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$$\longleftharp{xx}$$,
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動物サンプルを含むすべての手順は、適切な動物倫理審査委員会によって審査され、承認されています。
- レオロジー
- レオメータのセットアップと校正は、メーカーの指示に従って行ってください。
- レオメータを初期化するには、デバイス/コントロールパネルを開きます。コントロールパネルタブで、「初期化」をクリックします。
- 直径25mmの測定プレート(PP25)とサーマルシステムを取り付けます。
- (オプション)レオメータプレートとティッシュとの間の滑りを減らすために、上部のレオメータプレートの形状に一致する粘着性のサンドペーパースライスを切り取り、サンドペーパーを上部と下部のプレートに接着します。
- コントロールパネルの「ゼロギャップを設定」をクリックして、上部プレートと下部プレートを接触させます。
- 「Reset Normal Force」をクリックして、垂直抗力トランスデューサをゼロにします。
- イナーシャ試験は、制御盤のサービスタブを開き、「測定システム」→「イナーシャ試験」をクリックして行ってください。新旧の慣性を記録します。慣性が、製造元がリストしているプローブの許容範囲内にあることを確認します。
- サンプルをレオメータにロードします。
- 組織を採取し、ブタの脳の冠状部分を~5 mmの厚さにスライスした後、CO2に依存しない培地で氷上に保存します。
- 2つのプレートの間に脳を置きます。滑りを防ぐために、サンプルの上面と下面から大きな水滴を取り除きますが、サンプルを乾燥させないでください。
- プレートが組織の上面に完全に接触し、5〜10分の緩和期間後に測定された垂直抗力が0.01mNで一定になるまで、測定プレートをゆっくりと下げます。
- コントロールパネルで、測定位置ボックスに連続して低い高さを入力し、「測定位置」をクリックして測定プレートをゆっくりと下げます。
- 組織との接触から1ミリメートル以内で、プレートが組織の上面に完全に接触するまで、測定プレートを0.1mm刻みで下げます。測定された垂直力が、5〜10分の緩和期間後に一貫して0.01 mNにあることを確認します。
- 最初に測定された垂直抗力を記録します。同じ圧縮応力 / ひずみで繰り返し測定を行う必要があります。
- サンプルがプレートの直径を超える場合は、プラスチックブレードでトリミングします。サンプルの端に少量(~1〜2 ml)の培地をピペットで移し、組織を水分補給します。
- (オプション)サーマルフードを下げます。コントロールパネルで、温度を37°Cに設定し、「設定」をクリックします。
- 振幅スイープを実行して、対象の周波数 (、つまり 対象の周波数 (、たとえば、 1 rad/sec) で G' と G'' が一定であるせん断ひずみ) を確立します。
- 「ファイル/新規」を選択します。gelタブで、「Amplitude sweep: LVE-range」を選択します。ウィンドウを選択し、「Measurement 1: Amplitude sweep」をクリックします。振動ボックスをダブルクリックします。初期ひずみと最終ひずみ(など、 0.01〜105)、周波数(、例えば 1 rad/sec)、および10年あたりのポイント数(、例えば 6ポイント/dec)を入力します。「OK」を選択し、「開始」をクリックします。
- この手順をいくつかのスライスに対して繰り返し、試行を繰り返して、線形弾性範囲の一貫性を確保します。サンプルの軸方向の圧縮は、サンプル間で一定に保たれる必要があります。
- 組織の線形粘弾性範囲のひずみ(など、1%ひずみ)と、関心のある周波数範囲(、例えば、0.1〜100 rad/sec)で、組織の周波数スイープを行います。
- 「file/new」をクリックし、ゲルタブで「Frequency sweep」を選択します。Window/Measurement 1: Frequency sweep をクリックします。振動ボックスをダブルクリックします。周波数範囲(、例:、0.1〜100 rad/sec)、ひずみ(、例:、1%ひずみ)、および10年あたりのポイント数(、例:、6ポイント/dec)を入力します。「OK」を選択し、「開始」をクリックして周波数スイープを開始します。
- 周波数スイープ(ステップ1.4)を重複または三重に繰り返します。
レオメータによって自動的に計算され、エクスポートされるデータを確認します: G' と G" を周波数 (周波数スイープ) またはせん断ひずみ (振幅スイープ) の関数として。注: G' と G'' は、サンプルの (最大) 反トルク振幅 T'0 と、加えられた振動ひずみに対するサンプルの応答の回転変位角 (または偏向角) φ°、位相遅れ φ から計算されます (図 1 ):


ここで、R とh はサンプルの半径と高さです。