Nanotopology клеточной адгезии по переменным углом полного внутреннего отражения микроскопия флуоресцентная (VA-TIRFM)

9.6K просмотров

Процитировано: 7

09:14 мин

2 октября 2012 г.

10.3791/4133-v

2 октября 2012 г.

9.6K просмотров

Топология адгезии клеток на подложке измеряется с нанометровой точностью переменным углом полного внутреннего отражения флуоресценции микроскопии (VA-TIRFM).

Больше видео

TIRFM

Chapters in this video

0:05

Title

1:40

Seeding and Incubation of Cells

2:47

VA-TIRFM

5:26

Data Analysis

6:45

Results: Calculation of Cell-substrate Distances in Glioblastoma Cells

8:32

Conclusion

Related Videos