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Le immagini dell'SBF-SEM forniscono una panoramica del tessuto, fornendo informazioni sull'orientamento spaziale delle cellule e delle connessioni intercellulari (Figura 4A). La successiva imaging FIB-SEM su una nuova regione, che di solito è una regione di interesse determinata dopo l'ispezione dell'esecuzione sBF-SEM, aggiunge dettagli ad alta risoluzione di celle e/o strutture specifiche (Figura 4B).
Figura 4C ,D mostra la differenza nel rendering dei voxel non isotropici dei dati SBF-SEM (Figura 4C) e dei dati isotropici voxel FIB-SEM (Figura 4D). Lo spessore z utilizzato in SBF-SEM significa che il rendering mostra chiaramente le sezioni, con un effetto 'scala' sulla superficie. Nei dati FIB-SEM le sezioni 5 nm assicurano che il rendering sia molto più uniforme e le singole sezioni si fondono completamente nella superficie.

Figura 1: Creazione della faccia di blocco da un campione incorporato in resina. (A) Un root-tip incorporato nella resina. (B) Utilizzando una lama di rasoio la resina in eccesso viene tagliata fino a quando non rimane un blocco di 0,5 mm2. (C,D) Il blocco tagliato è incollato su un perno metallico e dopo una notte in forno, i lati del blocco vengono tagliati e la superficie levigata con un coltello di a diamante utilizzando un ultramicrotoma. (E) All'interno dell'SBF-SEM, il campione è orientato in modo che il blockface e ROI può essere riconosciuto, barra di scala 20 m. Fare clic qui per visualizzare una versione più grande di questa figura.

Figura 2: Correlazione tra SBF-SEM e FIB-SEM. Panoramica delle immagini della faccia del blocco utilizzando l'SBF-SEM (A) e il FIB-SEM (B), la barra della scala (C,D) zoom sul ROI. Scatola rossa delinea la regione da immaginare con FIB-SEM, barra della scala - 5 m. Si prega di fare clic qui per visualizzare una versione più grande di questa figura.

Figura 3: Schema FIB-SEM e passaggi di preparazione. (A) Schema che mostra l'orientamento della trave FIB, del fascio SEM e del campione. Il campione deve essere posizionato al punto di coincidenza delle travi FIB e SEM per poter fresare e immagini sulla stessa regione. (B) Disegno schematico della trincea necessaria per l'imaging SEM delle sezioni rimosse dalla FIB. (C) Immagine scattata con il fascio FIB che mostra la deposizione platinumsul sul ROI, barra in scala di 5 m. (D) Immagine scattata con il fascio FIB che mostra le linee utilizzate per la messa a fuoco automatica e il tracciamento 3D. Le linee al centro vengono utilizzate per la messa a fuoco automatica e le linee esterne forniscono il tracciamento 3D. Deposizione di carbonio in cima alle linee fornisce il contrasto necessario (platino vs carbonio) per eseguire queste attività, scalebar 5 s. (E) Immagine scattata con il fascio FIB dopo la fresatura della trincea, scalebar 5 (F) Immagine scattata con il fascio SEM che mostra la regione di interesse immagine durante l'esecuzione FIB-SEM, barra della scala di 2 m. Fare clic qui per visualizzare una versione più grande di questa figura.

Figura 4: risultati SBF-SEM e FIB-SEM prima e dopo la segmentazione. (A) Vista 3D del set di dati SBF-SEM (100 x 100 x 40 m, barra della scala - 10 m), (B) vista 3D del set di dati FIB-SEM (17 x 10 x 5,4 m, barra della scala x 2 m), (C) Rendering di vacuoles segmentati dai dati SBF-SEM per soglia, scala mented dai dati FIB-SEM per soglia, barra della scala - 2 m. Fare clic qui per visualizzare una versione più grande di questa figura.
| Protocollo per l'elaborazione a microonde |
| programma # | descrizione | Prompt utente (attivata/disattivata) | Tempo (hr:min:sec) | Potenza (Watt) | Temp (C) | Carica raffreddatore (spento/auto/on) | Vacuum/Bubbler Pump (ciclo off/bubb/vac/vac on/vap) | Temperatura stabile | |
| Pompa (accesa/disattivata) | Temp (C) |
| 8 | Tch | via | 0:01:00 | 150 | 50 | via | CICLO DEL VUOTO | su | 30 |
| via | 0:01:00 | 0 | 50 | via | CICLO DEL VUOTO | su | 30 |
| via | 0:01:00 | 150 | 50 | via | CICLO DEL VUOTO | su | 30 |
| 9 | Osmio | via | 0:02:00 | 100 | 50 | via | CICLO DEL VUOTO | su | 30 |
| via | 0:02:00 | 0 | 50 | via | CICLO DEL VUOTO | su | 30 |
| via | 0:02:00 | 100 | 50 | via | CICLO DEL VUOTO | su | 30 |
| via | 0:02:00 | 0 | 50 | via | CICLO DEL VUOTO | su | 30 |
| via | 0:02:00 | 100 | 50 | via | CICLO DEL VUOTO | su | 30 |
| 10 | 50% EtOH | su | 0:00:40 | 150 | 50 | via | via | su | 30 |
| 70% EtOH | su | 0:00:40 | 150 | 50 | via | via | su | 30 |
| 90% EtOH | su | 0:00:40 | 150 | 50 | via | via | su | 30 |
| 100% EtOH | su | 0:00:40 | 150 | 50 | via | via | su | 30 |
| 100% EtOH | su | 0:00:40 | 150 | 50 | via | via | su | 30 |
| 15 | 0,1 M CACODYLATE | su | 0:00:40 | 250 | 50 | via | CICLO DEL VUOTO | su | 30 |
| 0,1 M CACODYLATE | su | 0:00:40 | 250 | 50 | via | CICLO DEL VUOTO | su | 30 |
| 15 | ddH2O | su | 0:00:40 | 250 | 50 | via | CICLO DEL VUOTO | su | 30 |
| ddH2O | su | 0:00:40 | 250 | 50 | via | CICLO DEL VUOTO | su | 30 |
| 16 | Acetato di Uranyl | via | 0:01:00 | 150 | 50 | via | CICLO DEL VUOTO | su | 30 |
| via | 0:01:00 | 0 | 50 | via | CICLO DEL VUOTO | su | 30 |
| via | 0:01:00 | 150 | 50 | via | CICLO DEL VUOTO | su | 30 |
| via | 0:01:00 | 0 | 50 | via | CICLO DEL VUOTO | su | 30 |
| via | 0:01:00 | 150 | 50 | via | CICLO DEL VUOTO | su | 30 |
| via | 0:01:00 | 0 | 50 | via | CICLO DEL VUOTO | su | 30 |
| via | 0:01:00 | 150 | 50 | via | CICLO DEL VUOTO | su | 30 |
Tabella 1. Protocollo dettagliato per l'elaborazione a microonde.
| passo | attuale | Tempo stimato |
| Deposizione Platino | 3n A | 10-15 minuti |
| Ottimizzazione della fresatura e contrassegni di tracciamento | 50-100 pA | 4-6 minuti |
| Carbonio deposizione | 3 nA | 5-10 minuti |
| Fresatura Fossa Grossa | 15-30 nA | 30-50 minuti |
| Superficie di lucidatura | 1.5-3 nA | 15-20 minuti |
| Esecuzione di imaging | 700 pA-1,5 nA | Ore-giorni |
Tabella 2. Correnti di fresatura FIB utilizzate per la preparazione del campione e la conduzione dell'imaging