Em microscopia eletrônica, muitas vezes é desafiador, para amostra representativas regiões em seções. Nós, como um observador, são muitas vezes tendenciosa para olhar para regiões específicas, atraídas a nossa atenção à conspícuas características da amostra, impedindo uma amostragem bem distribuída, imparcial. Viés de amostragem só pode ser evitado se cada parte da região de interesse Obtém a mesma chance de acabar em uma micrografia eletrônica1. É possível evitar o viés de amostragem sem uma solução de software, por exemplo, empurrando o trackball do microscópio manualmente sem olhar para a imagem, a fim de selecionar regiões de amostragem onde para o palco. Mas, estritamente falando, isto não é um procedimento aleatório, porque, consciente ou inconscientemente, o usuário pode ter uma influência sobre o movimento do palco, e, além disso, isto não é uma forma sofisticada de selecionar regiões de amostragem. Amostragem aleatória torna-se especialmente importante se pares de seções são usadas para avaliar o número de estruturas em um determinado volume, por exemplo, para stereology1, que exige que pares de seções, uma distância conhecida separada. Também seria possível olhar apenas para uma única seção e estimar o número de estruturas específicas2, mas com essa abordagem os investigadores tendem a superestimar a densidade numérica de estruturas maiores, a menos que as estruturas são muito pequenas em comparação com a espessura de corte. Abordagens alternativas são para reconstruir volumes de tecido do seriais seções e, assim, obter os dados desejados3. Mas isto é muito demorado e não uma abordagem viável para estudos comparativos (maiores).
Para superar esses problemas, nós desenvolvemos um fluxo de trabalho que permite que o pesquisador selecione automaticamente amostras para obtenção de micrografias de elétron no espaçamento regular dentro de seções ultra-finas. A posição de micrografias da elétron é aleatória, permitindo que a amostragem imparcial. A abordagem é adequada tanto para determinar a densidade numérica de estruturas (por exemplo, sinapses dentro de um determinado neurópilo volume4,5) e as dimensões das características estruturais (por exemplo, a largura da fenda sináptica, ou o diâmetro do densidade pós-sináptica4,,5).
O fluxo de trabalho usa um ponto aleatório feito por amostragem (RPS) software (escrito em Java script usando software de criação de scripts fornecido com nosso microscópio) que calcula automaticamente as posições de grade dentro de uma região predefinida de interesse em uma seção ultra fina. O software RPS move o palco o microscópio de elétron para estes pontos predefinidos, para que uma micrografia eletrônica pode ser feita em cada ponto. Primeiro, o usuário define uma região de interesse dentro da seção fina. Em seguida, o software RPS calcula as posições de grade dentro desta região. A x / y coordenadas da posição do primeira são criadas aleatoriamente, e as posições restantes são colocadas em intervalos de grade regular em relação à primeira posição. Porque cada parte da região de interesse tem a mesma chance de ser examinado, isto permite a coleta de dados mínima. Esta abordagem de amostragem também é chamada de amostragem aleatória uniforme sistemática (ver referências6,7 para mais detalhes).
Para a determinação da densidade numérica de estruturas, trabalhamos com pares de seções que estão separados a uma distância conhecida. Depois de obter uma micrografia eletrônica da primeira seção em uma das posições predeterminadas, software TEM seção Serial (parte do pacote de software fornecido com nosso microscópio de elétron) move-se para o ponto correspondente na segunda seção, a fim de obter uma micrografia eletrônica da localização correspondente. Isto é repetido para cada localização na grade pré-determinada. Em nossa abordagem, um disector é usado para contar o número de partículas em cada par de elétron-micrografias8,9. Um disector consiste em um par de quadros contando, uma para cada seção8,9. A densidade numérica de objetos é determinada por apenas contando objetos visíveis na primeira seção (ou seção de referência), mas não na segunda seção (ou seção de pesquisa). Isto permite estimar a densidade numérica de objetos em uma maneira rápida e eficiente de8,9. Além em seções única, bidimensionais características estruturais podem ser medidas.
Nós aplicamos este fluxo de trabalho com sucesso para avaliar as diferenças em números de sinapse no hipocampo de ratos expostos ao ambiente enriquecido (EE) em relação ao ambiente padrão (SE) habitação condições4,5, de condições de alojamento e também para avaliar as diferenças ultraestrutural entre ratos de tipo selvagem (WT) e o neuropeptídeo Y (NPY) KO ratos mantidos sob SE e EE5. Nosso objetivo foi olhar especificamente para as características estruturais dos neurônios, tais como a densidade sináptica numérica, os comprimentos da zona activa em cortes transversais e da densidade pós-sináptica, a largura da fenda sináptica e o número de vesículas sinápticas, a fim de avaliar as mudanças na conectividade neuronal e ativação entre as diferentes condições experimentais. Além disso, estávamos interessados na densidade numérica das vesículas densas-núcleo (DCV) em neurônios para determinar a quantidade de neuropeptídeos armazenados em uma determinada área do cérebro.
Baseado no sucesso da nossa abordagem para os estudos descritos acima, no nosso próximo passo, adaptámos o nosso fluxo de trabalho para selecionar áreas para análise elementar imparcial dentro de amostras de cérebro humano. Isto foi feito de ferro, imagem, que é armazenado em moléculas de ferritina em neurônios e células gliais. Por isso, compilamos um script que nos permitiu automatizar a maioria das operações para um processo de seleção aleatória de seções do cérebro em uma área definida.