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JoVE Journal Engineering
샘플링 모아레 프린지에서의 마이크로 / 나노 스케일 변형률 측정
Using Synchrotron Radiation Microtomography to Investigate Multi-scale Three-dimensional Microelectronic Packages
Journal (Engineering)
Using Synchrotron Radiation Microtomography to Investigate Multi-scale Three-dimensional Microelectronic Packages
Demonstration of a Hyperlens-integrated Microscope and Super-resolution Imaging
Journal (Engineering)
Demonstration of a Hyperlens-integrated Microscope and Super-resolution Imaging
 
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샘플링 모아레 프린지에서의 마이크로 / 나노 스케일 변형률 측정

Article DOI: 10.3791/55739-v • 06:56 min • May 23rd, 2017
May 23rd, 2017 •
1, 1, 1
1Research Institute for Measurement and Analytical Instrumentation, National Institute of Advanced Industrial Science and Technology (AIST)

Capítulos

Resumo
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마이크로 / 나노 스케일에서 고정밀 변형률 분포 측정을위한 2 픽셀 및 다중 픽셀 샘플링 방법을 특징으로하는 샘플링 모아레 기법이 여기에 제시됩니다.

Tags

공학 문제 123 변형 분포 변형률 측정 샘플링 모아레 이미지 처리 광학적 방법 마이크로 / 나노 스케일 복합 재료
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