Электрическое поле контроля электронных состояний в WS2 наноустройства, электролит стробирования
10.8K просмотров
•
Цитируется: 2
•
10:36 мин.
•
12 апреля 2018 г.
DOI :10.3791/56862-v
12 апреля 2018 г.
•10.8K просмотров
Feng Qin1 , Toshiya Ideue1 , Wu Shi2 , Yijin Zhang3,4 , Ryuji Suzuki1 , Masaro Yoshida5 , Yu Saito1 , Yoshihiro Iwasa1,5
1Quantum-Phase Electronics Center (QPEC) and Department of Applied Physics, The University of Tokyo, 2Materials Sciences Division, Lawrence Berkeley National Laboratory, 3Institute of Scientific and Industrial Research, Osaka University, 4Max Planck Institute for Solid State Research, 5RIKEN Center for Emergent Matter Science (CEMS)
Здесь мы представляем протокол управления номер перевозчика в твердых тел с помощью электролита.
Chapters in this video
0:04
Title
0:38
Dispersion of WS2 Nanotubes (NTs) on a Si/SiO2 Substrate
1:35
Application of WS2 Flakes to a Si/SiO2 Substrate with the Tape Method
2:28
Device Fabrication by Electron Beam Lithography
5:59
Electrode Deposition
7:17
Device Completion and Transport Measurements
8:31
Results: Transistor Operations of WS2 Nanotube and Flake Devices
9:56
Conclusion
Related Videos
© 2026 MyJoVE Corporation. Все права защищены.