Name: Crescita Epitaxy del fascio molecolare assistita dal plasma di Mg3N2 en 3N2 Thin Films (Video) | JoVE Journal
Uploaded: 2019-05-11T13:00:00.000+00:00
Duration: 13 min 5 s
Description: Scopri la crescita epitassiale di film sottili di Mg3N2 e Zn3N2 mediante epitassia a fascio molecolare assistita da plasma. Questo metodo consente di studiare semiconduttori II-V con struttura cristallina anti-bixbyite.

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Questo lavoro è stato sostenuto dal Natural Sciences and Engineering Research Council del Canada.

1. Preparazione del substrato MgO
NOTA: per la crescita della pellicola sottile X 3 N 2 (X ) e Mg sono stati impiegati per la crescita della pellicola sottile X3N2 (X ) e Mg.
<ol><li>Annessione ad alta temperatura<ol>
<li>Posizionare l'MgO su un portarone di cialco pulito con il lato lucido rivolto verso l'alto in un forno e anneal per 9 h a 1.000 gradi centigradi. Alzare la temperatura a 1000 gradi centigradi per un periodo di 10 min. NOTA: l'annealing ad alta temperatura rimuove il carbonio dalla superficie e ricostruisce la struttura cristallina della MgO a singolo cristallo.</li>
		<li>Raffreddare il MgO substrati alla temperatura ambiente (RT).</li>
	</ol>
</li>
	<li>Pulizia del substrato<ol>
<li>Raccogliere i substrati MgO annessi e risciacquare in acqua deionizzata in un bicchiere di vetro borosilicate pulito.</li>
		<li>Far bollire i substrati MgO in 100 mL di acetone in un bicchiere di vetro borosilicate da 250 ml per 30 min per rimuovere la contaminazione in organico dalla manipolazione. NOTA: Coprire il becher e non lasciare che l'acetone si asciughi.</li>
		<li>Scolare l'acetone e sciacquare i substrati MgO in 50 mL di metanolo.</li>
		<li>Asciugare a secco i substrati con gas di azoto, quindi conservare i substrati secchi e puliti nel vassoio del truciolo pulito.</li>
	</ol>
</li>
</ol>2. Funzionamento di VG V80 MBE
<ol><li>Aprire l'acqua di raffreddamento per la camera di preparazione, crioshroud sulla camera di crescita (vedere figura1), cellule di effusione, e sensore di microbilanciamento di cristallo di quarzo.</li>
	<li>Accendere il laser Ar-ion con una lunghezza d'onda di 488 nm. La luce laser viene portata alla camera MBE con una fibra ottica dal laser, che si trova in un'altra stanza.</li>
	<li>Accendere il fuoco di pistola di diffrazione di elettroni ad alta energia (RHEED), 13.56 Mhz radiofrequenza (rf) generatore di plasma, e sistema di microbilanciamento di cristallo di quarzo (QCM).</li>
</ol>3. Caricamento substrato
<ol><li>Blocco rapido dell'ingresso<ol>
<li>Montare un substrato MgO pulito sul supporto del campione molybdenum (Figura 2A) utilizzando le clip molla di tungsteno.</li>
		<li>Spegnere la pompa turbo sulla serratura ad ingresso veloce (FEL) e sfiatare la camera FEL con azoto. Aprire il FEL quando la pressione della camera raggiunge la pressione atmosferica.</li>
		<li>Rimuovere la cassetta del supporto del campionatore dal FEL e caricare il supporto del campione con il substrato nella cassetta.</li>
		<li>Caricare nuovamente la cassetta nel FEL e riaccendere la pompa turbo.</li>
		<li>Attendere che la pressione nel FEL scunisca a 10-6 Torr.</li>
		<li>Aumentare la temperatura della serratura di ingresso veloce a 100 gradi centigradi per un periodo di 5 min e degas i substrati con i supporti per 30 min nella serratura di ingresso veloce.</li>
	</ol>
</li>
	<li>Assicurarsi che la pressione nella serratura di entrata rapida sia inferiore a 10-7 Torr prima di aprire la valvola a vuoto nella camera di preparazione. Trasferire il supporto utilizzando il meccanismo di trasferimento del bastone oscillante alla camera di preparazione, quindi diramare la stazione di degassamento a 400 gradi centigradi e lasciarlo degas per 5 h.</li>
	<li>Trasferire il supporto degassato dal meccanismo di trasferimento del carrello al manipolatore del campione nella camera di crescita. Aumentare la temperatura del substrato fino a 750 gradi centigradi per un periodo di 30 min e lasciare che il campione esagi nel manipolatore per altri 30 min. Assicurarsi che l'acqua di raffreddamento sia accesa nel crioshroud per evitare di surriscaldare il crioshroud.</li>
	<li>Abbassate la temperatura del substrato a 150 gradi per la crescita della pellicolan 3N2 e di 330 gradi per la crescita della pellicola Mg3N2 utilizzando la termocoppia nel manipolatore campione per misurare la temperatura del campione.</li>
	<li>RHEED in loco<ol>
<li>Impostare la tensione sulla pistola elettronica a 15 kV e la corrente di filamento a 1,5 A una volta che la pressione della camera di crescita è inferiore a 1 x 10-7 Torr.</li>
		<li>Ruotare il supporto del substrato fino a 1) la pistola elettronica è allineata lungo un asse cristallografico principale del substrato e 2) è visibile un modello di diffrazione chiaro di elettroni a cristallo.</li>
		<li>Scattare una foto del modello RHEED e salvare l'immagine.</li>
	</ol>
</li>
	<li>Chiudere l'otturatore sulla cella di effusione e fermare il flusso di azoto. Misurare il modello RHEED per la pellicola depositata quando la pressione della camera è inferiore a 10-7 Torr.</li>
</ol>4. Misurazioni del flusso metallico
<ol><li>Utilizzare cellule effusioni di tipo tipo tipo III standard di gruppo III o cellule di effusione a bassa temperatura per Mg e N.</li>
	<li>Caricare i crogioli con 15 g e 25 g di alta purezza Mg e n colpo, rispettivamente.</li>
	<li>Quando la camera di crescita ha raggiunto un vuoto di 10-8 Torr o meglio, e prima di caricare il supporto del substrato, outgas le cellule di effusione di origine n o Mg fino a 250 gradi centigradi ad una velocità di rampa di 20 .</li>
	<li>Dopo che il substrato è stato caricato nel manipolatore del campione, riscaldare le cellule di effusione di N e/o Mg rispettivamente a 350 o 390 gradi centigradi, ad una velocità di rampa di 10 gradi centigradi/min, e attendere 10 minuti affinché si stabilizzino con le persiane chiuse.</li>
	<li>Utilizzare il monitor a cristalli di quarzo retrattile per misurare il flusso di metallo. Posizionare il sensore di cristallo di quarzo davanti al substrato all'interno della camera. Assicurarsi che il substrato sia completamente coperto dal rivelatore in modo che nessun metallo sia depositato sul substrato.</li>
	<li>Inserire la densità del metallo di interesse (7,14 g/cm3,MG - 1,74 g/cm3) nel controller del monitor di cristallo al quarzo (QCM).</li>
	<li>Per calibrare il flusso, aprire l'otturatore per una delle sorgenti metalliche e lasciare che la cella di effusione si depositi sul sensore. Il sistema QCM converte la sua misura interna della massa in spessore.</li>
	<li>Calcolare il flusso elementale dalla pendenza dello spessore crescente in funzione del tempo mostrato sul QCM. Il tasso di aumento dello spessore in pochi minuti è proporzionale al flusso elementare. In due casi di esempio, si ottiene un flusso di 0,45 nm/s e un flusso Mg di 1,0 nm/s.</li>
	<li>Modificare la temperatura delle cellule di effusione e ripetere il passaggio 4.8 se è necessaria la dipendenza di temperatura del flusso. La dipendenza di temperatura misurata del flusso di Mg e n è illustrata nella Figura 3 per questo specifico sistema di crescita.</li>
	<li>Una volta completate le misurazioni del flusso, chiudere le persiane sulle cellule di effusione e ritrarre il sensore di cristallo di quarzo.</li>
</ol>5. Plasma di azoto
<ol><li>Spegnere la corrente di filamento e l'alta tensione sulla pistola RHEED per evitare danni in presenza di un'alta pressione di gas N2 nella camera di crescita.</li>
	<li>Aprire la valvola di gas sull'alta pressione N2 cilindri.</li>
	<li>Aprire lentamente la valvola di perdita lentamente fino a quando la pressione dell'azoto nella camera di crescita raggiunge 3 x 10-5 -4x 10-5 Torr.</li>
	<li>Impostare la potenza del generatore di plasma su 300 W.</li>
	<li>Accendere il plasma con l'accensione sulla fonte del plasma. Un bagliore viola brillante sarà visibile dalla finestra quando il plasma si accende, come mostrato nella Figura 2B.</li>
	<li>Regolare il controllo sulla casella di corrispondenza rf per ridurre al minimo la potenza riflessa il più possibile. Una potenza riflessa inferiore a 15 W è buona; in questo caso, la potenza riflessa viene ridotta a 12 W.</li>
</ol>6. Dispersione della luce laser in situ
<ol><li>Concentrare la luce laser Argon tritata da 488 nm riflessa dal substrato nella camera di crescita sul fotodiodo Si in modo che un segnale elettrico possa essere rilevato dall'amplificatore lock-in. Ciò si ottiene regolando l'angolo del substrato ruotando il supporto del substrato intorno a due assi e regolando la posizione del rivelatore Si, quindi mettendo a fuoco l'obiettivo che raccoglie la luce riflessa come mostrato nella Figura 4.</li>
	<li>Aprire l'otturatore di una delle sorgenti metalliche.</li>
	<li>Registrare la riflettività dipendente dal tempo con un data logger controllato dal computer. La crescita di una pellicola epitassia leviale produrrà un segnale riflesso oscillato con il tempo associato all'interferenza ottica della pellicola sottile tra le superfici anteriore e posteriore della pellicola.</li>
	<li>Per proteggere la pellicola dall'ossidazione nell'aria, depositare uno strato di incapsulamento per proteggere la pellicola dall'ossidazione nell'aria. Questo è particolarmente importante per Mg3N2 che si ossida rapidamente in aria.</li>
	<li>Per depositare uno strato di incapsulamento MgO, chiudere il gas di azoto, passare al gas di ossigeno, ripetere il passaggio 5.3 e aumentare la pressione dell'ossigeno a 1 x 10-5 Torr.</li>
	<li>Impostare la potenza del generatore di plasma su 250 W e ripetere il passaggio 5.5. Il plasma inizia a una potenza rf inferiore con gas di ossigeno rispetto al gas di azoto.</li>
	<li>Aprire l'otturatore sulla sorgente Mg e ripetere il passaggio 6.4 per 5-10 min. NOTA: Questo produrrà un film MgO che è di circa 10 nm di spessore. I film Mg3N2 non conseriti sono gialli ma svaniscono rapidamente a un colore biancastro entro 20 s dopo l'esposizione all'aria. Di conseguenza, è necessario uno strato di incapsulamento per consentire le misurazioni sulle pellicole prima che si ossichino dopo la rimozione dalla camera a vuoto.</li>
	<li>Chiudere le valvole di gas, spegnere il laser e abbassare il substrato e le temperature delle cellule a 25 gradi centigradi in 30 min. spegnere l'acqua di raffreddamento e l'alimentazione rf alla fonte di plasma.</li>
	<li>Dopo diversi cicli di crescita, le finestre ottiche diventano ricoperte di metallo. Rimuovere il metallo avvolgendo la finestra in un foglio di alluminio e riscaldandolo con nastro riscaldante a 400 gradi centigradi e un tasso di rampa di temperatura di 15 s/min o più lento nel corso di un fine settimana.</li>
</ol>7. Determinazione del tasso di crescita
<ol><li>Utilizzare l'equazione 1 riportata di seguito per descrivere la riflettività ottica dell'esempio11,19. <img alt="Equation 1" src="/files/ftp_upload/59415/59415eq1.jpg" style="opacity: 0.9;">① dove: <img alt="Equation 2" src="/files/ftp_upload/59415/59415eq2.jpg" style="opacity: 0.9;">(1 - a) <img alt="Equation 4" src="/files/ftp_upload/59415/59415eq4.jpg" style="opacity: 0.9;">(1 - b) <img alt="Equation 5" src="/files/ftp_upload/59415/59415eq5.jpg" style="opacity: 0.9;">(1 - c) <img alt="Equation 6" src="/files/ftp_upload/59415/59415eq6.jpg" style="opacity: 0.9;">(1 - d)</li>
	<li>E dove: n2 - 1.747 è l'indice di rifrazione del substrato MgO ad una lunghezza d'onda di 488 nm; 0 è l'angolo del fascio incidente misurato rispetto alla normale della superficie del substrato; e t è il tempo. Le costanti ottiche della pellicola (n1 e k1) e il tasso di crescita si ottengono adattando la riflettività in funzione del tempo nell'equazione 1.</li>
</ol>

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</ol>

Gli autori non hanno nulla da rivelare.

Una varietà di considerazioni è coinvolta nella scelta dei substrati e nello stabilire le condizioni di crescita che ottimizzano le proprietà strutturali ed elettroniche dei film. I substrati MgO vengono riscaldati ad alta temperatura nell'aria (1000 gradi centigradi) per rimuovere la contaminazione da carbonio dalla superficie e migliorare l'ordine cristallino nella superficie del substrato. La pulizia ad ultrasuoni in acetone è un buon metodo alternativo per pulire i substrati MgO.
Il picco ...

I materiali II3-V2 sono una classe di semiconduttori che hanno ricevuto relativamente poca attenzione da parte della comunità di ricerca dei semiconduttori rispetto ai semiconduttori III-V e II-VI1. I nitrati mg e n, Mg3N2 e n3N2, sono attraenti per le applicazioni dei consumatori perché sono composti da elementi abbondanti e non tossici, rendendoli poco costosi e facili da riciclare a differenza della maggior parte III-V e II-VI semiconduttori composti. Mostrano una struttura cristallina anti-bixbyite simile alla struttura CaF 2, con uno dei sublattici fcc F interpenetranti semi-occupati2,3,4,5. Sono entrambi materiali digap banda diretta6, che li rende adatti per applicazioni ottiche7,8,9. Il gap di banda di Mg3N2 è nello spettro visibile (2,5 eV)10, e il divario di banda di n3N2 è nel vicino infrarosso (1,25 eV)11. Per esplorare le proprietà fisiche di questi materiali e il loro potenziale per le applicazioni di dispositivi elettronici e ottici, è fondamentale ottenere pellicole a cristalli singoli di alta qualità. La maggior parte dei lavori su questi materiali è stata effettuata su polveri o pellicole policristalline realizzate da sputtering reattivi12,13,14,15,16, 17.
L'episale molecolare (MBE) è un metodo ben sviluppato e versatile per la crescita di pellicole semiconduttori composti monocristalli18 che hanno il potenziale per produrre materiali di alta qualità utilizzando un ambiente pulito e fonti elementali ad alta purezza. Nel frattempo, l'azione rapida dell'otturatore MBE consente modifiche a una pellicola su scala atomica e consente un controllo preciso dello spessore. Questo documento riporta la crescita delle pellicole epitassiali Mg3N2 e n3N2 sui substrati MgO da MBE assistiti dal plasma, utilizzando l'alta purezza di N e Mg come fonti di vapore e gas N2 come fonte di azoto.

<table><tbody><tr><td>(100)</td><td>MgO University Wafer</td><td>214018</td><td>un lato epi-lucidato</td></tr><tr><td>Acetone</td><td>Fisher Chemical&nbsp;</td><td>170239</td><td>99,8%</td></tr> <tr><td>Laser ad argon</td><td>Laser Lexel</td><td>00-137-124</td><td>488 nm di lunghezza d'onda visibile, 350 mW di potenza in uscita</td></tr><tr><td>Chopper&nbsp;</td><td>Sistema di ricerca di Stanford&nbsp;</td><td>SR540</td><td>&nbsp;Frequenza massima: 3,7 kHz&nbsp;</td></tr><tr><td>Amplificatore di blocco&nbsp;</td><td>Sistema di ricerca di Stanford&nbsp;</td><td>37909</td><td>DSP SR810, frequenza massima: 100 kHz&nbsp;</td></tr><tr><td>Magnesio&nbsp;</td><td>UMC</td><td>MG6P5</td><td>99.9999%</td></tr><tr><td>MBE sistema</td><td>VG Semicon</td><td>V80H0016-2 SHT 1</td><td>V80H-10</td></tr><tr><td>Metanolo&nbsp;</td><td>Alfa Aesar</td><td>L30U027</td><td>Semi-grado 99,9%</td></tr> <tr><td>Azoto</td><td>Praxair</td><td>402219501</td><td>99,998%</td></tr> <tr><td>Ossigeno&nbsp;</td><td>Linde Gas</td><td>200-14-00067</td><td>> 99,9999%</td></tr> <tr><td>Sorgente di plasma</td><td>SVT Associates</td><td>SVTA-RF-4.5PBN</td><td>PBN, apertura 0,11", specificare la lunghezza: 12" &ndash; 20"</td></tr><tr><td>Si fotodiodo&nbsp;</td><td>Newport</td><td>2718</td><td>818-UV migliorato, 200 - 1100 nm</td></tr><tr><td>di zinco&nbsp;</td><td>Alfa Aesar</td><td>7440-66-6</td><td>99,9999%</td></tr></tbody></table>

crescita epitaxy del fascio molecolare assistita dal plasma di mg3n2 en 3n2 thin films

Plasma-Assisted Molecular Beam Epitaxy Growth of Mg3N2 and Zn3N2 Thin Films

Questo articolo descrive una procedura per la coltivazione di pellicole Mg3N2 e N2 n da epitassoia del fascio molecolare assistita da plasma (MBE). I film sono coltivati su 100 substrati MgO orientati con gas N2 come fonte di azoto. Vengono descritti il metodo per preparare i substrati e il processo di crescita MBE. L'orientamento e l'ordine cristallino del substrato e della superficie della pellicola sono monitorati dalla diffrazione degli elettroni ad alta energia di riflessione (RHEED) prima e durante la crescita. La riflettività speculare della superficie del campione viene misurata durante la crescita con un laser Ar-ion con una lunghezza d'onda di 488 nm. Adattando la dipendenza temporale della riflettività a un modello matematico, vengono determinati l'indice di rifrazione, il coefficiente di estinzione ottica e il tasso di crescita del film. I flussi metallici sono misurati in modo indipendente in funzione delle temperature delle cellule di effusione utilizzando un monitor a cristalli di quarzo. I tassi di crescita tipici sono pari a 0,028 nm/s a temperature di crescita rispettivamente di 150 e 330 gradi centigradi per i film Mg3N2 e n3N2.

L'oggetto nero nell'insetto in Figura 5B è una fotografia di un come-cresciuto 200 nmn n 3N2 pellicola sottile. Allo stesso modo, l'oggetto giallo nell'insetto in Figura 5C è un come-cresciut2 Mg3N2 pellicola sottile. La pellicola gialla è trasparente nella misura in cui è di facile lettura del testo posto dietro la pellicola10.
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Questo articolo descrive la crescita delle pellicole epitassiali di Mg3N2 e n3N2 sui substrati MgO mediante epitassia molecolare assistita da plasma con gas N2 come fonte di azoto e monitoraggio della crescita ottica.

Crescita Epitaxy del fascio molecolare assistita dal plasma di Mg3N2 en 3N2 Thin Films

This article describes a procedure for growing Mg3N2 and Zn3N2 films by plasma-assisted molecular beam epitaxy (MBE). The films are grown on 100 oriented ...

In questo video, mostriamo come coltivare pellicole epitassiali di nitrito di magnesio e nitrito di zinco per estosse del fascio molecolare assistito dal plasma, o MBE in breve. Nitrito di magnesio e nitrito di zinco sono materiali semiconduttori composti II-V. Questa è una classe relativamente inesplorato di semiconduttori.Hanno la struttura cristallina anti-bixbyite, che ha 80 atomi nella cella convenzionale dell'unità cubo. I film sono coltivati in un sistema VG V80 MBE. La camera orizzontale a sinistra è la camera di preparazione e la camera rotonda a destra è la camera di crescita in cui avviene la crescita del film.Blocco di ingresso del campione, situato all'estremità sinistra della camera di preparazione. Il miglior substrato che abbiamo trovato per la coltivazione di nitrito di magnesio epitassiale e nitrito di zinco è l'ossido di magnesio monocristalio orientato a 100. I substrati quadrati di un centimetro vengono prima posizionati su un supporto per campioni di wafer di zaffiro con lato lucido verso l'alto e ricotto per nove ore a 1.000 gradi C.La ricottura ad alta temperatura rimuove il carbonio dalla superficie e ricostruisce la struttura cristallina superficiale dei singoli substrati cristallini dell'ossido di magnesio.Dopo la ricottura, i campioni vengono risciacquati in acqua deionizzata, bolliti in acetone per 30 minuti per rimuovere qualsiasi contaminazione organica da carbonio dalla manipolazione, quindi vengono risciacquati di nuovo in metanolo e soffiati asciutti con azoto. Il primo passo nella crescita MBE è quello di accendere l'acqua di raffreddamento per le cellule di fusione e il crio-sudario nella camera di crescita. Quindi accendiamo il laser di monitoraggio della crescita, l'alimentatore RHEED, l'alimentatore del generatore di plasma RF e il sistema di micro bilanciere in cristallo di quarzo.I substrati di ossido di magnesio sono montati su portacampioni di molibdeno di diametro di tre pollici con clip a molla di tungsteno. Il primo passo per caricare i campioni nel MBE è spegnere la pompa turbo e sfiatare il blocco di ingresso rapido. La cassetta portacampioni viene rimossa dal blocco di ingresso rapido e un nuovo campione caricato nella cassetta e la cassetta viene rimetteta nel blocco di ingresso rapido.La pompa turbo viene utilizzata per evacuare il blocco di ingresso rapido. Quindi di solito de-gasiamo il substrato nel blocco di ingresso veloce a 100 gradi, grado Celsius, per 30 minuti. E poi, trasferirlo alla camera di preparazione per la de-gassificazione a 400 Gradi Celsius per cinque ore.Il portacampioni de-gas viene trasferito da un meccanismo del carrello nella camera di crescita dove viene caricato nel manipolatore del campione. Il campione viene fuori gassato nel manipolatore a 750 gradi C per 30 minuti. Assicurarsi che l'acqua di raffreddamento sia accesa nel sudario del crio per evitare il surriscaldamento.Nel caso della crescita del nitrito di magnesio, la temperatura del substrato viene dilagata fino a 330 gradi. La pressione della camera di crescita dovrebbe ora essere inferiore a 10 a meno otto Torr. La tensione sulla pistola di diffrazione elettronica ad alta energia di riflessione, o RHEED in breve, viene lentamente aumentata a 15 kilovolt e la corrente del riscaldatore del filamento è impostata a un amplificatore e mezzo.Il supporto del substrato viene ruotato fino a quando il modello di diffrazione elettronica mostra l'allineamento con il principale asse grafico cristallino del substrato e un chiaro modello di diffrazione elettronica a cristallo singolo è visibile. Le cellule standard di diffusione di gruppo tre tipi o le celle a diffusione a bassa temperatura vengono utilizzate per magnesio e zinco. I crogioli sono stati caricati rispettivamente con 15 grammi e 25 grammi di magnesio ad alta purezza e colpo di zinco.Le celle di fusione a sorgente di zinco e magnesio vengono fuori gassate a 250 gradi per un'ora con le persiane chiuse. Normalmente questo viene fatto prima di caricare il substrato nel manipolatore. Dopo il caricamento del substrato, riscrittiamo la cella di fusione dello zinco fino a 350 gradi C e la cella di magnesio a 390 gradi C.Le celle di fusione sono autorizzate a stabilizzarsi per 10 minuti alle loro temperature di esercizio prima di aprire le persiane.Il monitor a cristalli di quarzo retrattile è posizionato davanti al substrato all'interno della camera. Assicurarsi che il substrato sia completamente coperto dal rivelatore, in modo che nessun metallo sia depositato sul substrato. Inserire la densità del metallo nel controller del monitor in cristallo di quarzo, in modo che il controller possa leggere lo spessore del metallo depositato sul sensore di cristallo di quarzo.Per calibrare il flusso, apriamo l'otturatore su una delle sorgenti metalliche e permettiamo al flusso metallico da una delle celle di infusione di depositarsi sul sensore. Lo spessore misurato dal controller aumenterà linearmente con il tempo man mano che il metallo si accumula sul sensore. Adattando una linea retta allo spessore in funzione del tempo, otteniamo una misurazione accurata del flusso metallico.Una volta completate le misurazioni del flusso, chiudere le persiane sulle celle di infusione e ritrarre il rilevatore di monitor di cristallo di quarzo dalla parte anteriore del portacampioni. Questo grafico mostra la dipendenza dalla temperatura di un flusso che la sorgente metallica viene misurata con un monitor di cristallo di quarzo. Le linee rette sono fissate a una relazione di Arrhenius.Il flusso raddoppia approssimativamente per ogni aumento di 12 gradi della temperatura della sorgente. Spegnere la corrente del filamento e l'alta tensione sul cannone RHEED per evitare danni al filamento in presenza di un'elevata pressione del gas azoto nella camera di crescita. Il prossimo passo è iniziare la fonte di plasma di azoto.Aprire una valvola a gas sul cilindro ad alta pressione, quindi aprire lentamente la valvola di perdita fino a quando la pressione dell'azoto nella camera di crescita raggiunge da tre a quattro volte 10 al meno cinque Torr. Quindi impostare l'alimentazione sull'alimentatore RF a 13,56 MHz su 300 watt. Il plasma viene avviato con un accenditore sulla fonte plasmatica.Quando il plasma è iniziato, un bagliore viola brillante è visibile dalla porta di visualizzazione sul retro della sorgente di plasma. Regolare il controllo sulla casella di corrispondenza delle radiofrequenza per ridurre al minimo la potenza riflettente il più possibile. Una potenza riflessa inferiore a 15 watt è buona.Mettere a fuoco la luce laser argon a lunghezza d'onda tritata di 488 nanometri riflessa dal substrato nella camera di crescita sul diodo fotografico in silicone, in modo che un segnale elettrico possa essere rilevato dall'amplificatore lock-in. Ciò si ottiene regolando l'angolo del substrato ruotando il supporto del substrato attorno a due assi e regolando la posizione del rivelatore di silicone e della lente di messa a fuoco che raccoglie la luce riflessa come mostrato in questa immagine. Un filtro a linea laser viene utilizzato per bloccare tutta la luce ad eccezione della luce di 488 nanometri dal laser argon.L'uscita del diodo fotografico viene misurata con un amplificatore lock-in e questo singolo è proporzionale alla riflettività della superficie del substrato. Aprire l'otturatore di una delle fonti metalliche. Registrare la riflettività dipendente dal tempo con un registratore di dati controllato dal computer.La crescita di una pellicola epitassiale produrrà un segnale oscillatorio riflesso associato a interferenze ottiche a film sottile tra le superfici anteriore e posteriore del film. Quando le pellicole di nitrito di magnesio vengono tolte per la prima volta dal MBE, sono gialle, ma sbiadiscono rapidamente a un colore biancastro. Per proteggere le pellicole dall'ossidazione e dall'aria, si raccomanda di depositare uno strato di incapsulamento di ossido di magnesio sulla parte superiore prima di estrarare il film dalla camera di crescita per proteggere il film dall'ossidazione quando è esposto all'aria.Questo è particolarmente importante per il nitrito di magnesio e meno critico per il nitrito di zinco. Per depositare uno strato di incapsulamento dell'ossido di magnesio, chiudere il gas azoto e passare al gas ossigeno e aumentare la pressione dell'ossigeno a 10 a meno cinque Torr. Durante la crescita dello strato di tappatura, riduciamo la potenza RF a 250 watt.Il plasma inizia con una potenza RF inferiore con ossigeno che con azoto. Una volta che il plasma di ossigeno è in funzione, aprire l'otturatore sulla sorgente di magnesio e monitorare la riflettività dipendente dal tempo per 10 minuti. Questo produrrà un film di ossido di magnesio dello spessore di circa 10 nanometri.Una riflettività ottica dei campioni può essere modellata con questa equazione. n2 è l'indice di rifrazione del substrato di ossido di magnesio a 488 nanometri, che è uguale a 1,75. Il nulla è l'angolo dell'incidente misurato rispetto al substrato normale.E t è tempo durante il processo di crescita. Le costanti ottiche della pellicola, n1 e k1, e il tasso di crescita sono ottenuti adattando la riflettività in funzione del tempo con l'equazione. Il quadrato giallo è un esempio del film di nitrito di magnesio chiuso con ossido di magnesio e il quadrato nero è un film di nitrito di zinco.Il nitrito di magnesio è giallo perché ha uno spazio di banda nel visibile, mentre il nitrito di zinco è nero perché il suo gap di banda è l'infrarosso. L'immagine a sinistra è il modello di diffrazione elettronica RHEED per un substrato di ossido di magnesio nudo con il fascio di elettroni allineato parallelamente alla direzione 110. L'immagine centrale è il modello di diffrazione da una pellicola di nitrito di zinco e l'immagine a destra proviene da un film di nitrito di magnesio.Questi risultati mostrano che le strutture cristalline delle pellicole depositate sono orientate nel piano del substrato come ci aspetteremmo per le pellicole epitassiali. Questo mostra cosa succede al modello di diffrazione elettronica quando si ruota il substrato di ossido di magnesio nudo nel manipolatore del campione. Questo grafico mostra la riflettività ottica in funzione del tempo durante la crescita delle pellicole di nitrito di zinco e nitrito di magnesio.Adattando la riflettività in funzione del tempo al modello ottico, è possibile estrarre l'indice di rifrazione, n, il coefficiente di estinzione, k e il tasso di crescita, g, per le pellicole. La riflettività diminuisce con il tempo nel caso delle pellicole di nitrito di magnesio a causa della dispersione della rugosità superficiale, che abbiamo modellato matematicamente da un esponenziale smorzato. In questo video, vi abbiamo mostrato come coltivare pellicole di magnesio epitassiale e nitrito di zinco mediante l'epitasse del fascio molecolare assistito dal plasma.Uno dei nostri risultati è che misurare la riflettività ottica dei campioni durante la loro crescita è un buon modo per determinare sia il tasso di crescita che le costanti ottiche del film. Sfortunatamente, il nostro materiale non mostrava fotoluminescenza, né a temperatura ambiente né a bassa temperatura, quindi è necessario apportare ulteriori miglioramenti nella qualità del film. Gli esperimenti nel nostro laboratorio su campioni di polvere forniscono un indizio su come ciò potrebbe essere fatto.Le polveri di nitrito di zinco realizzate reagendo allo zinco con ammoniaca ad alta temperatura mostrano una forte fotoluminescenza. Ciò suggerisce che l'uso dell'ammoniaca al posto del gas azoto come fonte di azoto potrebbe essere un modo per realizzare materiale con migliori proprietà elettroniche.

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