ラマン分光を用いた化学分析
0 回視聴·09:26 分
- 必要なレーザーをオンにし、正しい使用波長光学系を選択します。ウォーム アップ時間をかけて安定した発光を得るためのレーザーをしましょう。
- レーザーラマン分光装置の必要な校正を実行します。楽器によりますが, 結晶 Si のラマン散乱ピークの既知の位置にラマンシフトのキャリブレーションに内部の Si 標準試料を使用するここで。それはレーザーの波長に敏感である知られている位置の強いシャープなピークを与える Si がしばしば使用されます。まず、基準試料のラマン スペクトルは、適切な露出のエネルギーと時間を使用して取得されます。得られたスペクトルの波数は、(520.7±0.5 cm-1に強いピークが観測した Si の場合) 文献値と比較されます。不一致の場合単色光分光器 (多くの場合格子) に関して CCD の位置が変更されます。ほとんどの市販ラマン ツールには、これを達成するためにキャリブレーション ルーチンが含まれます。
- 検討する必要のある層の顕微鏡とフォーカスの下にサンプルを配置します。一般に、閉じることができる暗いエンクロージャを使用して迷光を削除します。レーザーのパスはきれいなスペクトルを得るために光吸収やラマン活性層でふさがれていないことを確認します。ラマン スペクトルは多くの材料から見つけることができる文献で、材料実験に影響を与える可能性がありますを決定するを使用できます。不明なピークは、サンプルに由来する知られているピークの横に表示する場合、彼らは宇宙線 (これは一般に広く、非常に強烈なだけいくつか波数)、または他の層の測定と干渉することによってできます。場合は、層が薄い材料のレーザーの減衰長と比較して、下に基板はプローブもされるそうです。
- モノクロでスキャンする必要があります波数の範囲を選択します。これは高い依存サンプルです。一般的に文学に興味を持ってのラマンピークが表示されます地域を見つけることができます。完全に未知試料の広い範囲のため (例えば、100 – 2,000 cm-1)テスト スキャンを実行できます。拡張スキャンはしかしより多くの時間を消費します。十分な信号を生成するが、調査の下で材料の結晶格子を傷つけていないことをレーザー強度を選択 (例えば、アモルファス Si を検討した場合高強度レーザーが結晶化サンプル)。これは、スペクトル変化の被害が発生した場合、二度同じ場所を画像でチェックできます。信号が弱すぎる場合は、露出時間を増やすことができます。
- 試料のスペクトルを取得します。一般的にこれは自動的に計測器によって、モノクロ メーターをスキャンし CCD の出力を読みます。背景スキャン サンプルは、完全に暗いエンクロージャの場合実行する必要なし、それ以外の場合迷光が計測に影響します。
- 適切なソフトウェアを使用してデータを調査、文献の使用します。これは、スペクトルの非常に鋭いと強烈な線として表示され、完全に削除することができます一般的に宇宙線の除去を含めることができます.基板や汚染物質との干渉はベースライン、あてはめ平らにすると予想されるスペクトルの領域に適切な曲線 (直線またはスプラインなど) によって削除することができます、ことが (すなわちサンプルから発生したラマン散乱ピークは含まれません)。いくつかの材料の異なるラマンのピークは互いの近くにそのピーク デコンボリューションは素材上でこのチェック、文学に必要なされる可能性があるを表示できます。
ソース: 石原良一講座-デルフト工科大学
ラマン分光法は、システムの振動解析および他の低頻度モードの技術です。化学のラマン指紋による分子を識別するために使用されます。固体物理学の材料、および特に、結晶構造や結晶化度を調査するより多くを特徴付けるものです。比較して結晶構造 (電子顕微鏡や x 線回折な…
Browse More Videos
この動画の章
0:00
概要
0:59
ラマン分光法の原理
4:23
ラマン分光法の実施
6:44
結果
7:34
応用
8:54
まとめ
著作権 © 2026 MyJoVE Corporation. 無断転載を禁じます。