Измерения жизни несущей в полупроводниках методом микроволновой фотопроводимости распада

36.8K просмотров

Процитировано: 17

07:38 мин

18 апреля 2019 г.

10.3791/59007-v

18 апреля 2019 г.

36.8K просмотров

Как один из важных физических параметров в полупроводниках перевозчик жизни измеряется здесь через протокол, используя метод распада фотопроводимости Микроволновая печь.

Больше видео

Chapters in this video

0:04

Title

0:49

Preparation of the Sample and Aqueous Solutions

1:44

Preparation of the Measuring Equipment

3:36

Measurement and Data Processing

5:47

Results: Normalized and Calculated μ-PCD Decay Curves for the n-type 4H-SIC Sample in Air and Aqueous Solutions

6:29

Conclusion

Related Videos