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कई दिशाओं के साथ एक्स-रे किरण जुटना के मापन 2-डी बिसात चरण झंझरी का उपयोग
Graphene-Assisted Quasi-van der Waals Epitaxy of AlN Film on Nano-Patterned Sapphire Substrate for Ultraviolet Light Emitting Diodes
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Fabrication of a Low-Cost, Fiber-Coupled, and Air-Spaced Fabry-Pérot Etalon (Video) | JoVE
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कई दिशाओं के साथ एक्स-रे किरण जुटना के मापन 2-डी बिसात चरण झंझरी का उपयोग

Article DOI: 10.3791/53025-v • 10:39 min • October 11th, 2016
October 11th, 2016 •
1,2, 1, 1, 1, 1
1X-ray Science Division, Advanced Photon Source, Argonne National Laboratory, 2Division of Science, Diamond Light Source Ltd.

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माप प्रोटोकॉल और डेटा विश्लेषण प्रक्रिया चार दिशाओं के साथ एक सिंक्रोटॉन विकिरण एक्स-रे स्रोत की अनुप्रस्थ जुटना प्राप्त करने के लिए एक साथ एक ही 2-डी बिसात चरण झंझरी प्रयोग करने के लिए दिया जाता है। इस सरल तकनीक का एक्स-रे स्रोतों और एक्स-रे प्रकाशिकी की पूरी अनुप्रस्थ जुटना लक्षण वर्णन के लिए लागू किया जा सकता है।

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इंजीनियरिंग अंक 116 जुटना इंटरफेरोमेट्री Metrological इंस्ट्रूमेंटेशन टैलबोट और आत्म-इमेजिंग प्रभाव विवर्तन gratings दृश्यता भौतिकी
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