$$\rightleftharpoonup{xx}$$
$$\longleftharp{xx}$$,
$$\longrightharp{xx}$$,
Технологические заготовки и фоновое загрязнение
Приемлемым бланком является результат, который либо не содержит частиц, либо содержит так мало частиц, что фоновое загрязнение (т.е. технологическое) загрязнение (если таковое имеется) не создает высокой вероятности сбить с толку или нарушить результаты эксперимента. Неоптимальным бланком является результат, содержащий много частиц, которые будет трудно отличить от фонового загрязнения.
Допустимый уровень загрязнения технологического процесса должен быть на уровне нуля или как можно ближе к нему, но если ноль не может быть достигнут, то ключевым фактором является постоянство в количестве наблюдаемых фоновых частиц. Запустите несколько пустых образцов, чтобы определить согласованность результатов. Тщательное соблюдение протоколов контроля качества (см. раздел 1), снижение уровня загрязнения и надлежащие условия окружающей среды во время обработки имеют первостепенное значение для поддержания низкого уровня фонового загрязнения. Результаты фонового загрязнения и приемлемость также могут в значительной степени зависеть от отсечения используемых наномембран и общей чистоты лабораторных условий. Примите во внимание, что при анализе более мелких частиц с более низкими отсечными мембранами (например, < 8 мкм) относительная распространенность представляющих интерес частиц и фоновых загрязнителей аналогичного размера будет увеличиваться экспоненциально, что потребует применения более строгих уровней контроля качества22. Несмотря на то, что любой уровень загрязнения недопустим, при условии строгого контроля условий и достижения высокой степени согласованности все же можно проводить тщательный анализ микропластика в окружающей среде или аналитику, представляющую интерес.
Фильтрация проб
Идеальная фильтрация проб необходима для получения достоверного мультимодального анализа, как показано на примере каскада данных на рисунке 3. Такая фильтрация образцов приведет к образованию хорошо диспергированных частиц по поверхности наномембраны (например, с примерно одной третью площади поверхности мембраны). Плохо диспергированные частицы, такие как в случае агрегации частиц (большие сгустки перекрывающихся частиц), могут запутать как ручные, так и автоматические методы подсчета частиц, поскольку перекрывающиеся частицы не так легко дифференцировать с уверенностью. Такие данные обычно исключаются из анализа, что может привести к потере ценной информации, представляющей интерес. Хорошо диспергированные частицы, как показано на рисунках 4A, B, гарантируют, что любой спектроскопический или количественный анализ не будет осложнен уложенными или перекрывающимися частицами различного состава, которые могут дать результаты, которые сложнее точно интерпретировать, идентифицировать и количественно оценить.
Окрашивание нильским красным и трипановым синим
Репрезентативные изображения оптимальных случаев окрашивания флуоресцентных частиц показаны на рисунке 3B на диске фильтра SiN с длиной 20 мкм. Недостаточное смывание пятна NR или TB с поверхности наномембраны может привести к ложноположительным результатам. Остаточные частицы, состоящие из любого из пятен, остающихся на поверхности мембраны из-за недостаточного промывания, могут быть ошибочно интерпретированы как окрашенные частицы. Признаком недостаточной промывки является флуоресцирование участков наномембраны без частиц или обнаруживаемых остаточных пленок/остатков отфильтрованного образца во время наблюдения, как показано на рисунке 5A. После визуализации, при условии, что фильтрующий диск поддерживался в чистых условиях, можно провести повторную промывку путем помещения отдельного наномембранного фильтрующего диска обратно в вакуумный фильтрационный аппарат (за вычетом прокладок), включения вакуума и фильтрации еще одного объема сверхчистого 99% IPA (для NR) или сверхчистой воды (для TB) на наномембране фильтрующего диска. Запишите общий объем использованного дополнительного промывочного материала. Для достижения наилучших результатов перед повторной промывкой сделайте микроскопические изображения всей поверхности наномембраны, чтобы учесть любое загрязнение, которое может возникнуть на этапе повторного промывки.
Рамановская спектроскопия
Спектроскопия комбинационного рассеяния света, выполненная на SiN без покрытия, может дать заметный пик в зависимости от длины волны лазера, и этот пик может маскировать сигналы с низкой распространенностью примерно в пределах области волн23 520 см-1. Если интересующие нас спектры комбинационного рассеяния света достаточно отделены от фонового пика кремния или нитрида кремния, использование фильтровальных дисков без покрытия SiN должно дать адекватные результаты рамановской спектроскопии. В этом отчете трубопроводы B и C использовали фильтрующие диски Au-SiN. Золотое покрытие Au-SiN маскирует присущий ему пик Si, позволяя более надежно собирать спектры с низкой распространенностью вблизи или на волнах 520 см-1. Кроме того, Au-SiN можно использовать с ИК-спектроскопией, если рамановская спектроскопия недоступна. Всегда начинайте с самых низких настроек мощности (т. е. интенсивности лазера) на приборе, а затем постепенно увеличивайте, так как некоторые интересующие частицы могут быть хрупкими, например, окисленные частицы, и могут быть повреждены или разрушены лазером.
При анализе выбранных частиц с помощью рамановской спектроскопии определение надежности возвращаемого спектра имеет решающее значение. Некоторые частицы могут самофлуоресцировать, и эта флуоресценция добавит шум в спектральные измерения, который может замаскировать или затруднить интерпретацию сигнала частиц. Этот шум будет иметь форму полосы высокой интенсивности, которая охватывает широкий диапазон волновых чисел, объединяя лежащие в основе данные. Собственные спектры, показанные на рисунках 3C и 4C,D, даже до коррекции базовой линии, будут иметь четко определенные пики на более коротких отрезках волновых чисел. Если не возникает пиков, которые по крайней мере в три раза превышают любой из окружающих сигналов, то вполне вероятно, что собранные спектры являются либо фоновым шумом, либо что для анализа рассматриваемой частицы требуются другие настройки прибора. Убедитесь, что для каждого образца выбрана правильная длина волны лазера. Лазеры с более низкой длиной волны, такие как лазер с длиной волны 532 нм, не могут в достаточной степени обрабатывать сигнал, генерируемый флуоресценцией. Лазер с более высокой длиной волны, такой как лазер с длиной волны 782 нм или 830 нм, может в достаточной степени игнорировать флуоресценцию, чтобы вернуть спектр. В зависимости от типа образца, разные лазеры будут подходить для разных типов частиц и, по возможности, могут меняться местами во время сбора данных на одном фильтрующем диске.
Для определения состава частиц их собранные спектры сравниваются с спектрами в базе данных референсных спектров. Надежная идентификация заданного спектра частиц даст коэффициент Пирсона (r) больше 70% (r > 0,70). Субоптимальные рамановские данные показаны на рисунке 5B, где < 0,70. Результаты идентификации МП полезны для определения потенциальных источников загрязнения МП. Для отображения результатов идентификации частиц можно отобразить изображение и спектры анализируемой частицы, как показано на рисунках 3C и 4C.
Сканирующая электронная микроскопия
Фильтрующие диски SiN и Au-SiN совместимы с SEM сразу после улавливания частиц путем фильтрации. Если фильтрующие диски SiN не покрыты Au или Pt до и после захвата частиц, некоторые частицы могут быть более легко «заряжены» ионизационным пучком SEM, что может привести к тому, что частица будет либо светиться, либо казаться очень яркой на изображениях. Эта яркость/свечение может вызвать проблемы с визуализацией из-за плохой контрастности, например, маскировки морфологии частицы. Чтобы смягчить ситуацию, проведите оптическое/флуоресцентное микроскопирование и рамановскую спектроскопию перед СЭМ, чтобы пометить все трудноанализируемые или мелкие частицы, представляющие интерес для последующего анализа СЭМ/ЭДХ, затем покройте наномембрану Au или Pt, как описано в разделе 7 протокола, и выполните СЭМ/ЭДХ.
Покрытие SiN или Au-SiN Au или Pt после захвата частиц и до анализа SEM помогает предотвратить этот эффект заряда во время визуализации, поскольку частицы теперь больше не подвержены ионизации под утилизированным металлическим слоем. Это покрытие улучшает контраст и разрешение, что позволяет получить более глубокое морфологическое понимание данной частицы, как показано на рисунке 3D (волокно против фрагмента) или морфологии поверхности, такой как ямки и трещины на окисленных частицах. Частицы металлического покрытия до анализа SEM навсегда предотвратят их дальнейший анализ с помощью спектроскопии или флуоресцентной визуализации, что делает возможным только анализ SEM/EDX. Таким образом, нанесение покрытия на частицы и выполнение SEM/EDX должны быть заключительными этапами в любом процессе, если это задумано.
Измерения EDX могут быть выполнены на захваченных частицах как до, так и после нанесения металлического покрытия. EDX может выявить специфический элементный состав данной частицы или области, который хорошо сочетается с любыми частицами, размер которых меньше предела обнаружения для рамановского анализа, или элементными составами, которые могут быть трудно проанализировать с определенными длинами волн рамановского лазера, такими как металлы, сплавы, насыщенные водой частицы и частицы, которые сильно флуоресцируют при воздействии доступных для использования лучей рамановского лазера. В этом исследовании частицы были покрыты слоем Au толщиной 6 нм. Визуализация SEM была выполнена в диапазоне от 200x до 3000x с мощностью луча 20 кВ и фокусным расстоянием 5 мм. Соответствующие СЭМ-изображения выбранных частиц показаны на рисунке 3D.
Репрезентативные результаты EDX показаны на рисунке 3F. Обнаруженные элементы с массой в процентах менее 1% могут считаться следовыми или ненадежными в зависимости от чувствительности прибора; Поэтому мы устанавливаем порог на уровне 1%. Если выбранные для анализа EDX частицы были покрыты, то обнаруживаемое количество покрытия будет присутствовать в отчете об элементах. При использовании фильтрующих дисков SiN без покрытия будут наблюдаться сигналы Si и N, как показано на рисунке 3F. К сожалению, большинство синтетических полимерных частиц также содержат элементы C, H и O, поскольку большинство несинтетических частиц из биологических источников также состоят из тех же элементов, но несинтетические частицы также могут включать такие элементы, как S, как в случае белков. Это сходство в составе является причиной того, что метод противоокрашивания с помощью Нильского красного и Трипанового синего полезен для дифференциации между синтетическими и несинтетическими частицами, но не является исчерпывающим инструментом идентификации, поскольку Нильский красный также способен окрашивать несинтетические частицы в некоторых случаях. Дополнительные параметры анализа, подобные предложенным выше, следует использовать в сочетании с любыми процедурами окрашивания для подтверждения результатов. Кроме того, EDX может быть полезным инструментом для потенциальной идентификации частиц, которые находятся за пределами предела размера обнаружения для спектроскопии комбинационного рассеяния света (т.е. нанопластика размером < 1 мкм).

Рисунок 1: Трубопроводы SNAP. (A) Схемы трубопроводов SNAP, характеризующие одни и те же частицы на одной и той же наномембране с помощью ряда различных аналитических методов. Трубопровод А) демонстрирует: 1) Интересные частицы, захваченные из образцов питьевой воды с помощью вакуумной фильтрации, 2) окрашиваются нильским красным и трипановым синим для дифференциации синтетических и несинтетических полимерных частиц соответственно, с последующей 3) идентификацией частиц с помощью рамановской спектроскопии и 4) SEM/EDX для характеристики морфологии частиц и идентификации элементов. Трубопровод В) демонстрирует 1) Захват частиц на Au-SiN с последующим 2) Рамановскую спектроскопию. Трубопровод В) демонстрирует 1) Захват частиц на Au-SiN с последующим SEM/EDX. (B) Схема фильтрующего диска и силиконовой прокладки в фильтрационной установке в вакуумном аппарате, изображающая последовательную фильтрацию через наномембрану MPSN размером 20 мкм, затем наномембрану MSSN длиной 8,0 мкм, разделенную силиконовыми прокладками. Сокращения: SNAP = Silicon Nanomembrane Analysis Pipeline; SEM = сканирующая электронная микроскопия; EDX = энергодисперсионная рентгеновская спектроскопия; MPSN = микропористый нитрид кремния. Пожалуйста, нажмите здесь, чтобы просмотреть увеличенную версию этой цифры.

Рисунок 2: Источники сбора проб питьевой воды. Региональная карта, опубликованная Управлением водных ресурсов округа Монро, с указанием мест, где была собрана каждая из четырех проб питьевой воды в регионе Большого Рочестера, штат Нью-Йорк. Образцы были взяты из разных поверхностных источников: озера Онтарио (синий), озера Хемлок (зеленый), озера Хемлок и озера Онтарио (желтый) и озера Канандайгуа (фиолетовый). Пожалуйста, нажмите здесь, чтобы просмотреть увеличенную версию этой цифры.

Рисунок 3: Резюме анализов, проведенных с помощью SNAP Pipeline A на частицах, захваченных из проб питьевой воды. (A) Изображение в оттенках серого для частиц, захваченных из одной репрезентативной пробы питьевой воды на 20 мкм отсечке SiN. (B) Наложение наложения частиц в ложном цвете для представления красных частиц Нила (частицы красного цвета ложного цвета) и синего трипана (частицы синего цвета ложного цвета). (C) Эталонный (красный) и собранный (белый) спектры комбинационного рассеяния света, идентифицирующие частицу, окрашенную в красный цвет Нила, как полиэтилен со значением r Пирсона 0,97, с репрезентативным изображением анализируемой частицы. (D) Электронная микрофотография двух различных типов частиц, демонстрирующая анализ морфологии частиц волокна (верхняя панель) и фрагмента (нижняя панель), оба из которых имеют окраску Trypan Blue. (E) Количественное определение частиц, окрашенных в красный цвет Нила, последовательно захватываемых на отсечных наномембранах размером 20 мкм и 8 мкм. (F) Обобщенный элементный анализ случайно выбранного фрагмента с помощью EDX и аналитические детали результатов с репрезентативным СЭМ-изображением анализируемой частицы. Сокращения: SNAP = Silicon Nanomembrane Analysis Pipeline; SEM = сканирующая электронная микроскопия; EDX = энергодисперсионная рентгеновская спектроскопия. Пожалуйста, нажмите здесь, чтобы просмотреть увеличенную версию этой цифры.

Рисунок 4: Резюме анализов, проведенных с помощью SNAP Pipeline B на частицах, захваченных из проб питьевой воды. Спектральный анализ комбинационного рассеяния света трех рандомизированных частиц из четырех проб питьевой воды в домашних условиях, полученных на фильтрующих дисках Au-SiN с матрицей 20 мкм и 8,0 мкм MSSN. Репрезентативные темнопольные изображения общей активной площади мембраны для Au-SiN размером 20 мкм и 8 мкм показаны соответственно в A и B. В этом режиме изображения частицы отображаются желтым цветом, в то время как фон остается темным, что упрощает автоматический подсчет частиц. Репрезентативные спектры комбинационного рассеяния света синтетических и несинтетических частиц на (C) 20 мкм и (D) 8,0 мкм Au-SiN. Общее количество частиц для (E) 20 μm и (F) 8,0 μm Au-SiN разбито на диапазоны размеров, определенные программным обеспечением для автоматического поиска частиц. Сокращения: SNAP = Silicon Nanomembrane Analysis Pipeline; SEM = сканирующая электронная микроскопия; EDX = энергодисперсионная рентгеновская спектроскопия; MPSN = микропористый нитрид кремния; MSSN = микрощелевый нитрид кремния. Пожалуйста, нажмите здесь, чтобы просмотреть увеличенную версию этой цифры.

Рисунок 5: Неоптимальные результаты флуоресцентной визуализации и рамановской спектроскопии. (A) Неоптимальное флуоресцентное изображение окрашенных частиц (левая панель), где мембрана сохранила пятно нильского красного, вероятно, из-за недостаточной полоскания. Для спектроскопии комбинационного рассеяния света были выбраны две частицы: волокно, окрашенное трипановым синим, и фрагмент, окрашенный красным Нилом (правая панель). (B) Результаты неоптимальной рамановской спектроскопии, при которых коэффициент Пирсона (r) составляет менее 70 % (r < 0,70). Пожалуйста, нажмите здесь, чтобы просмотреть увеличенную версию этой цифры.
Дополнительная таблица S1: Свойства кремниевых наномембран в фильтрующих дисках. В этой таблице представлены свойства мембран в фильтрующих дисках SiN, включая минимальный размер пор, процент пористости, толщину мембран с покрытием Au и без него, активную площадь мембраны и газопроницаемость через мембрану с положительным давлением, приложенным при заданном постоянном давлении. Отсечка (т.е. размер пор), пористость, толщина и площадь мембраны определяются путем измерения особенностей на изображениях SEM. Данные о газопроницаемости представлены в виде среднего ± стандартного отклонения (n = 10) для положительного давления N 2 при давлении 103,42 кПа. Сокращения: Au = золото; Six Ny = нестехиометрический нитрид кремния. Пожалуйста, нажмите здесь, чтобы загрузить этот файл.
Дополнительная таблица S2: Количество частиц и параметры ParticleFinder. Для каждого образца была сделана мозаика изображений всей мембранной области, и каждая мозаика изображения была проанализирована для сбора общего количества частиц. В этой таблице показаны используемые параметры и порядок определения общего количества частиц для каждого образца изображения, а также количества частиц при заданных размерах долей. Параметры варьируются от образца к образцу в зависимости от типа, количества и формы частиц, а также удельной отражательной способности каждой мембраны во время визуализации. Данные из этой таблицы визуализированы на рисунке 4. Пожалуйста, нажмите здесь, чтобы загрузить этот файл.