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光ファイバ圧力トランスデューサを使用したラットの硬膜外頭蓋内圧測定
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30 件の引用
09:04 分
2012年4月25日
頭蓋骨内の圧力を記録するための新たな手法が記載されています。低侵襲の方法では、正確に重要な脳外傷を引き起こすことなく、麻酔ラットの頭蓋内圧(ICP)を測定する光ファイバ圧力検出システムを使用しています。技術は、実験モデルの広い範囲で使用することができます。
Chapters in this video
0:05
タイトル
1:32
頭蓋骨穿孔
3:27
スクリューの加工および挿入
4:30
頭蓋内圧トランスデューサーの挿入
5:19
気密シールの形成
6:11
頭蓋内圧トランスデューサーの除去および再挿入
6:48
代表的なICP波形
8:29
結論
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