond anvil cells enables precise structural analysis of materials under extreme conditions, supporting early-stage discovery and mechanistic de-risking in pharmaceutical and materials R&D. The method's direct measurement and quantitative outputs provide predictive confidence for target validation and inform risk-adjusted portfolio decisions. Integration of advanced calibration and automated data analysis streamlines workflow positioning for enterprise-scale research environments.
This high pressure diffraction workflow bridges early discovery, screening, and preclinical research by providing standardized, quantitative structural data for hypothesis testing and mechanistic de-risking.