Nanotopology клеточной адгезии по переменным углом полного внутреннего отражения микроскопия флуоресцентная (VA-TIRFM)

9.7K просмотров

Цитируется: 7

09:14 мин.

2 октября 2012 г.

10.3791/4133-v

2 октября 2012 г.

9.7K просмотров

Michael Wagner¹ , Petra Weber¹ , Harald Baumann¹ , Herbert Schneckenburger¹

¹Hochschule Aalen, Institut für Angewandte Forschung

Топология адгезии клеток на подложке измеряется с нанометровой точностью переменным углом полного внутреннего отражения флуоресценции микроскопии (VA-TIRFM).