Cryo-microscopia elettronica Preparazione del campione per mezzo di un Focused Ion Beam

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July 26th, 2014

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Cryo Electron Microscopi, sia a scansione (SEM) o trasmissione (TEM), sono ampiamente utilizzati per la caratterizzazione di campioni biologici o di altri materiali con un elevato contenuto di acqua 1. A SEM / Focused Ion Beam (FIB) viene utilizzato per identificare le caratteristiche di interesse in campioni ed estrarre una lamella sottile elettrone-trasparente per il trasferimento ad un crio-TEM.

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Cryo electron Microscopy

Chapters in this video

0:05

Title

1:25

Sample Freezing

3:21

Ion Milling

5:56

Cryo Transfer to TEM

8:54

Results: Visualization of Aspergillus niger Spores Using Cryo-microscopy

10:20

Conclusion

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