הכנת חלקיקים לניתוח ToF-SIMS ו- XPS
11K צפיות
•
צוטט 14 פעמים
•
06:24 דק׳
•
13 בספטמבר 2020
13 בספטמבר 2020
•מספר הליכים שונים להכנת חלקיקים לניתוח פני השטח מוצגים (יציקת טיפה, ציפוי ספין, תצהיר מאבקות, קריופיקסציה). אנו דנים באתגרים, בהזדמנויות וביישומים האפשריים של כל שיטה, במיוחד לגבי השינויים במאפייני פני השטח הנגרמים על ידי שיטות ההכנה השונות.
Chapters in this video
0:05
Introduction
0:45
Nanoparticle Suspension Preparation, Drop-Dry Deposition, and Spin Coating Deposition
2:24
Nanoparticle Powder Deposition
3:15
Nanoparticle Suspension Cryofixation
4:06
Results: Representative Nanoparticle Preparation for Time-of-Flight Secondary Ion Mass Spectrometry (ToF-SIMS) and X-Ray Photoelectron Spectroscopy (XPS) Analysis
5:41
Conclusion
Related Videos
זכויות יוצרים © 2026 MyJoVE Corporation. כל הזכויות שמורות.