9.7K weergaven
•
Geciteerd door 7
•
09:14 min.
•
2 oktober 2012
2 oktober 2012
•Topologie van celhechting op een substraat wordt gemeten met nanometer precisie door variabele hoek totale interne reflectie fluorescentiemicroscopie (VA-TIRFM).
Chapters in this video
0:05
Title
1:40
Seeding and Incubation of Cells
2:47
VA-TIRFM
5:26
Data Analysis
6:45
Results: Calculation of Cell-substrate Distances in Glioblastoma Cells
8:32
Conclusion
Related Videos
Copyright © 2026 MyJoVE Corporation. Alle rechten voorbehouden.