Um sistema micro-eletromecânico (MEMS) é um componente amplamente utilizado em muitas indústrias, incluindo energia, biotecnologia, médica, comunicações e automotiva. No entanto, sistemas eficazes de metrologia de inspeção e caracterização são necessários para garantir a confiabilidade funcional do MEMS. Este estudo apresenta um sistema baseado na holografia digital como ferramenta para metrologia MEMS. A holografia digital ganhou cada vez mais atenção nos últimos 20 anos. Com o rápido desenvolvimento e a diminuição do custo das matrizes de sensores, a resolução de tais sistemas aumentou as aplicações potenciais de ampliação. Assim, tem atraído a atenção tanto do lado da pesquisa quanto da indústria como uma ferramenta potencialmente confiável para a metrologia industrial. De fato, registrando o padrão de interferência entre um feixe de objeto (que contém informações de altura de amostra) e um feixe de referência em uma câmera CCD, pode-se recuperar as informações quantitativas de fase de um objeto. No entanto, a maioria dos sistemas holográficos digitais são volumosos e, portanto, não são fáceis de implementar nas linhas de produção da indústria. A novidade do sistema apresentado é que ele não tem lentes e, portanto, é muito compacto. Neste estudo, mostra-se que o Microscópio Holográfico Digital Compacto (CDHM) pode ser utilizado para avaliar diversas características tipicamente consideradas como critérios em inspeções MEMS. Os perfis de superfície de MEMS em condições estáticas e dinâmicas são apresentados. A comparação com o AFM é investigada para validar a precisão do CDHM.