От вокселей к знаниям: Практическое руководство по сегментации комплекс электронной микроскопии 3D-данных

25.1K просмотров

Цитируется: 14

12:08 мин.

13 августа 2014 г.

10.3791/51673-v

13 августа 2014 г.

25.1K просмотров

Wen-Ting Tsai¹ , Ahmed Hassan¹ , Purbasha Sarkar² , Joaquin Correa¹^,³ , Zoltan Metlagel¹ , Danielle M. Jorgens¹ , Manfred Auer¹^,²

¹Life Sciences Division, Lawrence Berkeley National Laboratory, ²Joint Bioenergy Institute, Physical Biosciences Division, Lawrence Berkeley National Laboratory, ³National Energy Research Scientific Computing Center, Lawrence Berkeley National Laboratory

Узким местом для сотовой 3D электронной микроскопии является выделение признаков (сегментация) в очень сложных карт плотности 3D. Мы разработали набор критериев, который обеспечивает руководство в отношении которых сегментация подход (ручной, полуавтоматический или автоматизированная) лучше всего подходит для разных типов данных, обеспечивая тем самым отправной точкой для эффективной сегментации.