Przedstawiono protokół chemicznego imprintingu 3D mikroskalowych elementów 3D z dokładnością poniżej 20 nm do stałych i porowatych płytek krzemowych.
Subskrypcja JoVE jest wymagana do oglądania tego materiału. Zaloguj się lub rozpocznij bezpłatny okres próbny.
Artykuł metodologiczny
Przedstawiono protokół chemicznego imprintingu 3D mikroskalowych elementów 3D z dokładnością poniżej 20 nm do stałych i porowatych płytek krzemowych.
Elektrochemiczne imprinting wspomagany metalem (Mac-Imprint) to połączenie chemicznego trawienia wspomaganego metalem (MACE) i litografii nanoimprint, które jest zdolne do bezpośredniego modelowania 3D mikro- i nanoskalowych cech w monokrystalicznych półprzewodnikach grupy IV (np. Si) i III-V (np. GaAs) bez potrzeby stosowania szablonów protektorowych i etapów litograficznych. Podczas tego procesu stempel wielokrotnego użytku pokryty katalizatorem z metalu szlachetnego styka się z płytką Si w obecności mieszaniny kwasu fluorowodorowego (HF) i nadtlenku wodoru (H2O2), co prowadzi do selektywnego wytrawiania Si na granicy faz metal-półprzewodnik. W tym protokole omówiono metody przygotowania stempla i podłoża stosowane w dwóch konfiguracjach Mac-Imprint: (1) Porous Si Mac-Imprint ze stałym katalizatorem; oraz (2) Solid Si Mac-Imprint z porowatym katalizatorem. Proces ten charakteryzuje się wysoką przepustowością i jest zdolny do równoległego wzorcowania w skali centymetrowej z rozdzielczością poniżej 20 nm. Zapewnia również niską gęstość defektów i wzór na dużej powierzchni w jednej operacji oraz omija potrzebę trawienia na sucho, takiego jak głębokie reaktywne trawienie jonowe (DRIE).
Trójwymiarowe wzorowanie i teksturowanie półprzewodników w mikroskali i nanoskali umożliwia liczne zastosowania w różnych dziedzinach, takich jak optoelektronika1,2, fotonika3, powierzchnie antyrefleksyjne4, powierzchnie superhydrofobowe i samoczyszczące5,6, między innymi. Prototypowanie i masowa produkcja wzorów 3D oraz hierarchicznych została z sukcesem zrealizowana dla folii polimerowych za pomocą litografii miękkiej oraz litografii nanoimprintingowej z rozdzielczością poniżej 20 nm. Jednak przeniesienie takich trójwymiarowych wzorów polimerowych na Si wymaga selektywności trawienia wzoru maski podczas reaktywnego trawienia jonowego, co ogranicza współczynnik kształtu oraz powoduje zniekształcenia formy i chropowatość powierzchni ze względu na efekt powstawania charakterystycznych krawędzi (tzw. scalloping)7,8.
Opracowano nową metodę o nazwie Mac-Imprint, służącą do równoległego i bezpośredniego wzorowania porowatych9 i litek wafli krzemowych (Si)10,1, a także litek wafli GaAs12,13,14. Mac-Imprint jest techniką mokrego trawienia kontaktowego, która wymaga kontaktu podłoża ze stemplą powlekaną szlachetnym metalem, posiadającą struktury 3D, w obecności roztworu trawiącego (ES) składającego się z HF i utleniacza (np. H2O2 w przypadku Mac-Imprint dla Si). Podczas trawienia równocześnie zachodzą dwie reakcje15,16: reakcja katodowa (tj. redukcja H2O2 na metalu szlachetnym, podczas której generowane są dodatnie nośniki ładunku [dziury], a następnie wstrzykiwane do Si17) oraz reakcja anodowa (tj. rozpuszczanie Si, podczas którego dziury są zużywane). Po odpowiednim czasie kontaktu struktury 3D stemplą zostają wytrawione w waflu Si. Mac-Imprint posiada liczne zalety w porównaniu z konwencjonalnymi metodami litograficznymi, takie jak wysoka wydajność, kompatybilność z platformami roll-to-plate i roll-to-roll, możliwość zastosowania w amorficznym, mono- i polikrystalicznym Si oraz półprzewodnikach z grup III-V. Stemple Mac-Imprint mogą być wykorzystywane wielokrotnie. Dodatkowo metoda ta pozwala na uzyskanie rozdzielczości trawienia poniżej 20 nm, co jest porównywalne z współczesnymi metodami bezpośredniego zapisu.
Kluczem do uzyskania wysokiej wierności odcisku jest droga dyfuzji do frontu trawienia (tj. interfejsu styku katalizatora z podłożem). Praca Azeredo i wsp.9 po raz pierwszy wykazała, że dyfuzja ES jest możliwa dzięki porowatej sieci Si. Torralba i wsp.18 zgłosili, że w celu realizacji stałego odcisku Mac-Imprint z Si dyfuzja ES odbywa się poprzez porowaty katalizator. Bastide i wsp.19 oraz Sharstniou i wsp.20 dodatkowo zbadali wpływ porowatości katalizatora na dyfuzję ES. Tym samym koncepcja Mac-Imprint została przetestowana w trzech konfiguracjach o różnych drogach dyfuzji.
W pierwszej konfiguracji katalizator i podłoże są ciałami stałymi, co nie zapewnia początkowej drogi dyfuzji. Brak dyfuzji substratów prowadzi do reakcji wtórnej podczas imprintingu, w wyniku której na podłożu, wokół krawędzi interfejsu katalizator-Si, tworzy się warstwa porowatego Si. Następnie substraty ulegają wyczerpaniu i reakcja ustaje, co skutkuje brakiem zauważalnej wierności przeniesienia wzoru między stemplem a podłożem. W drugiej i trzeciej konfiguracji drogi dyfuzji są możliwe dzięki sieciom porowatym wprowadzonym albo w podłożu (tj. porowaty Si), albo w katalizatorze (tj. porowate złoto), co pozwala na osiągnięcie wysokiej dokładności przeniesienia wzoru. Zatem transport masy przez materiały porowate odgrywa kluczową rolę w umożliwianiu dyfuzji substratów i produktów reakcji do i z interfejsu styku9,18,19,20. Schemat wszystkich trzech konfiguracji przedstawiono na Rysunku 1.

Rycina 1: Schematy konfiguracji Mac-Imprint. Rysunek ten podkreśla rolę materiałów porowatych w umożliwianiu dyfuzji reagujących gatunków chemicznych przez podłoże (tj. przypadek II: porowaty krzem) lub w stemplu (tj. przypadek III: cienka warstwa katalizatora wykonana z porowatego złota). Kliknij tutaj, aby wyświetlić powiększoną wersję tego rysunku.
W niniejszej pracy szczegółowo omówiono proces Mac-Imprint, w tym przygotowanie stempla i wstępną obróbkę podłoża wraz z samym procesem Mac-Imprint. Sekcja wstępnej obróbki podłoża w protokole obejmuje czyszczenie wafla krzemowego i nadawanie wzoru na waflu krzemowym za pomocą trawienia suchego oraz anodowanie podłoża (opcjonalnie). Ponadto sekcja przygotowania stempla została podzielona na kilka procedur: 1) odlewanie repliki z PDMS z matrycy krzemowej; 2) nanoimprinting UV warstwy fotorezystu w celu przeniesienia wzoru PDMS; oraz 3) osadzanie warstwy katalitycznej metodą rozpylania magnetronowego, a następnie odmetaliwanie (opcjonalnie). Na koniec, w sekcji Mac-Imprint przedstawiono konfigurację procesu Mac-Imprint wraz z jego wynikami (tj. trójwymiarowe hierarchiczne wzorowanie powierzchni krzemowej).
Dostęp ograniczony. Zaloguj się lub rozpocznij wersję próbną, aby wyświetlić tę treść.
OSTRZEŻENIE: Stosuj odpowiednie zasady bezpieczeństwa i używaj odpowiedniego sprzętu ochronnego (np. fartucha laboratoryjnego, rękawic, okularów ochronnych, obuwia z przysłoniętymi palcami). Procedura ta wykorzystuje kwas fluorowodorowy (48% wag.) – substancję chemiczną o bardzo wysokim stopniu niebezpieczeństwa, wymagającą dodatkowego sprzętu ochronnego (tj. osłony twarzy, fartucha z naturalnej gumy oraz drugiej pary rękawic nitrylowych zakrywających dłonie, nadgarstki i przedramiona).
1. Przygotowanie stempla do nadruku Mac-imprint

Rycina 2: Proces czyszczenia RCA-1. (a) Podgrzewanie roztworu i (b) czyszczenie krzemu. Kliknij tutaj, aby wyświetlić powiększoną wersję tego rysunku.

Rycina 3: Proces wytwarzania formy PDMS. (a) Schematyczne przedstawienie procesu. (b) Zdjęcia poszczególnych etapów procesu. Kliknij tutaj, aby wyświetlić powiększoną wersję tego rysunku.

Rycina 4: Proces nanoukładowania fotorezystu za pomocą światła UV. (a) Zdjęcia procesu nanoszenia fotorezystu metodą spin-coating. (b) Schematy i zdjęcia procesu nanoukładowania UV. Kliknij tutaj, aby wyświetlić powiększoną wersję tego rysunku.

Rysunek 5: Proces przygotowania katalitycznego stempla. (a) Schemat depozycji cienkiej warstwy. (b) Zdjęcia systemu napylania magnetronowego. (c) Zdjęcie procesu odstopowania wraz z reprezentatywnymi obrazami SEM porowatego złota. Kliknij tutaj, aby wyświetlić powiększoną wersję tego rysunku.
2. Nadruk i czyszczenie podłoża krzemowego

Rysunek 6: Układ maski do strukturyzowania płytki krzemowej (A) i pojedyncza strukturyzowana płytka (B). Kliknij tutaj, aby wyświetlić powiększoną wersję tego rysunku.

Rycina 7: Zdjęcia procedury porowacenia podłoża (anodyzacja krzemu). (a) Potencjostat sterowany przez komputer PC podłączony do dwuelektrodowej komórki elektrochemicznej. (b) Komórka elektrochemiczna z elektrodą platynową. (c) Krzemowy chip z warstwą krzemu porowatego. Kliknij tutaj, aby wyświetlić powiększoną wersję tego rysunku.
3. Konfiguracja odcisku Mac

Rycina 8: Zdjęcia układu Mac-Imprint (A), stempla przed (B) i po (C) kontakcie z chipem krzemowym. Kliknij tutaj, aby wyświetlić powiększoną wersję tego rysunku.
Dostęp ograniczony. Zaloguj się lub rozpocznij wersję próbną, aby wyświetlić tę treść.
Obrazy z mikroskopu elektronowego skaningowego (SEM), skany mikroskopu optycznego (Rysunek 9) oraz skany mikroskopii sił atomowych (AFM) (Rysunek 10) uzyskano w celu zbadania właściwości morfologicznych stempli Mac-Imprint oraz utlenionych powierzchni krzemu. Profil przekroju utlenionego stałego krzemu porównano z profilem użytego porowatego stempla złotego (Rysunek 10). Wierność transferu wzoru oraz...
Dostęp ograniczony. Zaloguj się lub rozpocznij wersję próbną, aby wyświetlić tę treść.
Stemple Mac-Imprint i wstępnie wzorzyste chipy Si (typ p, orientacja [100], 1-10 Ohm∙cm) zostały przygotowane zgodnie odpowiednio z sekcjami 1 i 2 protokołu. Odcisk Mac-Imprint wstępnie wzorzystego układu krzemowego ze stemplami zawierającymi wzorce hierarchiczne 3D został wykonany zgodnie z sekcją 3 protokołu (rysunek 9). Jak pokazano na rysunku 9a, zastosowano różne konfiguracje Mac-Imprint: lite Si z ciałem stałym Au (po lewej), porowate Si z...
Dostęp ograniczony. Zaloguj się lub rozpocznij wersję próbną, aby wyświetlić tę treść.
Nie mamy nic do ujawnienia.
Dziękujemy dr Keng Hsu (University of Louisville) za spostrzeżenia dotyczące tej pracy; Laboratorium Fredericka Seitza Uniwersytetu Illinois oraz, ku jego pamięci, pracownikowi Scottowi Maclarenowi; Centrum Nauk o Ciele Stałym im. LeRoya Eyringa na Uniwersytecie Stanowym Arizony; oraz Science Foundation Arizona w ramach Bis Grove Scholars Award.
Dostęp ograniczony. Zaloguj się lub rozpocznij wersję próbną, aby wyświetlić tę treść.
| Nazwa | Firma | Numer katalogowy | Komentarze |
|---|---|---|---|
| Aceton, >99,5%, odczynnik ACS | Sigma-Aldrich | 67-64-1 | UWAGA, chemiczny |
| fluorek amonu, >98%, klasa ACS | Sigma-Aldrich | 12125-01-8 | UWAGA, niebezpieczny |
| roztwór wodorotlenku amonu, 28-30%, odczynnik ACS | Sigma-Aldrich | 1336-21-6 | UWAGA, niebezpieczny |
| AZ 400K wywoływacz | Microchemicals | AZ 400K | UWAGA, chemiczny |
| BenchMark 800 Etch | Axic | BenchMark 800 | Reaktywne trawienie jonowe |
| Tarcza chromowa, 2 "x 0,125", czystość 99,95% | Stopy ACI | ADM0913 | Napylanie magnetronowe chrom |
| CTF 12 | Carbolite Gero | C12075-700-208SN | Eksykator pieca rurowego |
| Fisher scientific Chemglass nauki przyrodnicze | CG122611 | Eksykator | |
| Żarówka | UV F6T5/BLB | Eiko | F6T5/BLB 6W |
| Złoty cel, 2" x 0,125", czystość 99,99% Stopy | ACI | Nie dotyczy | Złota tarcza napylania magnetronowego |
| Płyta grzejna KW-4AH | Technologia Chemat | KW-4AH | Wypoziomowana płyta grzejna o jednolitym profilu temperaturowym |
| Kwas fluorowodorowy, 48%, odczynnik ACS | Sigma-Aldrich | 7664-39-3 | UWAGA, skrajnie niebezpieczne |
| Nadtlenek wodoru, 30%, odczynnik ACS | Fisher Chemical | 7722-84-1 | UWAGA, niebezpieczny |
| alkohol izopropylowy, >99,5%, odczynnik ACS | LabChem | 67-63-0 | UWAGA, chemiczny |
| MLP-50 | Techniki przetworników | MLP-50 | Ogniwo obciążnikowe |
| Kwas azotowy, 70%, klasa ACS | SAFC | 7697-37-2 | UWAGA, niebezpieczny |
| NSC-3000 | Nano-master | NSC-3000 | Napylanie magnetronowe |
| Wodorotlenek potasu, 45%, Certyfikowany | Fisher Chemical | 1310-58-3 | UWAGA, chemiczna |
| pompa próżniowa Rocker 800, 110V/60Hz | Rocker | 1240043 | Bezolejowa pompa próżniowa |
| Silikonowa forma główna | NILT | SMLA_V1 | Układ krzemowy z wzorem |
| Wafle krzemowe, wafel | uniwersytecki | najwyższej jakości 783 | Wafel |
| Si Srebrny cel, 2 "x 0,125", czystość 99,99% | Stopy ACI | HER2318 | Napylanie magnetronowe srebrny tarcza |
| SP-300 | BioLogic | SP-300 | Potencjostat |
| SPIN 150i | Powlekanie przędzalnicze | SPIN 150i | Powlekarka spinowa |
| SPR 200-7.0 dodatni fotorezystu | Microchem | SPR 220-7.0 | UWAGA, chemia |
| Mieszanie płyta grzewcza | Thermo scientific Cimarec+ | SP88857100 | Płyta grzejna ogólnego przeznaczenia |
| SU-8 2015 fotorezystor ujemny | Microchem | SU-8 2015 | UWAGA, chemiczna |
| SYLGARD 184 Zestaw elastomerów silikonowych | DOW | 4019862 | UWAGA, chemiczny |
| T-LSR150B | Zaber Technologies | T-LSR150B-KT04U | Zmotoryzowany stolik liniowy |
| Trichloro(1H,1H,2H, 2H-perfluorooktylo)silan (PFOCS), 97% | Sigma-Aldrich | 78560-45-9 | UWAGA, niebezpieczne |
Dostęp ograniczony. Zaloguj się lub rozpocznij wersję próbną, aby wyświetlić tę treść.