Rendering di siO2/Si Superfici omnifobiche da intaglio Gas-Entrapping Microtextures Comprising Reentrant e Doubly Reentrant Cavities or Pillars

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11 febbraio 2020

10.3791/60403-v

11 febbraio 2020

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Questo lavoro presenta protocolli di microfabbricazione per il raggiungimento di cavità e pilastri con profili rientranti e doppiamente rientranti sui wafer SiO2/Si utilizzando la fotolitografia e l'incisione a secco. Le superfici microstrutturate risultanti dimostrano una notevole repellenza liquida, caratterizzata da una robusta intrappolamento dell'aria a lungo termine sotto liquidi umidi, nonostante l'intrinseca bagnabilità della silice.

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Pilastri a doppia rientranza

Chapters in this video

0:04

Introduction

1:08

Cavity Design and Wafer Cleaning

2:17

Photolithography

3:15

Silica (SiO2) and Silicon (Si) Layer Etching

4:30

Thermal Oxide Growth and Etching

6:00

Results: Representative Wetting Behaviors of Gas-Entrapping Microtextures (GEMs)

7:08

Conclusion

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