Przygotowanie próbki do mikroskopii krioelektronowej za pomocą skupionej wiązki jonów

27.3K wyświetleń

Cytowany 5 razy

10:54 min

26 lipca 2014

10.3791/51463-v

26 lipca 2014

27.3K wyświetleń

Kriomikroskopy elektronowe, zarówno skaningowe (SEM), jak i transmisyjne (TEM), są szeroko stosowane do charakteryzowania próbek biologicznych lub innych materiałów o wysokiej zawartości wody1. SEM/Focused Ion Beam (FIB) służy do identyfikacji interesujących cech próbek i ekstrakcji cienkiej, przezroczystej dla elektronów blaszki w celu przeniesienia do krio-TEM.

Przeglądaj więcej filmów

Pr bka do cryo TEM

Chapters in this video

0:05

Title

1:25

Sample Freezing

3:21

Ion Milling

5:56

Cryo Transfer to TEM

8:54

Results: Visualization of Aspergillus niger Spores Using Cryo-microscopy

10:20

Conclusion

Related Videos