Nanotopology dell'adesione cellulare su angolo di inclinazione variabile Microscopia Total Internal Reflection Fluorescence (VA-TIRFM)

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2 ottobre 2012

10.3791/4133-v

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Topologia di adesione cellulare su un substrato viene misurata con precisione nanometrica variabile-angolo microscopia a fluorescenza di riflessione interna totale (VA-TIRFM).

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Variable Angle TIRFM

Chapters in this video

0:05

Title

1:40

Seeding and Incubation of Cells

2:47

VA-TIRFM

5:26

Data Analysis

6:45

Results: Calculation of Cell-substrate Distances in Glioblastoma Cells

8:32

Conclusion

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