Aerosol-assisted CVD di ZnCl2 disciolto in etanolo porta alla formazione di film grigiastra uniforme e aderente su wafer di silicio nuda (relativamente facilmente abrase meccanicamente). Caratterizzazione di film utilizzando la microscopia elettronica a scansione (SEM) sopra 8.000 X ingrandimento consente di visualizzare quasi allineate canne ZnO a forma esagonale con lunghezze di ∼1, 600 e diametri di ∼380 nm (Figura 2). Grandi errori nella temperatura di set point o la presenza di gradienti di temperatura lungo il substrato durante il CVD possono causare la deposizione di altre morfologie di ZnO (nella figura 3) o film con strutture non uniforme. Inoltre, rivestimenti antiaderente o irregolari possono essere collegati in parte a scarso controllo della temperatura, regolazione errata del flusso, e/o l'uso di un solvente di vettore diverso da quello specificato in questo protocollo.
Analisi di diffrazione di raggi x (XRD) delle barre Mostra modelli di diffrazione associati a una fase esagonale di ZnO (P63mc gruppo spaziale, un = 3.2490 Å, b = 3.2490 Å e c = 5.2050 Å; ICCD scheda n. 5-0664). Questi modelli di mostrare un picco di diffrazione ad alta intensità a 2 θ 34,34 °, corrispondente al piano (002) della fase esagonale di ZnO, insieme ad altri sette picchi di diffrazione di bassa intensità al 31,75, 36.25, 47,54, 56.55, 62,87, 67,92 e 72,61 2 θ °, corrispondente a (100) (101) (102) (110) (103) (201) e (004) aerei della fase esagonale ZnO, rispettivamente. La caratterizzazione delle aste da microscopia elettronica di trasmissione ad alta risoluzione (TEM) dimostra contrassegnato spaziatura planare (0.26 nm) coerente con la grata interna dell'aereo (002) (d = 0.26025 nm) della fase esagonale ZnO identificata da XRD. Energia-dispersiva Spettroscopia di raggi x (EDX) dimostra la presenza di Zn con contaminazione di cloro relativamente basso (trovato per at.% Cl:Zn 0.05).
La stima della bandgap ottica delle aste mediante misure di riflettanza diffusa delle pellicole indica un bandgap ottico di 3,2 eV, coerente con i valori di letteratura per ZnO10. L'analisi dei film usando spettroscopia fotoelettronica a raggi x (XPS) è caratterizzata da Zn 2P1/2 e livello di base di Zn 2P3/2 picchi spettri a 1.045 e 1.022 eV, rispettivamente, coerente con quelli osservati in precedenza per ZnO11,12.
L'uso di questo protocollo su piattaforme basate sul silicio microlavorato destinati al piombo per l'integrazione diretta di canne di ZnO colonnare confinati nell'area di rilevamento-attivo (400 x 400 µm2), che è definito da una maschera ombra di sensori di gas. La resistenza elettrica dei film è nell'ordine di kΩ (∼ 100 kΩ) misurato alla temperatura ambiente utilizzando gli elettrodi interdigitating integrata le piattaforme basate sul silicio microlavorato. Figura 4 viene visualizzata un'immagine di una matrice di quattro sensori di gas di silicio microlavorato basato su canne CVD aerosol-assistita. Le caratteristiche e il processo di fabbricazione per il silicio microlavorato piattaforme sono state descritte precedentemente13. Questi microsistemi sono sensibili a relative basse concentrazioni di monossido di carbonio, con le risposte di massime registrate (utilizzando un gas continuo flusso prova camera13) quando i sensori sono stati funzionati a 360 ° C, utilizzando il microheaters resistivo integrato nel sistema (Figura 5).

Figura 1: Vista schematica del sistema Aerosol-assisted CVD.

Figura 2: Superiore (A) e trasversale (B) immagini al SEM delle aste ZnO depositate tramite Aerosol-Assisted CVD. Clicca qui per visualizzare una versione più grande di questa figura.

Figura 3: Immagini di SEM a sezione trasversale di ZnO depositano tramite Aerosol-assistita di CVD a 300 (A), 400 (B), (C) 500 e 600 ° C (D). Clicca qui per visualizzare una versione più grande di questa figura.

Figura 4: Basati sul silicio microlavorato piattaforma con 4 microsensori montato su un pacchetto di TO8 (A), e vista dettagliata di un Microsensor (B) e le aste di ZnO depositati sul bordo di un elettrodo (C). Clicca qui per visualizzare una versione più grande di questa figura.

Figura 5 : Cambiamenti di resistenza elettrica delle aste verso varie concentrazioni (25, 20, 10 e 5 ppm) di monossido di carbonio ZnO. Clicca qui per visualizzare una versione più grande di questa figura.