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Methodenartikel

Rekombinationsdynamik in Dünnschicht-Photovoltaik-Materialien über zeitaufgelöste Mikrowellenleitfähigkeit

11.4K Aufrufe

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DOI:

10.3791/55232

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6. März 2017

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In diesem Artikel

Zusammenfassung

Eine zeitaufgelöste Mikrowellenleitfähigkeitstechnik zur Untersuchung der direkten und Fallen-vermittelten Rekombinationsdynamik und zur Bestimmung der Ladungsträgermobilitäten von Dünnschichthalbleitern wird hier vorgestellt.

Zusammenfassung

Ein Verfahren zur Rekombination Dynamik der photoinduzierten Ladungsträger in der Dünnschicht-Halbleitern zu untersuchen, insbesondere in der Photovoltaik-Materialien wie Organo-Bleihalogenide Perowskite vorgestellt. Die Perowskit-Schichtdicke und Absorptionskoeffizienten werden zunächst von Profilometrie und UV-VIS-Absorptionsspektroskopie charakterisiert. Kalibrieren von sowohl der Laserleistung und der Hohlraum Empfindlichkeit wird im Detail beschrieben. Ein Protokoll zum Durchführen einer Flash-Photolyse-Time Resolved Mikrowellen Conductivity (TRMC) Experimente, ein berührungsloses Verfahren, die Leitfähigkeit eines Materials zu bestimmen, wird präsentiert. Verfahren zur realen und imaginären Komponenten des komplexen Leitfähigkeit Identifizierung von TRMC als Funktion der Mikrowellenfrequenz durchführt wird, gegeben. Ladungsträgerdynamik unter unterschiedlichen Anregungsregime bestimmt (einschließlich Leistung und Wellenlänge). Techniken für die direkte und Trap-vermittelten Zerfallsprozessen zu unterscheiden werden vorgestellt und diskutiert.Ergebnisse sind modelliert und unter Bezugnahme auf eine allgemeine kinetischen Modell der photoinduzierten Ladungsträger in einem Halbleiter interpretiert. Die beschriebenen Techniken sind auf eine breite Palette von optoelektronischen Materialien, einschließlich organischer und anorganischer Photovoltaik-Materialien, Nanopartikel und leitende / Dünnschichten halb.

Einleitung

Blitz Photolyse zeitaufgelöste Mikrowellenleitfähigkeit (FP-TRMC) überwacht Dynamik des photoangeregten Ladungsträger auf der ns-us Zeitplan, es ein ideales Werkzeug für die Untersuchung machen Rekombinationsprozessen Ladungsträger. die Zerfallsmechanismen von photoinduzierten Ladungsträger in der Dünnschicht-Halbleiter zu verstehen, ist von zentraler Bedeutung in einer Reihe von Anwendungen, einschließlich Photovoltaik-Einrichtung Optimierung. Die induzierten Trägerlebensdauern sind oft Funktionen der induzierten Ladungsträgerdichte, Anregungswellenlänge, Mobilität, Fallendichte und -Auffangrate. Dieses Papier zeigt die Vielseitigkeit des Time Resolved Mikrowelle Le....

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Protokoll

1. Probenvorbereitung

Achtung: Einige Chemikalien in diesem Protokoll verwendet wird, kann gesundheitsgefährdend sein. Bitte konsultieren Sie alle relevanten Sicherheitsdatenblätter vor jeder Probenvorbereitung stattfindet. Nutzen Sie geeignete persönliche Schutzausrüstung (Laborkittel, Schutzbrille, Handschuhe, etc.) und technische Kontrollen (zB Glovebox, Dunstabzug, etc.) , wenn die Perowskit - Vorprodukte Handhabung und Lösungsmitteln.

ANMERKUNG: Das Ziel dieses Abschnitts ist es, eine gleichmäßige Dicke Dünnfilm auf dem Substrat zu bilden. Während dieses Verfahren zur organo-Bleih....

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Ergebnisse

Die repräsentativen hier vorgestellten Ergebnisse wurden aus einer 250 nm CH 3 NH 3 PbI 3 Dünnschichtprobe erhalten.

Die Dynamik der Leitfähigkeit figure-results-1 kann auf die Dynamik der Ladungsträger zusammenhängen figure-results-2 über

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Diskussion

Während die TRMC-Technik eine Fülle von Informationen über photoinduzierten Ladungsträgerdynamik bieten können, ist dies eine indirekte Messung von Leitfähigkeit und Pflege deshalb getragen werden muss, wenn die Ergebnisse zu interpretieren. Die TRMC-Technik misst totale Mobilität, und nicht verwendet werden kann zwischen Elektron und Loch Mobilitäten zu unterscheiden. Die zugrunde liegende Annahme , dass die Leitfähigkeit proportional ist in der reflektierten Leistung zu ändern , hält nur dann , wenn diese Änderung kle.......

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Offenlegungen

Die Autoren haben nichts offenzulegen.

Danksagungen

Die Danksagung erfolgt an den Australian Research Council (LE130100146, DP160103008). JAG wird durch einen Australian Postgraduate Award und DRM durch ein ARC Future Fellowship (FT130100214) unterstützt. Wir danken Nikos Kopidakis für hilfreiche Gespräche.

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Materialien

Liste der in diesem Artikel verwendeten Materialien
NameUnternehmenKatalognummerKommentare
Hellmanex III WaschmittelSigma Aldrich
www.sigmaaldrich.com/catalog/product/sial/z805939?lang=en®ion=AU
Z805939ätzend und giftig. Siehe Sicherheitsdatenblatt.
Blei(II)-iodid (99%)Sigma Aldrich
www.sigmaaldrich.com/catalog/product/aldrich/211168?lang=en®ion=AU
211168giftig. Siehe Sicherheitsdatenblatt.
Wasserfreies Dimethylformamid (99,8%)Sigma Aldrich
www.sigmaaldrich.com/catalog/product/sial/227056?lang=en®ion=AU
227056giftig. Siehe Sicherheitsdatenblatt.
Wasserfreies Dimethylsulfoxid (99,9%)Sigma Aldrich
www.sigmaaldrich.com/catalog/product/sial/276855?lang=en®ion=AU
276855giftig. Siehe Sicherheitsdatenblatt.
Wasserfreies 2-Propanol (99,5%)Sigma Aldrich
www.sigmaaldrich.com/catalog/product/sial/278475?lang=en®ion=AU&gclid=
COnlgPaw780CFQZvvAod17EA4Q
278475
MethylammoniumiodidDyesol
www.dyesol.com/products/dsc-materials/perovskite-precursors/methylammonium-iodide.html
MS101000Auch verkauft von Sigma Aldrich
Poly(methylmethacrylat)Sigma Aldrich445746
wasserfreies Chlorbenzol (99,8%)Sigma Aldrich
www.sigmaaldrich.com/catalog/product/aldrich/445746?lang=en®ion=AU
284513Toxic. Siehe Sicherheitsdatenblatt.
Ausrüstung<>UnternehmenModell<strong>Kommentare/Beschreibung
UV-VIS-NIR SpektralphotometerPerkin-Elmer Lambda 900
ProfilometerVeecoDektak 150
Vektor NetzwerkanalysatorKeysight
www.keysight.com/en/pdx-x201927-pn-N9918A/fieldfox-handheld-microwave-analyzer-265-ghz?cc=US&lc=eng
Fieldfox N9918A
Abstimmbarer WellenlängenlaserOpotek
www.opotek.com/product/opolette-355
Opolette 355
GraufilterThorlabs
www.thorlabs.hk/newgrouppage9.cfm?objectgroup_id=3193
NUK01
LeistungsmesserThorlabs
www.thorlabs.com/thorproduct.cfm?partnumber=PM100D
PM100D
LeistungsmesserThorlabs
www.thorlabs.com/thorproduct.cfm?partnumber=S401C
S401C
KavitätSonderanfertigungDer Hohlraum, der für dieses Experiment verwendet wurde, wurde im eigenen Haus entworfen und gebaut.

Referenzen

  1. Park, J., Reid, O. G., Blackburn, J. L., Rumbles, G. Photoinduced spontaneous free-carrier generation in semiconducting single-walled carbon nanotubes. Nat. Comm. 6 (8809), (2015).
  2. Dicker, G., de Haas, M. P., Siebbeles, L. D., Warman, J. M. Electrodeless time-resolved microwave conductivity study of charge-carrier photogeneration in regioregular pol....

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Nachdrucke und Genehmigungen

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