Измерения жизни несущей в полупроводниках методом микроволновой фотопроводимости распада

36.8K просмотров

Цитируется: 17

07:38 мин.

18 апреля 2019 г.

10.3791/59007-v

18 апреля 2019 г.

36.8K просмотров

Takato Asada¹ , Yoshihito Ichikawa¹ , Masashi Kato¹^,²

¹Department of Electrical & Mechanical Engineering, Nagoya Institute of Technology, ²Frontier Research Institute for Material Science, Nagoya Institute of Technology

Как один из важных физических параметров в полупроводниках перевозчик жизни измеряется здесь через протокол, используя метод распада фотопроводимости Микроволновая печь.

Больше видео

Chapters in this video