최근 몇 년 동안 다양한 분야에서 전자 현미경 기술이 급격히 발전해 왔습니다. 특히 물리 과학 분야에서는 시료에 대한 새로운 정보를 얻고 새로운 유형의 시료를 특성화할 수 있도록 하는 수많은 기술이 개발되었습니다. 이러한 기술을 통해 원자 수준의 3차원 구조, 피코미터 정밀도의 나노 스케일 변형 분포, 전자기장 분포, 국소 진동 및 광학 특성과 같은 광범위한 재료 특성을 측정할 수 있게 되었습니다. 또한, 표준 수차 보정으로 가능한 수준을 넘어서는 공간 분해능 향상을 가능하게 하는 기술들이 개발되었으며, 저온 전자 상 및 온전한 고체-액체 계면과 같은 상평형도의 새로운 영역에 접근할 수 있게 되었습니다. 본 컬렉션에서는 토모그래피, 미분 위상차(differential phase contrast), 프티코그래피(ptychography), 단색화 EELS, 극저온 FIB/SEM 및 STEM을 포함하여, 광범위한 과학 분야에 걸쳐 상당한 기여를 할 것으로 기대되는 이러한 기능들을 제공하는 전자 현미경 기술들을 다룰 것입니다.
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2021
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Kinga A. Unocic1, Dale K. Hensley1, Franklin S. Walden2, Wilbur C. Bigelow3, Michael B. Griffin4, Susan E. Habas4, Raymond R. Unocic1, Lawrence F. Allard5
1Center for Nanophase Materials Sciences, Oak Ridge National Laboratory, 2Protochips Inc., 3Department of Materials Science & Engineering, University of Michigan, 4Catalytic Carbon Transformation & Scale-up, National Renewable Energy Laboratory, 5Materials Science & Technology Division, Oak Ridge National Laboratory
통합 미분 위상차 주사 투과 전자 현미경 (iDPC-STEM): 실무적 측면 및 조건
Ivan Lazić*1,
Eric G.T. Bosch2,
Stefano Vespucci2
1Thermo Fisher Scientific, Achtseweg Noord 5, 5651 GG Eindhoven, The Netherlands,
2Thermo Fischer Scientific, Achtseweg Noord 5, 5651 GG Eindhoven, The Netherlands
4D-STEM을 이용한 변형률 정량 분석
Raymond Unocic*1,
Debangshu Mukherjee*1
1Center for Nanophase Materials Sciences, Oak Ridge National Laboratory