集束イオンビーム

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出典:シナ・シャーバズモハマディとペイマン・シャーベイギ=ルードポシュティ,コネチカット大学工学部,ストールズ,CT

電子顕微鏡が研究室で複雑化し、広く使われるようになったので、その能力を導入する必要性が高まるにつれ、集束イオンビーム(FIB)は、ナノエレクトロニクスから医療まで幅広い分野で、ミコス…

この動画の章

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Overview

1:08

Principles of Focused Ion Beams

4:42

Preparing and Loading the Sample

5:33

Preparing the FIB-SEM

6:36

Milling and Imaging

7:33

Results

8:01

Applications

8:56

Summary