Name: Pomiar rozkładu odkształceń w skali mikro/nano na podstawie pobierania próbek prążków mory (Wideo) | JoVE Journal
Uploaded: 2017-05-23T15:00:00.000+00:00
Duration: 6 min 56 s
Description: Poznaj technikę próbkowania prążków mory do pomiaru odkształceń w skali mikro i nano. Metoda umożliwia pełnopolową analizę naprężeń i przemieszczeń z pojedynczego zdjęcia siatki.

ai_agent_IP

ai_agent

maintenance

instantTrialDurationMinutes

isBiopharma

enableNewMyJoveSectionDesign

educationFeatures

seoMetaApi

ai_copilot_institution_blacklist

ai_chat_institution_blacklist

freeAccessWindow

ssoRoleCapture

scheduledMaintenanceBanner

joveLabsFeatures

disable_autoplay_for_bots

extended_trial_duration

5 minutes

playerTrialDesktop

Ta praca była wspierana przez JSPS KAKENHI, granty o numerach JP16K17988 i JP16K05996, oraz przez Międzyministerialny Program Promocji Innowacji Strategicznych, Jednostka D66, Innowacyjne Pomiary i Analizy Materiałów Konstrukcyjnych (SIP-IMASM), obsługiwane przez biuro gabinetu. Autorzy są również wdzięczni doktorom Satoshi Kishimoto i Kimiyoshi Naito z NIMS za ich materiał CFRP.

<ol><li>Weller, R., Shepard, B. <a target="_blank" href="https://science.report/pub/12945776">Displacement measurement by mechanical interferometry.</a> Proc. Soc. Exp. Stress Anal. 6 (1), 35-38 (1948).</li>
<li>Kishimoto, S., Egashira, M., Shinya, N. <a target="_blank" href="http://opticalengineering.spiedigitallibrary.org/article.aspx?articleid=1072427">Microcreep deformation measurements by a moiré method using electron beam lithography and electron beam scan.</a> Opt. Eng. 32 (3), 522-526 (1993).</li>
<li>Ifju, P., Han, B. <a target="_blank" href="http://link.springer.com/article/10.1007/s11340-010-9404-9">Recent applications of moiré interferometry.</a> Exp. Mech. 50 (8), 1129-1147 (2010).</li>
<li>Zhang, H., Wu, C., Liu, Z., Xie, H. <a target="_blank" href="http://iopscience.iop.org/article/10.1088/0957-0233/25/9/095002">A curved surface micro-moiré method and its application in evaluating curved surface residual stress.</a> Meas. Sci. Technol. 25 (9), 095002(2014).</li>
<li>Zhang, H., Liu, Z., Wen, H., Xie, H., Liu, C. <a target="_blank" href="http://www.ncbi.nlm.nih.gov/pubmed?term=((Subset+geometric+phase+analysis+method+for+deformation+evaluation+of+HRTEM+images%5BTitle%5D)+AND+%22Ultramicroscopy%22%5BJournal%5D)">Subset geometric phase analysis method for deformation evaluation of HRTEM images.</a> Ultramicroscopy. 171, 34-42 (2016).</li>
<li>Wang, Q., Kishimoto, S., Xie, H., Liu, Z., Lou, X. <a target="_blank" href="http://www.sciencedirect.com/science/article/pii/S0026271412005094">In situ high temperature creep deformation of micro-structure with metal film wire on flexible membrane using geometric phase analysis.</a> Microelectron. Reliab. 53 (4), 652-657 (2013).</li>
<li>Wang, Q., Kishimoto, S. <a target="_blank" href="http://iopscience.iop.org/article/10.1088/0960-1317/22/10/105021">Simultaneous analysis of residual stress and stress intensity factor in a resist after UV-nanoimprint lithography based on electron moiré fringes.</a> J. Micromech. Microeng. 22 (10), 105021(2012).</li>
<li>Kishimoto, S., Wang, Q., Xie, H., Zhao, Y. <a target="_blank" href="http://www.ncbi.nlm.nih.gov/pubmed?term=((Study+of+the+surface+structure+of+butterfly+wings+using+the+scanning+electron+microscopic+moir%C3%A9+method%5BTitle%5D)+AND+%22Appl.+Opt%22%5BJournal%5D)">Study of the surface structure of butterfly wings using the scanning electron microscopic moiré method.</a> Appl. Opt. 46 (28), 7026-7034 (2007).</li>
<li>Li, C., Liu, Z., Xie, H., Wu, D. <a target="_blank" href="http://www.ncbi.nlm.nih.gov/pubmed?term=((Novel+3D+SEM+Moir%C3%A9+method+for+micro+height+measurement%5BTitle%5D)+AND+%22Opt.+Express%22%5BJournal%5D)">Novel 3D SEM Moiré method for micro height measurement.</a> Opt. Express. 21 (13), 15734-15746 (2013).</li>
<li>Xie, H., Wang, Q., Kishimoto, S., Dai, F. <a target="_blank" href="http://aip.scitation.org/doi/abs/10.1063/1.2732548">Characterization of planar periodic structure using inverse laser scanning confocal microscopy moiré method and its application in the structure of butterfly wing.</a> J. Appl. Phys. 101 (10), 103511(2007).</li>
<li>Tang, M., Xie, H., Wang, Q., Zhu, J. <a target="_blank" href="http://iopscience.iop.org/article/10.1088/0957-0233/21/5/055110">Phase-shifting laser scanning confocal microscopy moiré method and its applications.</a> Meas. Sci. Technol. 21 (5), 055110(2010).</li>
<li>Xie, H., Kishimoto, S., Asundi, A., Boay, C. G., Shinya, N., Yu, J., Ngoi, B. K. <a target="_blank" href="http://iopscience.iop.org/article/10.1088/0957-4484/11/1/305">In-plane deformation measurement using the atomic force microscope moiré method.</a> Nanotechnology. 11 (1), 24(2000).</li>
<li>Xie, H., Liu, Z., Fang, D., Dai, F., Gao, H., Zhao, Y. <a target="_blank" href="http://iopscience.iop.org/article/10.1088/0957-0233/15/9/007">A study on the digital nano-moiré method and its phase shifting technique.</a> Meas. Sci. Technol. 15 (9), 1716(2004).</li>
<li>Wang, Q., Kishimoto, S., Yamauchi, Y. <a target="_blank" href="http://www.ncbi.nlm.nih.gov/pubmed?term=((Three-directional+structural+characterization+of+hexagonal+packed+nanoparticles+by+hexagonal+digital+moir%C3%A9+method%5BTitle%5D)+AND+%22Opt.+Lett%22%5BJournal%5D)">Three-directional structural characterization of hexagonal packed nanoparticles by hexagonal digital moiré method.</a> Opt. Lett. 37 (4), 548-550 (2012).</li>
<li>Liu, Z., Lou, X., Gao, J. <a target="_blank" href="http://www.sciencedirect.com/science/article/pii/S0143816609003054">Deformation analysis of MEMS structures by modified digital moiré methods.</a> Opt. Lasers Eng. 48 (11), 1067-1075 (2010).</li>
<li>Li, Y., Xie, H., Chen, P., Zhang, Q. <a target="_blank" href="http://iopscience.iop.org/article/10.1088/0957-0233/22/2/025301">Theoretical analysis of moiré fringe multiplication under a scanning electron microscope.</a> Meas. Sci. Technol. 22 (2), 025301(2010).</li>
<li>Patorski, K., Wielgus, M., Ekielski, M., Kaźmierczak, P. <a target="_blank" href="http://iopscience.iop.org/article/10.1088/0957-0233/24/3/035402">AFM nanomoiré technique with phase multiplication.</a> Meas. Sci. Technol. 24 (3), 035402(2013).</li>
<li>Wang, Q., Ri, S., Takashita, Y., Ogihara, S., et al. Chapter 33: Full-field measurements of principal strains and orientations using moiré fringes. <a target="_blank" href="http://link.springer.com/book/10.1007/978-3-319-22446-6">Advancement of Optical Methods in Experimental Mechanics</a>. Yoshida, S., et al. 3, Springer. 251-259 (2017).</li>
<li>Wang, Z., Han, B. <a target="_blank" href="http://www.ncbi.nlm.nih.gov/pubmed?term=((Advanced+iterative+algorithm+for+phase+extraction+of+randomly+phase-shifted+interferograms%5BTitle%5D)+AND+%22Opt.+Lett%22%5BJournal%5D)">Advanced iterative algorithm for phase extraction of randomly phase-shifted interferograms.</a> Opt. Lett. 29 (14), 1671-1673 (2004).</li>
<li>Wang, Q., Xie, H., Hu, Z., Zhang, J., Sun, J., Liu, G. <a target="_blank" href="https://www.scientific.net/AMM.83.185">Residual thermo-creep deformation of copper interconnects by phase-shifting SEM moiré method.</a> Appl. Mech. Mater. 83, 185-190 (2011).</li>
<li>Ri, S., Fujigaki, M., Morimoto, Y. <a target="_blank" href="http://link.springer.com/article/10.1007/s11340-009-9239-4">Sampling moiré method for accurate small deformation distribution measurement.</a> Exp. Mech. 50 (4), 501-508 (2010).</li>
<li>Ri, S., Muramatsu, T. <a target="_blank" href="http://www.ncbi.nlm.nih.gov/pubmed?term=((Theoretical+error+analysis+of+the+sampling+moir%C3%A9+method+and+phase+compensation+methodology+for+single-shot+phase+analysis%5BTitle%5D)+AND+%22Appl.+Opt%22%5BJournal%5D)">Theoretical error analysis of the sampling moiré method and phase compensation methodology for single-shot phase analysis.</a> Appl. Opt. 51 (16), 3214-3223 (2012).</li>
<li>Wang, Q., Ri, S., Tsuda, H. <a target="_blank" href="http://www.ncbi.nlm.nih.gov/pubmed?term=((Digital+sampling+Moir%C3%A9+as+a+substitute+for+microscope+scanning+Moir%C3%A9+for+high-sensitivity+and+full-field+deformation+measurement+at+micron%2Fnano+scales%5BTitle%5D)+AND+%22Appl.+Opt%22%5BJournal%5D)">Digital sampling Moiré as a substitute for microscope scanning Moiré for high-sensitivity and full-field deformation measurement at micron/nano scales.</a> Appl. Opt. 55 (25), 6858-6865 (2016).</li>
<li>Dai, F., Wang, Z. <a target="_blank" href="https://www.researchgate.net/publication/263926500_Automatic_fringe_patterns_analysis_using_digital_processing_techniques_I_Fringe_center_method">Automatic fringe patterns analysis using digital processing tehniques: I fringe center method.</a> Acta Photonica Sinica. 28, 700-706 (1999).</li>
<li>Gutmann, B., Weber, H. <a target="_blank" href="http://www.ncbi.nlm.nih.gov/pubmed?term=((Phase-shifter+calibration+and+error+detection+in+phase-shifting+applications%3A+a+new+method%5BTitle%5D)+AND+%22Appl.+Opt%22%5BJournal%5D)">Phase-shifter calibration and error detection in phase-shifting applications: a new method.</a> Appl. Opt. 37 (32), 7624-7631 (1998).</li>
<li>Wang, Q., Kishimoto, S., Tanaka, Y., Kagawa, Y. <a target="_blank" href="http://www.sciencedirect.com/science/article/pii/S0143816613000845">Micro/submicro grating fabrication on metals for deformation measurement based on ultraviolet nanoimprint lithography.</a> Opt. Lasers Eng. 51 (7), 944-948 (2013).</li>
<li>Min-Jin, T., Hui-Min, X., Yan-Jie, L., Xiao-Jun, L., Dan, W. <a target="_blank" href="http://iopscience.iop.org/article/10.1088/0256-307X/29/9/098101">A new grating fabrication technique on metal films using UV-nanoimprint lithography.</a> Chin. Phys. Lett. 29 (9), 098101(2012).</li>
</ol>

Autorzy nie mają nic do ujawnienia.

W opisanej technice jednym z trudnych etapów jest wytwarzanie siatki lub siatki w skali mikro/nano (w skrócie siatki)26 , jeśli na próbce nie ma okresowego wzoru. Skok siatki powinien być jednolity przed odkształceniem, ponieważ jest to ważny parametr do pomiaru odkształcenia. Jeśli materiał jest metalem, stopem metalu lub ceramiką, można zastosować litografię UV lub nanoodcisk z nanowwydrukiem (NIL)27, litografię wiązką elektronów (EBL)2, frezowanie...

Pomiary deformacji w skali mikro/nano są niezbędne do oceny właściwości mechanicznych, niestabilności, naprężeń szczątkowych i występowania pęknięć w zaawansowanych materiałach. Ponieważ techniki optyczne są bezkontaktowe, pełnopolowe i nieniszczące, w ciągu ostatnich kilku dekad opracowano różne metody optyczne pomiaru odkształceń. W ostatnich latach techniki pomiaru deformacji w skali mikro/nano obejmują głównie metody mory1,2,3,4, geometryczna analiza fazowa (GPA)5,6, transformacja Fouriera (FT), cyfrowa korelacja obrazu (DIC) i elektronowa interferometria plamkowa (ESPI). Wśród tych technik GPA i FT nie nadają się do złożonych pomiarów deformacji, ponieważ istnieje wiele częstotliwości. Metoda DIC jest prosta, ale bezsilna wobec szumu, ponieważ nośnikiem deformacji jest losowa plamka. Wreszcie, ESPI jest bardzo wrażliwy na wibracje.
Wśród metod mory w skali mikro/nano, obecnie najczęściej stosowanymi metodami są metody mory skaningowej pod mikroskopem, takie jak mora skanująca elektronami7,8,9, skanowanie laserowe moiré10,11, oraz mikroskop sił atomowych (AFM) moiré12oraz niektóre metody mory oparte na mikroskopie, takie jak cyfrowa/nakładająca się mora < class="xref">13,14,15 oraz metoda mnożenia/ułamkowej mory16,17. Metoda skanowania mory ma wiele zalet, takich jak szerokie pole widzenia, wysoka rozdzielczość i niewrażliwość na przypadkowe szumy. Jednak tradycyjna metoda skanowania mory jest niewygodna w przypadku pomiarów odkształceń 2D, ponieważ konieczne jest obrócenie stolika próbki lub kierunku skanowania o 90° i dwukrotne skanowanie w celu wygenerowania prążków mory w dwóch kierunkach18. Procesy rotacji i podwójnego skanowania wprowadzają błąd obrotu i zajmują dużo czasu, co poważnie wpływa na dokładność pomiaru odkształcenia 2D, szczególnie w przypadku odkształcenia ścinającego. Chociaż technika czasowego przesunięcia fazowego19,20 może poprawić dokładność pomiaru odkształceń, wymaga czasu i specjalnego urządzenia do przesunięcia fazowego, które nie nadaje się do testów dynamicznych.
Metoda próbkowania mory21,22 ma wysoką dokładność w pomiarach przemieszczeń i jest obecnie używana głównie do pomiarów ugięcia na mostach, gdy przejeżdżają samochody. Aby rozszerzyć metodę próbkowania mory na pomiary odkształceń 2D w skali mikro/nano, opracowano zrekonstruowaną metodę mory mnożenia23 z 2-pikselowych prążków mory do próbkowania, w której pomiary są dwa razy bardziej czułe i zachowane jest szerokie pole widzenia metody mory skanującej. Co więcej, metoda przestrzennego próbkowania mory z przesunięciem fazowym została również opracowana z wielopikselowych prążków mory, co pozwala na bardzo dokładne pomiary odkształceń. Protokół ten wprowadzi szczegółową procedurę pomiaru odkształceń i ma pomóc naukowcom i inżynierom w nauce pomiaru odkształceń, usprawniając procesy produkcyjne materiałów i produktów.

<table><tbody><tr><td>Automatyczna maszyna do polerowania</td><td>Marumoto Struers K.K.</td><td>LaboPol-30, Labor Force-100</td><td></td></tr><tr><td>Tworzywo sztuczne wzmocnione włóknem węglowym</td><td>Mitsubishi Plastics, Inc.&nbsp;</td><td></td><td></td>HYEJ16M95DHX1</tr><tr><td>Komputer</td><td>DELL Japan</td><td>VOSTRO</td><td>Można zastąpić innym komputerem z językiem programowania C++</td></tr><tr><td>Oprogramowanie do nagrywania obrazu</td><td>Lasertec Corporation</td><td>LMEYE7</td><td>Zainstalowany w laserowym mikroskopie skaningowym</td></tr><tr><td>Powlekarka jonowa</td><td>Japan Electron Optics Laboratory Ltd.</td><td></td><td></td>JEC3000F</tr><tr><td>Laserowy mikroskop skaningowy</td><td>Lasertec Corporation</td><td>OPTELICS HYBRID</td><td></td></tr><tr><td>Nanoimprint Device</td><td>Japan Laser Corporation&nbsp;</td><td>EUN-4200</td><td>Może być zastąpiony urządzeniem do litografii wiązką elektronów lub urządzeniem do mielenia skupionej wiązki jonów</td></tr><tr><td>Nanoimprint Mold</td><td>SCIVAX Corporation</td><td>3.0&mu; m skok</td><td>Dostosowana</td></tr><tr><td>odporność na nanonadruk</td><td>Toyo Gosei Co., Ltd&nbsp;</td><td>PAK01</td><td></td></tr><tr><td>Roztwór do polerowania</td><td>Marumoto Struers K.K.</td><td>DP-Spray P 15&mu; m, 1&mu; m, 0,25&mu; m</td><td>Stosować od grubej do drobnej</td></tr><tr><td>pipety</td><td>AS ONE Corporation</td><td>10 ml</td><td></td></tr><tr><td>papieru ściernego</td><td>Marumoto Struers K.K.</td><td>Folia SiC #320, #800</td><td>Zastosowanie od grubej do drobnej</td></tr><tr><td>powlekarki wirowej</td><td>MIKASA Corporation</td><td>MS-A100</td><td></td></tr></tbody></table>

pomiar rozkładu odkształceń w skali mikro/nano na podstawie pobierania próbek prążków mory

Micro/Nano-scale Strain Distribution Measurement from Sampling Moir&#233; Fringes

Ta praca opisuje procedurę pomiarową i zasady techniki próbkowania mory do pomiarów deformacji w skali mikro/nano w pełnym polu. Opracowana technika może być realizowana na dwa sposoby: metodą zrekonstruowanego prążkowania mory lub metodą przestrzennego próbkowania mory z przesunięciem fazowym. Gdy rozstaw siatki próbki wynosi około 2 pikseli, generowane są 2-pikselowe prążki mory próbkowania w celu zrekonstruowania wzoru mory mnożenia w celu pomiaru deformacji. Zarówno czułość na przemieszczenie, jak i odkształcenie są dwukrotnie wyższe niż w tradycyjnej metodzie skanowania mory przy tym samym szerokim polu widzenia. Gdy rozstaw siatki próbki wynosi około lub więcej niż 3 piksele, generowane są wielopikselowe prążki mory do próbkowania, a technika przestrzennego przesunięcia fazowego jest łączona w celu pomiaru deformacji całego pola. Dokładność pomiaru odkształcenia jest znacznie poprawiona, a automatyczny pomiar partii jest łatwo osiągalny. Obie metody umożliwiają pomiar dwuwymiarowego (2D) rozkładu odkształceń na podstawie pojedynczego obrazu siatki bez obracania próbki lub linii skanowania, jak w tradycyjnych technikach mory. Na przykład przemieszczenie 2D i rozkład odkształceń, w tym odkształcenia ścinające dwóch próbek tworzywa sztucznego wzmocnionego włóknem węglowym, zostały zmierzone w testach zginania trzypunktowego. Oczekuje się, że proponowana technika odegra ważną rolę w nieniszczących ocenach ilościowych właściwości mechanicznych, występowania pęknięć i naprężeń szczątkowych różnych materiałów.

Dwuwymiarowe rozkłady przemieszczeń i odkształceń dwóch próbek plastiku wzmocnionego włóknem węglowym (CFRP) (#1 i #2) zostały zmierzone zgodnie z zasadą powstawania prążków mory23 oraz procesem pomiarowym (Rysunek 1). Próbki CFRP składały się z włókien węglowych K13D o średnicy 10-11 µm oraz żywic epoksydowych. Odkształcenie próbki CFRP #1 określono przy użyciu metody rekonstrukcji mory multiplikacyjnej z dwustopniowych prążków mory p...

Technika próbkowania mory z 2-pikselowymi i wielopikselowymi metodami próbkowania do bardzo dokładnych pomiarów rozkładu odkształceń w skali mikro/nano jest tutaj prezentowana.

Pomiar rozkładu odkształceń w skali mikro/nano na podstawie pobierania próbek prążków mory

This work describes the measurement procedure and principles of a sampling moir&#233; technique for full-field micro/nano-scale deformation measurements. ...

Ogólnym celem niniejszego eksperymentu jest dokładny pomiar rozkładów odkształceń materiałów w skali mikro lub nano z wykorzystaniem moiré z próbkowaniem dwupikselowym lub wielopikselowym

micronano-scale-strain-distribution-measurement-from-sampling-moir

Research

JoVE Journal

Engineering

Inżynieria

Ten artykuł pokazuje oryginalną metodologię opartą na zdalnym uruchamianiu cząstek magnetycznych osadzonych w biofilmie bakteryjnym oraz rozwoju dedykowanych pęset magnetycznych do pomiaru in situ lokalnych właściwości mechanicznych złożonego żywego materiału zbudowanego przez mikroorganizmy na granicy faz.

Zdalne uruchamianie magnetyczne sond mikrometrycznych do mapowania 3D in situ właściwości fizycznych biofilmu bakteryjnego

Referencyjna technika interferometryczna, która ma na celu usuwanie niepożądanych zakłóceń laserowych dla nanodetekcji, jest wykorzystywana do sondowania mikrownęk czynnikowych o ultra wysokiej jakości. Instrukcje dotyczące montażu, konfiguracji i pozyskiwania danych są dostarczane wraz z procesem pomiaru w celu określenia współczynnika jakości gniazda.

Implementacja interferometru referencyjnego do nanodetekcji

Opisane są protokoły ilościowego określania interakcji mechanicznych między przylegającymi komórkami a mikrostrukturalnymi substratami. Interakcje te są ściśle związane z podstawowymi zachowaniami komórek, w tym migracją, proliferacją, różnicowaniem i apoptozą. Protokoły prezentują oprogramowanie do analizy obrazu o otwartym kodzie źródłowym o nazwie MechProfiler, które umożliwia określenie zaangażowanych sił dla każdego mikrosłupka.

Łatwe i dokładne profilowanie mechaniczne na matrycach Micropost

Opisujemy użycie cyfrowej korelacji obrazu do scharakteryzowania lokalnego pola odkształcenia powierzchniowego na próbkach tkanki naczyniowej poddanych jednoosiowej próbie rozciągania. Pomiary te ułatwiają precyzyjną kwantyfikację reakcji mechanicznej próbki i generowanie konstytutywnych relacji naprężenie-odkształcenie.

Wykorzystanie cyfrowej korelacji obrazów do scharakteryzowania lokalnych szczepów na próbkach tkanki naczyniowej

Izolowanie elektrycznych i termicznych efektów na elektrycznie wspomagane deformacje (EAD) jest bardzo trudne przy użyciu makroskopowych próbek. Opracowano mikro- i nanostruktury próbek metalicznych wraz z niestandardową procedurą testową w celu oceny wpływu przyłożonego prądu na powstawanie bez ogrzewania dżuli i ewolucję dyslokacji na tych próbkach.

Nowatorska metoda elektromechanicznej charakterystyki próbek w nanoskali in situ

Opisujemy szczegółowe procedury eksperymentów z kompresją skał i kruszyw mineralnych w aparacie do deformacji wielokowadełkowej sprzężonej z synchrotronowym promieniowaniem X. Takie eksperymenty pozwalają na ilościowe określenie rozkładu naprężeń w próbkach, co ostatecznie rzuca światło na procesy zagęszczania w geomateriałach.

Rozkład naprężeń podczas ściskania na zimno skał i kruszyw mineralnych za pomocą dyfrakcji promieniowania rentgenowskiego opartej na synchrotronie

Mikrostrukturalnie małe zachowanie wzrostu pęknięć zmęczeniowych jest badane przy użyciu nowatorskiego podejścia metodologicznego, łączącego pomiar szybkości wzrostu pęknięć i analizę pola odkształceń, aby ujawnić skumulowane pole deformacji na poziomie podziarna.

Pomiary odkształceń w pełnym polu dla mikrostrukturalnie małej propagacji pęknięć zmęczeniowych przy użyciu metody cyfrowej korelacji obrazów

Ta praca przedstawia czujnik pomiaru odkształcenia składający się z mechanizmu wzmacniającego i mikroskopu polidimetylosiloksanowego, wykonany przy użyciu ulepszonej drukarki 3D.

Produkcja urządzenia do pomiaru odkształceń z ulepszoną drukarką 3D

Ten protokół zawiera instrukcje dotyczące implementacji litografii wielofotonowej do wytwarzania trójwymiarowych matryc fluorescencyjnych znaczników referencyjnych osadzonych w hydrożelach na bazie poli(glikolu etylenowego) do wykorzystania jako platformy mikroskopii siły pociągowej bez odniesień. Korzystając z tych instrukcji, pomiar odkształcenia materiału 3D i obliczanie trakcji komórkowych jest uproszczone, aby ułatwić pomiary siły pociągowej o wysokiej przepustowości.

Wykonanie i wdrożenie bezreferencyjnej platformy mikroskopii sił trakcyjnych

Ten artykuł opisuje algorytm korelacji obrazów cyfrowych o otwartym kodzie źródłowym do pomiaru lokalnych szczepów tkanek 2D w eksplantatach ścięgien. Dokładność tej techniki została zweryfikowana przy użyciu wielu technik i jest ona dostępna do użytku publicznego.

Pomiar lokalnych naprężeń tkanek w ścięgnach za pomocą cyfrowej korelacji obrazu o otwartym kodzie źródłowym

Protokół ten przedstawia konfigurację urządzenia do testów ściskania zdolnego do precyzyjnego pomiaru właściwości mechanicznych mikrostruktur w obszarze małych odkształceń, wraz z systematyczną metodą testów ściskania z użyciem tego urządzenia. Proponowane urządzenie może być wykorzystywane do analizy różnych mikrostruktur oraz zachowania mechanicznego materiałów na bazie polimerów.

Pomiar odpowiedzi na naprężenie ściskające-odkształcenie przy małych odkształceniach

Poznaj technikę próbkowania prążków mory do pomiaru odkształceń w skali mikro i nano. Metoda umożliwia pełnopolową analizę naprężeń i przemieszczeń z pojedynczego zdjęcia siatki.

Pomiar rozkładu odkształceń w skali mikro/nano na podstawie pobierania próbek prążków mory

Przeglądaj więcej filmów