$$\rightleftharpoonup{xx}$$
$$\longleftharp{xx}$$,
$$\longrightharp{xx}$$,
As imagens do SBF-SEM proporcionam uma visão geral do tecido, dando informações sobre a orientação espacial das células e conexões intercelulares (figura 4a). A imagem latente de FIB-SEM subseqüente em uma região nova, que seja geralmente uma região do interesse determinada após a inspeção da corrida de SBF-SEM, adiciona o detalhe de alta resolução de pilhas e/ou de estruturas específicas (Figura 4B).
Figura 4C , D mostram a diferença na renderização dos voxels não isotrópicos dos dados do SBF-sem (Figura 4C) e dos dados isotrópicos do VOXEL FIB-sem (Figura 4D). A espessura z usada no SBF-SEM significa que a renderização mostra claramente as seções, resultando em um efeito de ' escadaria ' na superfície. Nos dados FIB-SEM as seções de 5 Nm garantem que a renderização pareça muito mais suave e as seções individuais se misturam completamente na superfície.

Figura 1: criação da face do bloco a partir de uma amostra de resina incorporada. (A) uma raiz-ponta encaixada na resina. (B) usando uma lâmina de barbear, o excesso de resina é cortado até que um bloco de 0,5 mm2 permaneça. (C, D) O bloco aparado é colado em um pino de metal e depois de uma noite no forno, os lados do bloco são cortados e a superfície suavizada com uma faca de diamante usando um ultramicrotome. (E) dentro do SBF-sem, a amostra é orientada de modo que o BLOCKFACE e ROI pode ser reconhecido, barra de escala = 20 μm. por favor clique aqui para ver uma versão maior desta figura.

Figura 2: correlação entre SBF-sem e FIB-sem. Imagens de visão geral do bloco-face usando o SBF-SEM (a) eo FIB-sem (B), barra de escala = 5 μm. (C, D) zoom no ROI. A caixa vermelha delinea a região a ser imaged com FIB-SEM, barra da escala = 5 μm. please estale aqui para ver uma versão maior desta figura.

Figura 3: esquema FIB-sem e etapas de preparação. (A) esquema mostrando a orientação do feixe FIB, feixe de sem e amostra. A amostra precisa ser posicionada para o ponto de coincidência dos feixes FIB e SEM para ser capaz de moinho e imagem na mesma região. (B) desenho esquemático da trincheira necessária para a imagem sem das secções removidas pelo FIB. (C) imagem tirada com o feixe de FIB mostrando deposição de platina no ROI, barra de escala 5 μm. (D) imagem tirada com o feixe de FIB mostrando as linhas usadas para foco automático e rastreamento 3D. As linhas no meio são usadas para foco automático e as linhas externas fornecem rastreamento 3D. Deposição de carbono em cima das linhas fornece o contraste necessário (platina vs carbono) para executar essas tarefas, barra de escala 5 μm. (E) imagem tirada com o feixe de FIB após a moagem da trincheira, barra de escala 5 μm. (F) imagem tirada com o feixe de sem mostrando o região de interesse imaged durante a execução FIB-SEM, barra de escala 2 μm. por favor clique aqui para ver uma versão maior desta figura.

Figura 4: resultados de SBF-sem e FIB-sem antes e após a segmentação. (A) vista 3D do conjunto de dados SBF-SEM (100 x 100 x 40 μm, barra de escala = 10 μm), (B) vista 3D do conjunto de dados FIB-sem (17 x 10 x 5,4 μm, barra de escala = 2 μm), (C) vacúolos renderizados SEGMENTADOS a partir de dados SBF-sem por Thresholding, barra de escala = 2 μm D. grânulos renderizados seg dados FIB-SEM por Thresholding, barra de escala = 2 μm. por favor clique aqui para ver uma versão maior desta figura.
| Protocolo para processamento de microondas |
| Programa # | Descrição | Prompt do usuário (on/off) | Tempo (hr: min: SEC) | Potência (watts) | Temp (° c) | Refrigerador da carga (fora de/auto/sobre) | Bomba de vácuo/Bubbler (off/bubb/VAC ciclo/VAC em/VAP) | Temp constante | |
| Bomba (on/off) | Temp (° c) |
| 8 | Tch | FORA | 0:01:00 | 150 | 50 | FORA | CICLO DE VÁCUO | Em | 30 |
| FORA | 0:01:00 | 0 | 50 | FORA | CICLO DE VÁCUO | Em | 30 |
| FORA | 0:01:00 | 150 | 50 | FORA | CICLO DE VÁCUO | Em | 30 |
| 9 | Ósmio | FORA | 0:02:00 | 100 | 50 | FORA | CICLO DE VÁCUO | Em | 30 |
| FORA | 0:02:00 | 0 | 50 | FORA | CICLO DE VÁCUO | Em | 30 |
| FORA | 0:02:00 | 100 | 50 | FORA | CICLO DE VÁCUO | Em | 30 |
| FORA | 0:02:00 | 0 | 50 | FORA | CICLO DE VÁCUO | Em | 30 |
| FORA | 0:02:00 | 100 | 50 | FORA | CICLO DE VÁCUO | Em | 30 |
| 10 | 50% EtOH | Em | 0:00:40 | 150 | 50 | FORA | FORA | Em | 30 |
| 70% EtOH | Em | 0:00:40 | 150 | 50 | FORA | FORA | Em | 30 |
| 90% EtOH | Em | 0:00:40 | 150 | 50 | FORA | FORA | Em | 30 |
| 100% EtOH | Em | 0:00:40 | 150 | 50 | FORA | FORA | Em | 30 |
| 100% EtOH | Em | 0:00:40 | 150 | 50 | FORA | FORA | Em | 30 |
| 15 | 0.1 M CACODYLATE | Em | 0:00:40 | 250 | 50 | FORA | CICLO DE VÁCUO | Em | 30 |
| 0.1 M CACODYLATE | Em | 0:00:40 | 250 | 50 | FORA | CICLO DE VÁCUO | Em | 30 |
| 15 | ddH2O | Em | 0:00:40 | 250 | 50 | FORA | CICLO DE VÁCUO | Em | 30 |
| ddH2O | Em | 0:00:40 | 250 | 50 | FORA | CICLO DE VÁCUO | Em | 30 |
| 16 | Acetato de uranyl | FORA | 0:01:00 | 150 | 50 | FORA | CICLO DE VÁCUO | Em | 30 |
| FORA | 0:01:00 | 0 | 50 | FORA | CICLO DE VÁCUO | Em | 30 |
| FORA | 0:01:00 | 150 | 50 | FORA | CICLO DE VÁCUO | Em | 30 |
| FORA | 0:01:00 | 0 | 50 | FORA | CICLO DE VÁCUO | Em | 30 |
| FORA | 0:01:00 | 150 | 50 | FORA | CICLO DE VÁCUO | Em | 30 |
| FORA | 0:01:00 | 0 | 50 | FORA | CICLO DE VÁCUO | Em | 30 |
| FORA | 0:01:00 | 150 | 50 | FORA | CICLO DE VÁCUO | Em | 30 |
Tabela 1. Protocolo detalhado para o processamento da microonda.
| Passo | Atual | Tempo estimado |
| Deposição Platinum | 3N A | 10-15 minutos |
| Moagem Autotune e marcas de rastreamento | 50-100 pA | 4-6 minutos |
| Deposição de carbono | 3 nA | 5-10 minutos |
| Trincheira grossa de trituração | 15-30 nA | 30-50 minutos |
| Superfície de polimento | 1.5-3 nA | 15-20 minutos |
| Execução de imagens | 700 pA-1,5 nA | Horas-dias |
Tabela 2. Correntes de trituração de FIB usadas para a preparação da amostra e o funcionamento da imagem