Подготовка наночастиц для анализа ToF-SIMS и XPS
13 сентября 2020 г.
11K просмотров
Представлен ряд различных процедур подготовки наночастиц для анализа поверхности (капельное литье, спиновое покрытие, осаждение из порошков и криофиксация). Мы обсуждаем проблемы, возможности и возможные применения каждого метода, особенно в отношении изменений свойств поверхности, вызванных различными методами приготовления.