Sistemi microscopio ad alta risoluzione con trappole ottiche consentono di intervenire precisa di vari oggetti rifrazione, come dielettrici perline uno o organelli cellulari 2,3, nonché per lettura ad alta risoluzione spaziale e temporale della loro posizione rispetto al centro della trappola. Il sistema qui descritto presenta uno di tali "tradizionale" trappola operante a 980 nm. Esso fornisce inoltre un secondo sistema intrappolamento ottico che utilizza un pacchetto olografico disponibile in commercio per creare e manipolare simultaneamente schemi di cattura complessi nel campo visivo del microscopio a 4,5 ad una lunghezza d'onda di 1064 nm. La combinazione dei due sistemi permette la manipolazione di oggetti multipli refrattivi allo stesso tempo mentre condurre simultaneamente misure ad alta risoluzione di moto e di produzione di forza a scala nanometrica e piconewton alta velocità e.